【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量装置，属于圆盘类零件制造
技术介绍
目前多孔的圆盘测量较麻烦，有些采用专业的测量装置成本较高而且较重不易移动，有些则采用百分表进行逐一检验测试，不仅费时、费力，而且还不易分析出各孔的综合尺寸公差，直接影响工作质量和浪费资源。因此，为了提高圆盘位置的测量效率，降低工作强度，实现简易化操作，特对圆盘位置的测量装置进行改进。
技术实现思路
本专利技术的目的是设计一种多轴位一起测量圆盘位置的测量装置，以改进其测量效^ ο本专利技术包括圆盘测量基座、圆盘测量小支柱、圆盘测量大支柱、圆盘，其特征是将圆盘测量基座和8个圆盘测量小支柱、1个圆盘测量大支柱集成为一体，测量时只要将圆盘套入集成为一体的装置中，如果圆盘能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘质量不合格，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱为一体进行测量，达到轻松检测的目的。本专利技术设计了圆盘测量基座、8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测...
【技术保护点】
１．一种圆盘位置的测量装置，其特征在于：在圆盘测量基座（１）上设置有外径≤被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱（１１），在圆盘测量大支柱（１１）的外侧同心圆上设置有一个以上的外径≤被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱（１２）。
【技术特征摘要】
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