用于检测轴类内花键径向跳动值的检具制造技术

技术编号:38957064 阅读:14 留言:0更新日期:2023-09-28 09:14
本实用新型专利技术属于带内花键轴的测量装备领域,具体涉及一种用于检测轴类内花键径向跳动值的检具,包括工作台、千分表、偏移传动装置,工作台设有T形槽,工作台上安装有待测轴承载架和安装千分表的表台座,两个支撑架的底部分别与T形槽内的滑块相连;所述千分表安装在表台座顶部,所述偏移传动装置包括测量摆臂、复位簧,所述测量摆臂沿左右方向设置,两端头的外壁分别设有表杆触点和工件触点,工件触点位于支撑架的顶端的两个滚轮的中央,所述复位簧一端抵接测量摆臂,另一端抵接表台座,该检具以产品轴承档外圆为基准检测内花键径向跳动,具有结构简单,测量效率高的优点。测量效率高的优点。测量效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
用于检测轴类内花键径向跳动值的检具


[0001]本技术属于带内花键轴的测量装备领域,具体涉及一种用于检测轴类内花键径向跳动值的检具。

技术介绍

[0002]花键径向跳动是花键的关键参数之一,该参数反应了花键在径向的误差大小,对花键的传动精度有较大的影响,因此,测定参数径向跳动在花键生产和产品装配中是必不可少的。花键如果在轴的外壁,其径向跳动很容易测出,当花键处于轴的内孔时,该内花键径向跳动需要采用齿轮测量仪或内花键综合规来管控产品内花键的精度,齿轮测量仪检测时间较长(平均3

5min/件),内花键综合规无法检测出具体的径向跳动数值且无法满足图纸要求(图纸要求内花键径向跳动检测基准为产品轴承档外圆),不利于加工过程中内花键精度的管控,容易产生大量不良件。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种结构简单,测量效率高,能够快速判断内花键径向跳动是否合格的用于检测轴类产品内花键径向跳动值的检具。
[0004]实现上述目的的技术方案的内容包括如下内容。
[0005]一种用于检测轴类内花键径向跳动值的检具,包括工作台和千分表,所述千分表的表杆朝下竖向设置,还包括偏移传动装置,
[0006]所述工作台沿左右方向设有T形槽,T形槽内配套设有若干位置可控的滑块,工作台上安装有待测轴承载架和安装千分表的表台座,待测轴承载架和表台座沿左右方向间隔部署,
[0007]所述待测轴承载架包括沿左右方向间隔设置的两个支撑架,支撑架的顶端沿前后方向间隔设有两个滚轮,所述滚轮的转轴沿左右方向设置,两个支撑架的底部分别与T形槽内的滑块相连;
[0008]所述表台座的底部与T形槽内的滑块相连,所述千分表安装在表台座顶部,千分表的表杆穿插入表台座内部,
[0009]所述偏移传动装置包括测量摆臂、复位簧,所述测量摆臂沿左右方向设置,测量摆臂中部设有旋转轴,所述旋转轴沿前后方向设置并安装在表台座内,测量摆臂的两端头的外壁分别设有表杆触点和工件触点,表杆触点设置于测量摆臂的顶部,工件触点设置于测量摆臂的底部,工件触点位于支撑架的顶端的两个滚轮的中央,所述复位簧一端抵接测量摆臂,另一端抵接表台座,
[0010]测量时,内花键轴水平放置在待测轴承载架上,两个支撑架上的滚轮分别承托内花键轴两端的档外圆的底部,测量摆臂底部的工件触点抵接内花键轴的内花键上,表杆的底端头抵接测量摆臂顶部的表杆触点。
[0011]进一步,所述工作台的一端或两端设有限位挡板。限位挡板可对待测轴承载架和
表台座在T形槽内的行程进行限位,防止发生事故。
[0012]进一步,所述复位簧竖向设置,其上端抵接测量摆臂的底部,其下端与表台座相连。
[0013]进一步,所述复位簧位于表杆的正下方。
[0014]进一步,所述表台座通过L形撑杆与T形槽内的滑块相连,所述L形撑杆的上部设有第一竖向条孔,穿插在第一竖向条孔内的螺栓将表台座固定在L形撑杆上,L形撑杆的底部固定在T形槽内的滑块上。表头座在L形撑杆上的位置可调,便于调整表头座的高度,以适应不同尺寸的轴承。
[0015]进一步,所述待测轴承载架设置于表台座的左侧方,所述测量摆臂由上、下两根水平杆和连接两根水平杆的竖向杆组成,测量摆臂呈反Z形状,所述旋转轴设置于竖向杆的中部,表杆触点设置于上侧水平杆端头的顶部,工件触点设置于下侧水平杆端头的底部。反Z形状的测量摆臂可以方便部署表台座内其他部件,使得整个检具结构更加紧凑。
[0016]进一步,所述待测轴承载架设置于表台座的左侧方,表台座的左侧壁设有摆幅限位杆,所述摆幅限位杆竖向设置,摆幅限位杆下部沿左右方向设有限位通孔,测量摆臂从限位通孔内穿过,摆幅限位杆的上部设有第二竖向条孔,穿插在第二竖向条孔内的螺栓将摆幅限位杆固定在表台座的左侧壁上。限位通孔限定了测量摆臂的横向和纵向的摆幅,有利于保护旋转轴,保证检测的精度,通过调整摆幅限位杆的高度可以适应不同型号的轴承尺寸。
[0017]上述用于检测轴类内花键径向跳动值的检具使用时,先将内花键轴水平放置在两个支撑架的滚轮上,调整两个支撑架的间距,确保内花键轴两端的档外圆抵接在滚轮上,从而可以实现内花键轴绕其轴心的自由转动,保证了内花键径向跳动检测基准为产品轴承档外圆,调整表台座位置,使得测量摆臂底部的工件触点深入到内花键轴的中央孔内,调整表杆的高低位置,使表杆底端对测量摆臂上的表杆触点产生一定压力,并在复位簧的反作用下,测量摆臂保持平衡,并且工件触点抵接内花键表面,旋转内花键轴,一周内选取若干内花键进行取值,计算出千分表指针偏摆的范围,并根据工件触点到旋转轴的距离与表杆触点到旋转轴的距离比例折算为该轴实际内花键径向跳动值。
[0018]本技术利用测量摆臂将内花键顶面相对于轴承档外圆的间距的变化传递到千分表,实现对内花键径向跳动值的测量,具有结构简单,测量快捷的优点,本技术还可以通过调整两个支撑架的间距以适应不同尺寸的内花键轴的测量,具有一器多用的功能,能够节约成本,提高经济效益。
附图说明
[0019]图1为实施例的内花键径向跳动值的检具测量时的状态示意图;
[0020]图2为实施例的内花键径向跳动值的检具左侧视图。
[0021]1.工作台;1

1.滑块;2.千分表;2

1.表杆;3.表台座;3

1.摆幅限位杆;3
‑1‑
1.第二竖向条孔;3

2.L形撑杆;3
‑2‑
1.第一竖向条孔;4.待测轴承载架;4

1. 支撑架;4

2.滚轮;5.测量摆臂;5

1.表杆触点;5

2.工件触点;5

3.旋转轴;6.复位簧;7.待测轴。
具体实施方式
[0022]以下结合实施例对本技术进行具体的说明。
[0023]参见图1和图2,一种用于检测轴类内花键径向跳动值的检具,包括工作台1和千分表2,千分表2的表杆2

1朝下竖向设置,还包括偏移传动装置,
[0024]工作台1沿左右方向设有T形槽,T形槽内配套设有3个位置可控的滑块1

1,工作台1上安装有待测轴承载架4和安装千分表2的表台座3,待测轴承载架4设置于表台座3的左侧方;
[0025]待测轴承载架4包括沿左右方向间隔设置的两个支撑架4

1,支撑架4

1的顶端沿前后方向间隔设有两个滚轮4

2,滚轮4

2的转轴沿左右方向设置,两个支撑架4

1的底部分别与T形槽内的两个滑块相连;
[0026]表台座3通过L形撑杆3

2与T形槽内的一个滑块1

1相连,L形撑杆3

2的上部设有第一竖向条孔3本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测轴类内花键径向跳动值的检具,包括工作台和千分表,所述千分表的表杆朝下竖向设置,其特征在于,还包括偏移传动装置,所述工作台沿左右方向设有T形槽,T形槽内配套设有若干位置可控的滑块,工作台上安装有待测轴承载架和安装千分表的表台座,待测轴承载架和表台座沿左右方向间隔部署,所述待测轴承载架包括沿左右方向间隔设置的两个支撑架,支撑架的顶端沿前后方向间隔设有两个滚轮,所述滚轮的转轴沿左右方向设置,两个支撑架的底部分别与T形槽内的滑块相连;所述表台座的底部与T形槽内的滑块相连,所述千分表安装在表台座顶部,千分表的表杆穿插入表台座内部,所述偏移传动装置包括测量摆臂、复位簧,所述测量摆臂沿左右方向设置,测量摆臂中部设有旋转轴,所述旋转轴沿前后方向设置并安装在表台座内,测量摆臂的两端头的外壁分别设有表杆触点和工件触点,表杆触点设置于测量摆臂的顶部,工件触点设置于摆臂的底部,所述复位簧一端抵接测量摆臂,另一端抵接表台座,测量时,内花键轴水平放置在待测轴承载架上,两个支撑架上的滚轮分别承托内花键轴两端的档外圆的底部,测量摆臂底部的工件触点抵接内花键轴的内花键上,表杆的底端头抵接测量摆臂顶部的表杆触点。2.根据权利要求1所述的用于检测轴类内花键径向跳动值的检具,其特征在于,所述工作台的一...

【专利技术属性】
技术研发人员:倪垚黎宾徐泉黎安芯梁泽健林升垚
申请(专利权)人:桂林福达股份有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1