测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。本发明专利技术还提供一种利用该测试装置的测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试技术，尤其涉及一种对多个元件的防电磁干扰涂层的电阻进行快速测试 的。
技术介绍
随着摄像技术的发展，镜头模组在各种用途的摄像装置中得到广泛的应用，镜头模组与 各种便携式电子装置如手机、计算机等的结合，更得到众多消费者的青睐。然而，随着便携式电子装置朝着功能多样化的方向发展，其元件也变得越来越复杂，且 所述元件大多需通电才能工作，这导致所述便携式电子装置很容易因为电磁干扰而影响其正 常工作。镜头模组通常作为摄像装置的元件而广泛地应用于便携式电子装置中，其一般包括镜片 、镜座、滤光片及影像感测器等。镜片的设计方法请参阅Min-Kang Chao等人在IEEE超声波 会议(2000 IEEE Ultrasonics Symposium)上发表的论文Aspheric Lens Design。 为了降低 影像感测器受电磁干扰的程度， 一般还需于镜座的表面涂上一层防电磁干扰(Electro Magnetic Interference, EMI)涂层。当镜座的表面涂上防电磁干扰涂层后，需要测量该涂层的电阻是否符合要求。现有技术 中，通常采用抽样检验的方法对批量生产的镜座进行检验。且在抽取样品后，以人工操作静 电计的方式测量涂层的电阻值。但是，由于人为因素，静电计的探针与镜座涂层间的接触力 大小与位置不确定，造成较大的测试误差。另外，在探针与镜座涂层直接接触进行测试过程 中，探针可能会刮伤镜座涂层，导致涂层的防电磁干扰效果不佳。而且，这种测试方法需要 较多的人工处理时间，测试效率较低。因此，有必要提供一种能快速准确测试镜座表面防电磁干扰涂层电阻的测试装置及测试 方法。
技术实现思路
下面将以具体实施例说明一种能准确快捷测试的。 一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与 电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔 用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和 阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。一种测试方法，包括步骤提供如上所述的测试装置；将多个待测试元件分别放置于测 试装置的多个收容孔；利用电阻计测量测试装置和多个测试元件的防电磁干扰涂层的总电阻 ;判断该多个元件是否合格。相对于现有技术，本技术方案所采用的具有如下优点首先，其可 利用多个收容孔收容多个元件进行测试，大大提高了测试的效率；其次，其利用电阻计与测 试装置的阳极测试接点与阴极测试接点的导电介质接触压紧进行测试，可更好地控制接触力 量与测试位置，提高测试的准确率；再次，所述电阻计不用直接压紧于元件的防电磁干扰涂 层即可对其电阻进行测试，避免电阻计在测试过程中刮伤元件的防电磁干扰涂层。附图说明图l是本技术方案第一实施例提供的测试装置的示意图。图2是本技术方案提供的待测试镜座的结构示意图。图3是本技术方案第二实施例提供的测试装置的示意图。图4是本技术方案第三实施例提供的测试装置的示意图。具体实施例方式下面将结合多个实施例和附图对本技术方案的作进一步详细说明。 本技术方案的可用于测试各种元件的防电磁干扰涂层的电阻。请一并参阅图1及图2，本技术方案第一实施例提供的测试装置100，用于同时测试多个 元件的防电磁干扰涂层的电阻。本实施例中，所述元件为镜座200，镜座200包括底座210和 收容部220。所述底座210为长方体形，其具有四个侧面211、 一个上表面212以及一个与上表 面212相对的下表面213。所述收容部220设置于所述上表面212，收容部220具有环形的侧壁 222，环形的侧壁222围合形成圆孔221，以收容镜筒。其中，所述四个侧面211、上表面212 与侧壁222上均涂布有防电磁干扰涂层。所述测试装置100包括承载基板10与电阻计20。所述承载基板10具有多个收容孔102、阳极测试接点104、阴极测试接点106以及导电介 质108。所述承载基板10具有第一表面12以及与第一表面12相对的第二表面14。本实施例中，所 述第一表面12与第二表面14均为长方形。所述承载基板10自第一表面12向内垂直开设多个收 容孔102。所述收容孔102不贯穿所述第二表面14。所述收容孔102的形状大小与待测试镜座200的收容部220相对应，以可收容所述收容部220。所述多个收容孔102的排布方式不限，本 实施例中，所述多个收容孔102在承载基板10上成矩阵排布。所述承载基板10由绝缘材料制 作而成，其为绝缘体。本实施例中，所述导电介质108为层状，其遍布于除去所述多个收容孔102以外的整个第 一表面12。所述导电介质108用于连接所述阳极测试接点104、多个收容孔102以及阴极测试 接点106。并且，所述导电介质108的材质与所述镜座200的防电磁干扰涂层的材质相同，其 可为铜、不锈钢或铬等。所述阳极测试接点104与阴极测试接点106沿所述第一表面12的对角线相对设置于导电介 质108。所述阳极测试接点104与阴极测试接点106既可为两个测试记号，也可为两个凹穴。 优选地，所述阳极测试接点104与阴极测试接点106为两个开设于层状导电介质l08内的凹穴 ，以可与电阻计20实现稳定的电连接。所述电阻计20用于测试镜座200的防电磁干扰涂层的电阻。所述电阻计20具有阳极引线 21与阴极引线22。所述阳极引线21与阳极测试接点104接触压紧，所述阴极引线22与第二测 试装置l06接触压紧，从而使得电阻计20可以获得阳极测试接点104与阴极测试接点106之间 的电阻。采用本技术方案第一实施例所示的测试装置100测试多个如图2所示的镜座200的防电磁 干扰涂层的电阻时，可采用如下步骤第一步，提供如上所述的测试装置ioo。第二步，利用电阻计20测量测试装置1 OO本身的内电阻Ro。将电阻计20的阳极引线21与阴极引线22分别与所述阳极测试接点104与阴极测试接点 106接触压紧，使其与导电介质108接触，以可测量得到导电介质108的电阻，即测试装置IOO 本身的内电阻Ro。第三步，将多个待测试元件分别放置于测试装置100的多个收容孔102。 本实施例中，依次使镜座200的收容部220与收容孔102相对，将镜座200放置于测试装置 100，所述收容部220收容于收容孔102内。第四步，利用电阻计20测量测试装置1 OO和多个待测试元件的防电磁干扰涂层的总电阻本实施例中，将电阻计20的阳极引线21与阴极引线22分别与所述测试装置100的阳极测 试接点104与阴极测试接点106接触压紧。从而，电阻计20可测量测试装置100的导电介质 108与多个镜座200的防电磁干扰涂层的总电阻I^ 。6第五步，判断所述多个元件是否合格。由于生产得到的每批镜座200的防电磁干扰涂层的质量一致，其防电磁干扰涂层的电阻 一致， 一般不会出现个别不合格现象的产生，而仅会出现批次不合格现象的产生。因此，可 先获得测试装置100的导电介质108与合格的镜座200的防电磁干扰涂层的标准总电阻R2，然 后将测量得到的总电阻Rl与标准总电阻R2进行比较，即可判断该批镜座200本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，其特征在于，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，其特征在于，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。2 如权利要求l所述的测试装置，其特征在于，所述承载基板具有 第一表面，所述收容孔自第一表面向承载基板内开设，所述导电介质涂布于整个第一表面。3 如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述导电介质的材 质与防电磁干扰涂层的材质相同。4 如权利要求l所述的测试装置，其特征在于，所述导电介质包括 多个导电条，所述多个导电条串联所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点。5 如权利要求4所述的测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：王仲培，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]