一种PCB快速阻抗测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种PCB快速阻抗测试系统，包括数据处理单元、第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪、SSR继电转换单元和测试插座，所述数据处理单元与第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪连接，第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪与SSR继电转换单元连接，SSR继电转换单元上设置有固态继电器，该固态继电器与测试插座连接。本系统将待测PCB插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，从而可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量，极大地提高了测试效率，同时测试插座上的弹性触点与待测PCB连接平稳且压力均衡，提高了测试精度、降低了压伤。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及PCB阻抗测试技术，特别涉及的是一种PCB快速阻抗测试系统。
技术介绍
随着现代电子电路速度的不断提高，高品质控制阻抗电路板的需求量持续增长。 高频信号和高速数字信号的传输对于电路板的电气测试不仅仅是通断的要求，更要达到特 性阻抗的匹配。阻抗测试是PCB行业中常见的一种功能性测试，目前通常采用的是阻抗测试仪对 PCB进行测量。阻抗测试仪包括数据处理电脑、TDR时域反射仪、连接电缆、测试探头等部 件。一般的阻抗板会在板边或板中间预留专用测试Coupon来等效板内转输线，以往的阻抗 测试是由电缆连接TDR时域反射仪与测试探头，测试探头与PCB中的Coupon的信号与参照 触点分别相连进行测量。目前有一种实际传输线为测试Coupon的PCB产品，在极小的尺寸内存在大量有阻 抗要求的传输线。对这种PCB产品进行阻抗测试时，由于普通的TDR时域反射的测试通道 数量较少，如果按传统测试方法测量PCB的差分阻抗，每次最多只能测试一个阻抗Coupon， 需要利用探头逐个测试，不仅生产效率极其低下，而且因测试探针的尖头频繁接触会对其 产生压伤、静电等不良影响。
技术实现思路
为解决极小的尺寸内存在大量阻抗要求传输线的PCB产品的测试要求，避免PCB 产品的测试效率低下，以及容易产生压伤、静电的问题，本技术的目的在于提供一种 PCB快速阻抗测试系统。为实现上述目的，本技术主要采用以下技术方案一种PCB快速阻抗测试系统，包括数据处理单元(1)、第一 TDR时域反射仪O)、第 二 TDR时域反射仪(3)、SSR继电转换单元(4)和测试插座(5)，所述数据处理单元(1)与第 一 TDR时域反射仪(2)、第二 TDR时域反射仪(3)连接，第一 TDR时域反射仪(2)、第二 TDR 时域反射仪(3)与SSR继电转换单元(4)连接，SSR继电转换单元(4)上设置有固态继电 器001)，该固态继电器001)与测试插座(5)连接。其中所述SSR继电转换单元(4)上还设置有多个与固态继电器(401)对应连接的 电缆插孔002)，该电缆插孔(402)通过电缆(6)与第一 TDR时域反射仪O)、第二 TDR时 域反射仪C3)连接。其中所述测试插座(5)中设置有弹性触头。本技术由数据处理单元连接第一、第二 TDR时域反射仪来实现每次测量并记 录多个差分阻抗值，由SSR继电转换单元实现阻抗测试端口之间的切换，测试插座通过弹 性触头将测试Coupon与测试端口相连。当进行阻抗测试时，将待测PCB插入测试插座，弹 性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，如此可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量，极大地 提高了测试效率，又因为测试插座上的弹性触点，连接平稳且压力均衡，因此提高了测试精 度、降低压伤等。与现有技术相比，本技术不仅极大的提高生产效率，而且改善了由测 试探头产生的不良影响。附图说明图1为本技术系统连接示意图。图中标识说明数据处理单元1、第一 TDR时域反射仪2、第二 TDR时域反射仪3、 SSR继电转换单元4、固态继电器401、电缆插孔402、测试插座5、电缆6。具体实施方式本技术的核心思想是数据处理单元连接第一、第二 TDR时域反射仪，以实 现每次测量并记录多个差分阻抗值，同时SSR继电转换单元可实现阻抗测试端口之间的切 换，测试插座通过弹性触头将测试Coupon与测试端口相连。当进行阻抗测试时，将待测PCB 插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控 制电路变换即可实现测试端口间的变换，如此可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐 一测量。为阐述本技术的思想及目的，下面将结合附图和具体实施例对本技术做 进一步的说明。请参见图1所示，图1为本技术系统连接示意图。本技术提供的是一种 PCB快速阻抗测试系统，该系统主要用于极小的尺寸内存在大量有阻抗要求传输线的PCB 产品中，以避免传统测试方法每次最多只能测试一个阻抗Coupon，生产效率低下，以及测试 探针的尖头频繁接触会对PCB产品产生压伤、静电的不良影响。其中本系统包括有包括数据处理单元1、第一 TDR时域反射仪2、第二 TDR时域反 射仪3、SSR继电转换单元4、测试插座5和电缆6，所述数据处理单元1为数据处理电脑，它 与多个TDR时域反射仪连接，本实施例中以两个为例，即与第一 TDR时域反射仪2、第二 TDR 时域反射仪3连接。第一 TDR时域反射仪2、第二 TDR时域反射仪3分别通过电缆6与SSR继电转换单 元4连接，SSR继电转换单元4上设置有电缆插孔402和固态继电器401，上述TDR时域反 射仪通过电缆6对应插入到电缆插孔402中，这些电缆插孔402通过SSR继电转换单元的 内部输入控制电路与上述固态继电器401连接。固态继电器401对应与测试插座5连接，测试插座5上设置有弹性触头，这些弹性 触头的接触点与待检测的PCB产品连接，通过弹性触头可将PCB测试Coupon与测试插座 5的测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变 换，从而可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量。以上是对本技术所提供的一种PCB快速阻抗测试系统进行了详细的介绍，本 文中应用了具体个例对本技术的结构原理及实施方式进行了阐述，以上实施例只是用 于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实 用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。权利要求1.一种PCB快速阻抗测试系统，其特征在于包括数据处理单元(1)、第一 TDR时域反 射仪(2)、第二 TDR时域反射仪(3)、SSR继电转换单元(4)和测试插座(5)，所述数据处理 单元(1)与第一 TDR时域反射仪(2)、第二 TDR时域反射仪(3)连接，第一 TDR时域反射仪 (2)、第二 TDR时域反射仪(3)与SSR继电转换单元(4)连接，SSR继电转换单元(4)上设 置有固态继电器(401)，该固态继电器(401)与测试插座(5)连接。2.根据权利要求1所述的PCB快速阻抗测试系统，其特征在于所述SSR继电转换单元 (4)上还设置有多个与固态继电器(401)对应连接的电缆插孔(402)，该电缆插孔(402)通 过电缆(6)与第一 TDR时域反射仪(2)、第二 TDR时域反射仪(3)连接。3.根据权利要求1所述的PCB快速阻抗测试系统，其特征在于所述测试插座(5)中设 置有弹性触头。专利摘要本技术公开了一种PCB快速阻抗测试系统，包括数据处理单元、第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪、SSR继电转换单元和测试插座，所述数据处理单元与第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪连接，第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪与SSR继电转换单元连接，SSR继电转换单元上设置有固态继电器，该固态继电器与测试插座连接。本系统将待测PCB插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＰＣＢ快速阻抗测试系统，其特征在于包括数据处理单元（１）、第一ＴＤＲ时域反射仪（２）、第二ＴＤＲ时域反射仪（３）、ＳＳＲ继电转换单元（４）和测试插座（５），所述数据处理单元（１）与第一ＴＤＲ时域反射仪（２）、第二ＴＤＲ时域反射仪（３）连接，第一ＴＤＲ时域反射仪（２）、第二ＴＤＲ时域反射仪（３）与ＳＳＲ继电转换单元（４）连接，ＳＳＲ继电转换单元（４）上设置有固态继电器（４０１），该固态继电器（４０１）与测试插座（５）连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何春，
申请(专利权)人：深圳市深联电路有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94