当前位置: 首页 > 专利查询>邱玲燕专利>正文

一种圆盘位置的测量装置制造方法及图纸

技术编号:6871519 阅读:234 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种圆盘位置的测量装置涉及圆盘类零件的测量装置,具体涉及一种圆盘各孔位置的测量,属于圆盘类零件制造技术领域,本实用新型专利技术包括圆盘测量基座1、圆盘测量小支柱12、圆盘测量大支柱11、圆盘2,其特征是将圆盘测量基座1和8个圆盘测量小支柱12、1个圆盘测量大支柱11集成为一体,测量时只要将圆盘2套入集成为一体的装置中,如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中,则判定圆盘2质量合格,如果不能一次性套入装置中,则判定圆盘2质量不合格,该装置是集成了8个圆盘测量小支柱12和1个圆盘测量大支柱11为一体进行测量,达到轻松检测的目的。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及圆盘类零件的测量装置,具体涉及一种圆盘各孔位置的测量装置,属于圆盘类零件制造
技术背景目前多孔的圆盘测量较麻烦,有些采用专业的测量装置成本较高而且较重不易移动,有些则采用百分表进行逐一检验测试不仅费时、费力,而且还不易分析出各孔的综合尺寸公差,直接影响工作质量和浪费资源。因此,为了提高圆盘位置的测量效率,降低工作强度,实现简易化操作,特对圆盘位置的测量装置进行改进
技术实现思路
本技术的目的是设计一种多轴位一起测量圆盘位置的测量装置,在圆盘测量基座1上设置有外径《被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱11,在圆盘测量大支柱11的外侧同心圆上设置有一个以上的外径 < 被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱12,一个以上的圆盘测量小支柱12有八个。本技术包括圆盘测量基座1、圆盘测量小支柱12、圆盘测量大支柱11、圆盘2, 其特征是将圆盘测量基座ι和8个圆盘测量小支柱12、1个圆盘测量大支柱11集成为一体, 测量时只要将圆盘2套入集成为一体的装置中,如果圆盘2能够一次性顺利套入装置中,则判定圆盘2质量合格,如果不能一次性套入装置中,则判定圆盘2质量不合格,该本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆盘位置的测量装置,其特征在于:在圆盘测量基座(1)上设置有外径≤被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱(11),在圆盘测量大支柱(11)的外侧同心圆上设置有一个以上的外径≤被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱(12)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邱玲燕
申请(专利权)人:邱玲燕
类型:实用新型
国别省市:33

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1