全息记录装置制造方法及图纸

技术编号:6723603 阅读:151 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种全息记录装置(A1),包括:光源(1),发出激光;分光器(3),将来自所述光源(1)的激光分离成记录光(S)和参考光(R);空间光调制器(5),根据应记录的信息来调制记录光(S);记录光学系统,向全息记录介质(B)的预定部位照射被调制了的记录光(S);以及参考光学系统,在使相对于全息记录介质(B)的入射角变化的情况下照射参考光(R),以使参考光(R)在预定部位以各种角度与记录光(S)干涉;通过记录光(S)与参考光(R)的干涉而将全息图多重记录在预定部位,全息记录装置(A1)还包括:光量调节单元(8),根据相对于全息记录介质(B)的入射角来可变地调节从分光器(3)射出后的参考光(R)的光量,以使预定部位上的参考光(R)的照度成为预定的稳定水平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通过以所谓的角度多重记录方式使参考光和记录光干涉而将全息图 多重记录在全息记录介质上的全息记录装置
技术介绍
作为以往的全息记录装置,有专利文献1所公开的全息记录装置。在该文献所公 开的全息记录装置中,将来自光源的激光通过偏振分光器(polarizing beam splitter)分 离成记录光和参考光,在通过空间光调制器将一方的记录光调制之后,向全息记录介质的 预定部位照射。并且构成为在使相对于全息记录介质的入射角变化的情况下照射另一方 的参考光,以使其与记录光在上述预定部位以各种角度干涉。在光源与偏振分光器之间设置有使入射到偏振分光器之前的激光的偏振光状态 变化的1/2波片。当使参考光的入射角变化时,与之相应地使1/2波片旋转,由此能够改变 通过偏振分光器分离后的记录光的光量与参考光的光量之比。即,即使由于参考光的入射 角的变化而使预定部位上的参考光的照射面积发生变动,也可以将记录光与参考光的照度 之比保持为恒定(优选为1 1的比),由此能够在明暗的对比度为良好的状态下多重记录 全息图。专利文献1 日本专利文献特开2005-173361号公报。但是,在上述以往的全息记录装置中,仅考虑了将记录光与参考光的照度之比保 持为恒定。即,参考光的入射角越大参考光的照射面积越大,因此能够使1/2波片旋转,以 使得例如参考光的光量变大,但是在那样的情况下,与参考光的光量增加相反,记录光的光 量会减少。结果,虽然能够将照度之比保持为恒定,但是作为记录光和参考光合在一起的预 定部位中的照度本身,会随着参考光的入射角变大而变小。因此,记录全息图的能量按照每 个参考光的入射角而不同,因此存在无法以恒定的照度多重记录全息图的难点。
技术实现思路
本专利技术是在上述情况下作出的。本专利技术的目的在于提供一种能够以恒定的照度多 重记录全息图的全息记录装置。为了解决上述问题,本专利技术采用如下的技术手段。本专利技术的第一方面提供的一种全息记录装置,包括光源,发出激光;分光器,将 来自所述光源的激光分离成记录光和参考光;空间光调制器,根据应记录的信息来调制所 述记录光;记录光学系统,向全息记录介质的预定部位照射被调制了的所述记录光;以及 参考光学系统,在使相对于所述全息记录介质的入射角变化的情况下照射所述参考光,以 使所述参考光在所述预定部位以各种角度与所述记录光干涉;通过所述记录光与所述参考光的干涉而将全息图多重记录在所述预定部位,所述全息记录装置的特征在于,包括光量 调节单元,根据相对于所述全息记录介质的入射角来可变地调节从所述分光器射出后的所 述参考光的光量,以使所述预定部位上的所述参考光的照度成为预定的稳定水平。优选的是,所述分光器是偏振分光器,在该偏振分光器与所述空间光调制器之间 设置有使所述记录光产生预定的相位差的相位片。本专利技术的第二方面提供的一种全息记录装置,包括光源,发出激光;偏振分光 器,将来自该光源的激光分离成记录光和参考光;空间光调制器,根据应记录的信息来调制 所述记录光;相位片,在所述偏振分光器与所述空间光调制器之间使所述记录光产生预定 的相位差;记录光学系统,向全息记录介质的预定部位照射被调制了的所述记录光;以及 参考光学系统,在使相对于所述全息记录介质的入射角变化的情况下照射所述参考光,以 使所述参考光在所述预定部位以各种角度与所述记录光干涉;通过所述记录光与所述参考 光的干涉而将全息图多重记录在所述预定部位,所述全息记录装置的特征在于,包括调光 单元,根据相对于所述全息记录介质的入射角来可变地调节入射到所述偏振分光器之前的 所述激光的光量和相位,以使所述预定部位上的所述记录光和所述参考光的各自的照度成 为预定的稳定水平。优选的是,所述调光单元包括输出控制单元,控制所述光源的激光输出;以及相 位调节单元,使所述激光产生相位差并使该相位差变动。优选的是,所述调光单元包括光量调节单元,可变地调节所述激光的光量;以及 相位调节单元,使所述激光产生相位差并使该相位差变动。附图说明图1是表示应用了本专利技术的全息记录装置的第一实施方式的整体构成图;图2是用于说明图1所示的全息记录装置的光学作用的说明图;图3是表示应用了本专利技术的全息记录装置的第二实施方式的整体构成图;图4是用于说明图3所示的全息记录装置的光学作用的说明图;图5是表示应用了本专利技术的全息记录装置的第三实施方式的整体构成图;图6是用于说明图5所示的全息记录装置的光学作用的说明图。具体实施例方式以下,参照附图来具体地说明本专利技术的优选实施方式。图1和图2示出了应用了 本专利技术的全息记录装置的第一实施方式。如图1所示,全息记录装置Al针对全息记录介质B通过角度多重记录方式多重记 录全息图。该全息记录装置Al包括光源1、准直透镜2、偏振分光器(以下,称为“PBS”)3、 1/2波片4、空间光调制器5、固定反射镜6、物镜7、减光滤光器(光量调节单元)8、参考光 用的可动反射镜9以及控制部10。固定反射镜6和物镜7作为将记录光S引导至全息记录 介质B的记录光学系统而设置。可动反射镜9作为在使入射角相对于全息记录介质B变化 的情况下引导参考光R的参考光学系统而设置。按照记录光S与参考光R重叠的方式向全息记录介质B的预定部位照射记录光S 和参考光R,记录由干涉条纹构成的全息图。此时,通过使参考光R相对于全息记录介质B的入射角变化,而在预定部位多重记录根据记录光S与参考光R交叉的角度而不同的干涉 条纹图案的全息图。光源1例如由半导体激光元件构成,射出频带较窄且干涉性高的激光。准直透镜2 将光源1射出的激光转换为平行光。从准直透镜2射出的平行光通过PBS3而被分离为偏 振光方向不同的记录光S和参考光R。记录光S通过PBS3的分离而例如成为S偏振光,之 后通过透过1/2波片4而成为P偏振光。成为了 P偏振光的记录光S入射到空间光调制器 5中,通过该空间光调制器5而被调制成与应记录的信息相应的像素图案的光。经过了空间 光调制器5的记录光S经由固定反射镜6和物镜7照射到全息记录介质B的预定部位。记 录光S相对于全息记录介质B的入射角例如被设定为45°。参考光R通过PBS3的分离而例如成为P偏振光,之后入射到减光滤光器8。减光 滤光器8由ND过滤器或液晶元件和偏振片的组合构成,并构成为由控制部10进行旋转控 制。这样的减光滤光器8形成为减少参考光R的光量的比例根据旋转姿势而有所不同。经 过了减光滤光器8的参考光R按照经由可动反射镜9在全息记录介质B的预定部位与记录 光S重叠的方式照射。可动反射镜9被构成为由控制部10进行旋转控制。根据这样的可 动反射镜9,使预定部位上的参考光R的入射角例如在30° 60°的范围内变化(参照图 2)。在预定部位,P偏振光的记录光S与P偏振光的参考光R干涉,由此能够有效地光学记 录全息图。再生时与记录时相同,在使入射角变化的情况下向预定部位照射参考光R,将与 其相应地从预定部位产生的再生光用光电检测器等接收,由此再生作为全息图而记录的信 肩、ο下面,对全息记录装置Al的光学作用进行说明。作为一个例子,如图2所示,在记录时,光源1的激光输出(光量)为2. 4,记录光 S和参考光R被PBS3分离成1 1.4的光量比。记录光S以其相对于全息记录介质本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种全息记录装置,包括:光源,发出激光;偏振分光器,将来自该光源的激光分离成记录光和参考光;空间光调制器,根据应记录的信息来调制所述记录光;相位片,在所述偏振分光器与所述空间光调制器之间使所述记录光产生预定的相位差;记录光学系统,向全息记录介质的预定部位照射被调制了的所述记录光;以及参考光学系统,在使相对于所述全息记录介质的入射角变化的情况下照射所述参考光,以使所述参考光在所述预定部位以各种角度与所述记录光干涉;通过所述记录光与所述参考光的干涉而将全息图多重记录在所述预定部位,所述全息记录装置的特征在于,包括调光单元,根据相对于所述全息记录介质的入射角来可变地调节入射到所述偏振分光器之前的所述激光的光量和相位,以使所述预定部位上的所述记录光和所述参考光的各自的照度成为预定的稳定水平。

【技术特征摘要】
1.一种全息记录装置,包括光源,发出激光;偏振分光器,将来自该光源的激光分离 成记录光和参考光;空间光调制器,根据应记录的信息来调制所述记录光;相位片,在所述 偏振分光器与所述空间光调制器之间使所述记录光产生预定的相位差;记录光学系统,向 全息记录介质的预定部位照射被调制了的所述记录光;以及参考光学系统,在使相对于所 述全息记录介质的入射角变化的情况下照射所述参考光,以使所述参考光在所述预定部位 以各种角度与所述记录光干涉;通过所述记录光与所述参考光的干涉而将全息图多重记录 在所述预定部位,所述全息记录装...

【专利技术属性】
技术研发人员:岩村康正宇野和史手塚耕一吉川浩宁山影让
申请(专利权)人:富士通株式会社
类型:发明
国别省市:JP

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