发光二极管支架结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种发光二极管支架结构，包括：胶座，其内部具备一中空功能区；以及包覆于胶座中的两个以上的金属支架，金属支架的一端暴露于中空功能区，且金属支架的另一端则分别从胶座内部向外凸出并从胶座的底部水平延伸至胶座的外部两侧，其中位于胶座的外部两侧的金属支架的一断面具有中央突起的平坦部以供点亮测试，而断面的两侧具有一倒角结构部；以及平坦部的表面具有设置于其上的电镀金属。本实用新型专利技术利用在位于胶座外部两侧的金属支架的一断面上形成具有中央突起的平坦部，可改善点亮测试时的误判。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种发光二极管封装技术，特别是一种发光二极管支架结构。
技术介绍
由发光二极管(Light Emitting Diode,LED)半导体材料制成的发光组件，可将电 能转成光，其具有寿命长、体积小、驱动电压低等良好的电气与机械特性，故已被广泛应用 在日常生活的产品当中。而在发光二极管封装技术中，如何改善发光二极管支架结构以降 低成本是重要议题之一。如图IA及图IB所示，现有的一种发光二极管支架结构10，其金属支架20的外脚 切断面为齐平，由于切断面上所露出的金属支架20为铜材质，所以在做点亮测试时，测试 探针30与外脚切断面容易因接触不良造成误判，从而导致提高生产成本。
技术实现思路
本技术目的之一是提供一种发光二极管支架结构，利用在位于胶座外部两侧 的金属支架的断面上形成具有中央突起的平坦部，来改善点亮测试时误判情况的发生。为了达到上述目的，本技术的一种发光二极管支架结构包括一胶座，其内部 具备一中空功能区；以及被包覆于胶座中的两个以上的金属支架，该金属支架的一端暴露 于中空功能区，而金属支架的另一端则分别从胶座内部凸出并从胶座的底部水平延伸至胶 座的外部两侧。其中位于胶座的外部两侧的金属支架的断面具有中央突起的平坦部，以供 点亮测试，而断面的两侧具有倒角结构部。且平坦部的表面具有设置于其上的电镀金属。其中，每一个所述金属支架被弯折成一「型。其中，所述金属支架被设置成」一 一型。其中，其特征在于，所述金属支架由一金属片材所构成。其中，所述平坦部的表面的所述电镀金属不同于所述金属片材的材质。以下通过具体实施例配合附图详加说明，当更容易了解本技术的目的、技术 内容、特点及其所达成的功效。附图说明图IA与图IB为现有的发光二极管支架结构的示意图。图2A与图2B为本技术一实施例的发光二极管支架结构俯视图及其局部放大 图。图2C为图2A的侧视示意图。图3为本技术一实施例的示意图。图4为图2A的AA线段剖视图。主要组件符号说明10发光二极管支架结构203010011011211311412212312412512具体实施方式其详细说明如下，所述优选实施例仅做一说明并非用以限定本技术。首先，请先参考图2A至图2C，图2A及图2B为本技术一实施例的发光二极管 支架结构的俯视图及其局部放大示意图；图2C为图2A的侧视图。在本实施例中，发光二极 管支架结构100包括胶座110以及两个以上的金属支架122。如图2A所示，胶座110内部 具备中空功能区112。两个金属支架122被包覆于胶座110中，其中金属支架122的一端暴 露于中空功能区112，而金属支架122的另一端则分别从胶座110内部向外凸出并从胶座 110的底部113水平延伸至胶座110的外部两侧114。其中位于胶座110的外部两侧114 的金属支架122的断面IM具有中央突起的平坦部125，以供点亮测试，而断面124的两侧 具有倒角结构部127，如图2B的放大示意图所示。且平坦部125的表面具有设置于其上的 电镀金属。接续上述，请参考图3，图3为一实施例，说明发光二极管支架结构制造时的结构 示意图。如图所示，金属支架122由金属片材120冲压后所形成，其中每一金属支架122上 都具有位于金属支架122的外脚上的孔洞123。此外，金属片材120在冲压出金属支架122 以及孔洞123之后，会在金属片材120上形成一层电镀金属，例如银，以覆盖于金属支架122 与孔洞123的周边。之后，再以适当的方式，例如射出成型方式，在金属支架122上形成具 有中空功能区112的胶座110，如图3所示。接着，沿着图式中的虚线将金属支架122外脚 上位于孔洞123旁的连接处切开，以形成如图2A中的结构。此外，请搭配图2B及图3，金属 支架122的孔洞123两端被过切，以形成金属支架122的倒角结构部127，而被覆上电镀金 属的孔洞123周边则形成如图2B中的平坦部125。但可以理解的是，倒角结构部127也可 在金属片材120冲压形成孔洞123时一起形成。接续上述说明，请继续参考图2A及图2C，发光二极管支架结构100的平坦部125 的表面所覆盖的电镀金属不同于金属片材120的材质。一般来说，金属片材120的材质为 铜，容易造成测试探针误判，因此在用以与测试探针接触的平坦部125上形成一种材质如 银的电镀金属可以改善测试探针误判的情况。且如图2B所示，平坦部125从倒角结构部 127向外突出，以供点亮测试用，如此使用一般常用的测试头即可正常作业。金属支架 测试探针发光二极管支架结构 胶座中空功能区 底部外部两侧 金属支架 孔洞 断面 平坦部 倒角结构部本技术的发光二极管支架结构适用于底露式发光二极管支架，请参考图4，图 4为图2A的AA线段剖视示意图，在一实施例中，每一金属支架122弯折成」一型。此外，两 金属支架122设置成一型。根据上述，本技术的发光二极管支架结构，可沿用常用的测试探针做点亮测 试，且测试效果良好，可以有效降低因误判而产生的材料浪费。此外，本技术发光二极 管支架结构的工艺相当弹性，不增加工艺复杂度。综合上述，本技术的一种发光二极管支架结构，利用在位于胶座外部两侧的 金属支架的断面上形成具有中央突起的平坦部，可改善点亮测试时误判情况的发生。以上所述的实施例仅为说明本技术的技术思想及特点，其目的在使本领域技 术人员能够了解本技术的内容并据以实施，而不能以此限定本技术，即凡是依本 技术所公开的精神所作的均等变化或修饰，仍应涵盖在本技术的权利要求所限定 的范围内。权利要求1.一种发光二极管支架结构，包含一胶座，该胶座内部具备一中空功能区；以及两个以上的金属支架，包覆于所述胶座中，所述金属支架的一端暴露于所述中空功能 区，且所述金属支架的另一端则分别从所述胶座内部向外凸出并从所述胶座的底部水平延 伸至所述胶座的外部两侧，其特征在于位于所述胶座的外部两侧的所述金属支架的断面具有中央突起的平坦部以供点亮测 试，并且该断面的两侧具有倒角结构部；以及所述平坦部的表面具有设置于其上的电镀金属。2.如权利要求1所述的发光二极管支架结构，其特征在于，所述金属支架由一金属片 材所构成。3.如权利要求2所述的发光二极管支架结构，其特征在于，所述平坦部的表面的所述 电镀金属不同于所述金属片材的材质。专利摘要本技术涉及一种发光二极管支架结构，包括胶座，其内部具备一中空功能区；以及包覆于胶座中的两个以上的金属支架，金属支架的一端暴露于中空功能区，且金属支架的另一端则分别从胶座内部向外凸出并从胶座的底部水平延伸至胶座的外部两侧，其中位于胶座的外部两侧的金属支架的一断面具有中央突起的平坦部以供点亮测试，而断面的两侧具有一倒角结构部；以及平坦部的表面具有设置于其上的电镀金属。本技术利用在位于胶座外部两侧的金属支架的一断面上形成具有中央突起的平坦部，可改善点亮测试时的误判。文档编号H01L33/48GK201898149SQ20102056367公开日2011年7月13日 申请日期2010年10月13日 优先权日2010年10月13日专利技术者朱振丰, 朱金龙, 陈原富 申请人:复盛股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种发光二极管支架结构，包含：一胶座，该胶座内部具备一中空功能区；以及两个以上的金属支架，包覆于所述胶座中，所述金属支架的一端暴露于所述中空功能区，且所述金属支架的另一端则分别从所述胶座内部向外凸出并从所述胶座的底部水平延伸至所述胶座的外部两侧，其特征在于：位于所述胶座的外部两侧的所述金属支架的断面具有中央突起的平坦部以供点亮测试，并且该断面的两侧具有倒角结构部；以及所述平坦部的表面具有设置于其上的电镀金属。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱振丰，朱金龙，陈原富，
申请(专利权)人：复盛股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71