一种圆盘位置的测量装置涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量，属于圆盘类零件制造技术领域，本实用新型专利技术包括圆盘测量基座1、圆盘测量小支柱12、圆盘测量大支柱11、圆盘2，其特征是将圆盘测量基座1和8个圆盘测量小支柱12、1个圆盘测量大支柱11集成为一体，测量时只要将圆盘2套入集成为一体的装置中，如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘2质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘2质量不合格，该装置是集成了8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量，达到轻松检测的目的。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量装置，属于圆盘类零件制造
技术背景目前多孔的圆盘测量较麻烦，有些采用专业的测量装置成本较高而且较重不易移动，有些则采用百分表进行逐一检验测试不仅费时、费力，而且还不易分析出各孔的综合尺寸公差，直接影响工作质量和浪费资源。因此，为了提高圆盘位置的测量效率，降低工作强度，实现简易化操作，特对圆盘位置的测量装置进行改进
技术实现思路
本技术的目的是设计一种多轴位一起测量圆盘位置的测量装置，在圆盘测量基座1上设置有外径《被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱11，在圆盘测量大支柱11的外侧同心圆上设置有一个以上的外径 < 被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱12，一个以上的圆盘测量小支柱12有八个。本技术包括圆盘测量基座1、圆盘测量小支柱12、圆盘测量大支柱11、圆盘2， 其特征是将圆盘测量基座ι和8个圆盘测量小支柱12、1个圆盘测量大支柱11集成为一体， 测量时只要将圆盘2套入集成为一体的装置中，如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘2质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘2质量不合格，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量，达到轻松检测的目的。本技术设计了圆盘测量基座1、8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量， 上述零件均可通过采购和制作获得，且不增加任何其他的零件，因此该装置原理简单、外形简洁、零件加工容易、安装方便，既提高了工作效率，又降低了工作强度。附图说明图1为本技术的使用状态剖视图；图2为图1的俯视图；图3为被测量圆盘的主视图；图4为图3的俯视图；图5为本技术的主视图；图6为图5的俯视图。具体实施方式参照图1，图2、图3、图4、图5、图6，将圆盘测量基座1和1个圆盘测量大支柱11、8个圆盘测量小支柱12集成为一体，其中圆盘测量大支柱11的下端以紧配的方式与圆盘测量基座1连接，8个圆盘测量小支柱12的下端以紧配的方式与圆盘测量基座1连接，测量时只要将圆盘2套入集成为一体的圆盘测量基座1中，如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘2质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘2质量不合格，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量，达到轻松检测的目的。 在圆盘测量基座1上设置有外径<被测量的圆盘2的中心孔内径的圆盘测量大支柱11，在圆盘测量大支柱11的外侧同心圆上设置有一个以上的外径<被测量的圆盘2的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱12，圆盘测量基座1与圆盘测量大支柱11和圆盘测量小支柱12为一体式结构或圆盘测量大支柱11和圆盘测量小支柱12与基座上的对应安装孔过盈配合连接。权利要求1.一种圆盘位置的测量装置，其特征在于在圆盘测量基座(1)上设置有外径《被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱(11)，在圆盘测量大支柱(11)的外侧同心圆上设置有一个以上的外径《被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱(12)。2.根据权力要求1所述的一种圆盘位置的测量装置，其特征在于一个以上的圆盘测量小支柱(12)有八个。3.根据权力要求1所述的一种圆盘位置的测量装置，其特征在于圆盘测量基座(1) 与圆盘测量大支柱(11)和圆盘测量小支柱(1 为一体式结构或圆盘测量大支柱(11)和圆盘测量小支柱(1 与基座(1)上的对应安装孔过盈配合连接。专利摘要一种圆盘位置的测量装置涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量，属于圆盘类零件制造
，本技术包括圆盘测量基座1、圆盘测量小支柱12、圆盘测量大支柱11、圆盘2，其特征是将圆盘测量基座1和8个圆盘测量小支柱12、1个圆盘测量大支柱11集成为一体，测量时只要将圆盘2套入集成为一体的装置中，如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘2质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘2质量不合格，该装置是集成了8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量，达到轻松检测的目的。文档编号G01B5/16GK202048876SQ201120092970公开日2011年11月23日 申请日期2011年3月30日 优先权日2011年3月30日专利技术者邱玲燕 申请人:邱玲燕本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种圆盘位置的测量装置，其特征在于：在圆盘测量基座（１）上设置有外径≤被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱（１１），在圆盘测量大支柱（１１）的外侧同心圆上设置有一个以上的外径≤被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱（１２）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：邱玲燕，
申请(专利权)人：邱玲燕，
类型：实用新型
国别省市：33
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