基于大尺寸线阵CCD激光位移检测装置制造方法及图纸

技术编号:6647545 阅读:322 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术提供一种基于大尺寸线阵CCD激光位移检测装置,主要解决了现有技术易受检测环境和人为因素影响,检测可靠性低,使用灵活性差,无法远程监控的问题。该基于大尺寸线阵CCD激光位移检测装置是由激光扫平装置、多个CCD检测单元、手持PDA单元、支撑脚架组成,利用远距离水平激光光束的稳定性提供可靠准确的基准,采用无线传输技术增加使用仪器的灵活和便捷,克服了人为因素的影响,增强了适应苛刻工作条件的能力。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种地表沉降变形测量的大尺寸线阵CCD激光位移装置,属于激光光电测量

技术介绍
在变形测量中,大地测量方法是一种最直观的方法,主要用于地表的变形测量。所谓沉降观测,就是定期地测量变形量工作点的高程变化情况,根据各点的高差变化,计算地表的沉降量。目前常用水准测量方法进行沉降变形测量,但这种方法由于仪器操作复杂,受人为因素影响极大,经验不足者常导致测量精度不够,而且每次只可对一个测点进行测量;人眼读数,手工记录,效率很低,即使经验丰富、技术熟练的工作人员,进行这样的测量也是十分繁杂的工作。而且,这种人工测量的方法受天气条件的影响很大,耗时长,不易过多取样从而得到更详细的沉降数据。最近的一项专利技术为“差动式光纤Bragg光栅沉降仪”,该专利为中华人民共和国知识产权局认证,专利号为=ZL 200620019599.4。但差动式光纤Bragg光栅沉降仪具有以下缺点1、测量基准与待测点相近(距离为1 2m量级),会受到待测点环境变化的影响; 2、上述技术不易实现更多的采样测量点同时检测;3、每一测量点都需要至少2根光纤连接至光纤光栅分析仪,对使用环境有一定的局限。专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于大尺寸线阵CCD激光位移检测装置,包括设置于支撑平台上的激光扫平装置,其特征在于:还包括接收数据终端和至少一个安装在支撑座架上的CCD检测单元;所述CCD检测单元分别设置于不同的检测位点,CCD检测单元上设置有用于将检测数据传输至接收数据终端的数据传输模块;所述CCD检测单元距离激光扫平装置之间的距离为0~20米。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李华常何民朱辉
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:实用新型
国别省市:87

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