测量波形片波形量的分组量规制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量波形片波形量的分组量规，其特征是：该分组量规由撑杆、仪器基体及检验块组成，在仪器基体一端设置有撑杆，撑杆与仪器基体之间的倾斜度为50°—60°，检验块为一倒凹形的长方块，按波形量公差分组设置在仪器基体上。由于本实用新型专利技术的分组量规在把关合格率方面良好，且正确率高，精度高，同一组波形量的偏误差可控制在0.05mm之内，达到波形片的波形量分配合理、均匀的目的，解决在检测中波形量不均的问题，提高分组效率，且操作简单方便，大大减轻了员工的视觉疲劳。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及波形片的检测，具体是一种测量波形片波形量的分组量规。
技术介绍
波形片是一种波形曲面板，常用于汽车离合器中。原波形片分组是用百分表来分的，百分表接应杆对着波形片某一高度进行测量，合格则要，不合格则废，这种测量方法虽然能达到一定的效果，但效果不大，假如波形片的高度是一高一低时，用百分表来测量则测量不出来了，得到的结果要不是高，要不就是低，不能整体知道是否合格，只能知道局部合格，分组误差较大，这样质量控制就没有真正意义上的控制。而且测量时让人全力注视一个地方，时间久了就会使员工容易产生视觉疲劳，出现错误，比如分错组、看错表等，且会因检测时操作者用力的大小或视线的不同，使得波形片的波形量不一致，从而影响从动盘总成接合的平顺性，整车的舒适性，故操作起来较为复杂，对操作者要求较高。
技术实现思路
本技术的目的是为克服现有技术的不足，而提供一种操作简单、误差率低的测量波形片波形量的分组量规。实现本技术目的的技术方案如下一种测量波形片波形量的分组量规，包括撑杆、仪器基体及检验块，在仪器基体一端设置有撑杆，撑杆与仪器基体之间的倾斜度为50° —60°，检验块为一倒凹形的长方块， 按波形量公差分组设置在仪器基体上。使用时，波形片从仪器基体的顶部放进去，让波形片从顶部自由滑下来，通过检验块可以准确地控制波形片的误差，波形片在哪一组检验块下被卡住，该组检验块的公差值即为波形片的波形量；反之，波形片因高于检测块而被检测块挡住过不去的或是因波形片低于检测块的最低点自由滑落下去而没有被卡住的，即为不合格。本技术的优点是由于本技术的分组量规在把关合格率方面良好，且正确率高，精度高，同一组波形量的偏误差可控制在0. 05mm之内，达到波形片的波形量分配合理、均勻的目的，解决在检测中波形量不均的问题，提高分组效率，且操作简单方便，大大减轻了员工的视觉疲劳。附图说明图1为本技术分组量规的结构示意图。图中1.撑杆2.仪器基体3.检验块。具体实施方式如图1所示，本技术测量波形片波形量的分组量规，包括撑杆1、仪器基体2及检验块3，在仪器基体2 —端设置有撑杆1撑起仪器基体2的一头，撑杆1与仪器基体2之间的倾斜度为50° —60°，检验块3为一倒凹形的长方块，按波形量公差分为4组，第一组检验块的公差值高度为0. 92士0. 01，第二组的检验块的公差值高度为1. 04士0. 01，第三组的检验块的公差值高度为1. 14士0.01，第四组检验块的公差值高度为1. 士0.01，每一块的宽度为100 (这里以180产品的波形片来说明)，每隔一组距离拧紧在仪器基体2上连接为一体。权利要求1.一种测量波形片波形量的分组量规，其特征是该分组量规包括撑杆、仪器基体及检验块，在仪器基体一端设置有撑杆，撑杆与仪器基体之间的倾斜度为50° —60°，检验块按波形量公差分组设置在仪器基体上。2.根据权利要求1所述的分组量规，其特征是所述的检验块为一倒凹形的长方块。专利摘要本技术公开了一种测量波形片波形量的分组量规，其特征是该分组量规由撑杆、仪器基体及检验块组成，在仪器基体一端设置有撑杆，撑杆与仪器基体之间的倾斜度为50°—60°，检验块为一倒凹形的长方块，按波形量公差分组设置在仪器基体上。由于本技术的分组量规在把关合格率方面良好，且正确率高，精度高，同一组波形量的偏误差可控制在0.05mm之内，达到波形片的波形量分配合理、均匀的目的，解决在检测中波形量不均的问题，提高分组效率，且操作简单方便，大大减轻了员工的视觉疲劳。文档编号G01B5/04GK202024709SQ20112009776公开日2011年11月2日 申请日期2011年4月6日 优先权日2011年4月6日专利技术者梁广才 申请人:桂林福达股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测量波形片波形量的分组量规，其特征是：该分组量规包括撑杆、仪器基体及检验块，在仪器基体一端设置有撑杆，撑杆与仪器基体之间的倾斜度为５０°—６０°，检验块按波形量公差分组设置在仪器基体上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁广才，
申请(专利权)人：桂林福达股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：45