波形品质测量的方法与装置制造方法及图纸

揭示了一种用于波形品质测量的方法与装置。代表以时间与编码二者信道化波形的实际信号由诸如示例的ＨＤＲ通信系统产生。测试设备产生对应于实际波形的理想波形，然后产生实际波形与理想波形参数之间的偏差估值，并用偏差来补偿实际波形。然后，测试设备利用经补偿的实际波形品质测量来估计各种波形品质测量，还揭示了测试设备处理实际波形和相应理想波形的原理与实例。无论产生波形的设备如何，所揭示的方法与装置都可扩展到任何以时间与编码二者信道化的波形。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于确定波形品质测量的方法，其特征在于包括：提供多个理想信号与实际信号的参数偏差；用多个偏差补偿实际信号而产生经补偿的实际信号；对经补偿的实际信号进行滤波而产生经滤波的信号；把理想信号修改为对应于经滤波的 信号而产生经修改的信号；以及　按经修改的理想信号和经滤波的信号来确定波形品质测量。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：J蒙托约，N辛达沙雅纳，P布莱克，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]