【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于X射线成像设备的探测器的处理电子器件以及用于根据X射线成 像设备的探测器中的探测器元件确定计数结果的方法、计算机程序、数据载体、用于探测器 的探测器元件、X射线成像设备以及用于X射线成像设备的探测器。
技术介绍
当要生成对象内部的三维图像时，计算机断层摄影(CT，也被称为计算断层摄影) 已经发展成常用手段。基于围绕单个旋转轴获取的大量二维X射线图像生成三维图像。尽 管CT最常用于人体的医学诊断，其还被发现可用于无损材料测试。关于CT的基础和应用 的详细信息可以在 Willi A. Kalender 的 “Computed Tomography (ISBN 3-89578-216-5) 一书中找到。未来的CT和X射线成像中的一个关键革新方面为对光子的能量分辨计数，当被分 析的对象曝露于X射线辐射时，允许这些光子穿过或者透射过该对象。根据所透射过的光 子所具有的数量和能量，在切片图像重建步骤之后，可以推断出X射线束穿过了哪种类型 的材料。特别地，这允许识别人体中的不同部分、组织和材料。当提到对光子的探测和计数时，应该理解，当光子撞击传感器的转换材料...
【技术保护点】
１．一种用于Ｘ射线成像设备（１４）的探测器（１２）的处理电子器件（１８），所述处理电子器件（１８）包括具有至少一个计数输出（３０）的脉冲计数器部分（２２）以及具有强度输出（３２）的积分器部分（２４），其中，所述处理电子器件（１８）适于以这样的方式连接到传感器（１６），使得由所述脉冲计数器部分（２２）、由所述积分器部分（２４）或者由这两者对到达所述传感器（１６）的Ｘ射线光子（５８）进行处理，并且其中，所述处理电子器件（１８）包括处理器（３４），所述处理器（３４）适于连接到所述计数输出（３０）以及连接到所述强度输出（３２），并且适于输出考虑了在所述计数输出（３０）获取的计数信息...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2007.09.27 EP 07117322.31.一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18)，所述处理电 子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分0 以及具有强度输出 (32)的积分器部分(M)，其中，所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器 (16)，使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分04)或者由这两者对到达所述 传感器(16)的X射线光子(5 进行处理，并且其中，所述处理电子器件(1 包括处理器 (34)，所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32)，并 且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(3 获取 的强度信息(I)的计数结果(K)，从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分 (22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分04)获取的信息(M)。2.根据权利要求1所述的处理电子器件，其中，所述第一信号06)与所述第二信号 (28)相同。3.根据权利要求1所述的处理电子器件，其中，所述处理器(34)适于通过对所述计数 信息(N)相对于所述另一计数信息(M)进行加权来获取所述计数结果(K)。4.根据权利要求3所述的处理电子器件，其中，所述处理器(34)适于通过如下方式执 行加权-用第一权重(W1)乘以所述计数信息(N)；-用第二权重(W2)乘以所述另一计数信息(M)；-将相乘得到的乘积相加。5.根据权利要求4所述的处理电子器件，其中，所述处理器(34)适于在降低的计数值 和降低的强度值的情况中的至少一个出现时增加所述第一权重(W1)，和/或在增加的计数 值和增加的强度值的情况中的至少一个出现时降低所述第一权重(W1)。6.根据权利要求4所述的处理电子器件，其中，所述处理器(34)适于将所述第二权重 (w2)计算为数值1和所述第一权重(W1)之间的差。7.根据权利要求4所述的处理电子器件，其中，所述处理器(34)适于将所述第一权重 (W1)作为函数⑴的值得出，所述函数⑴接收来自包括计数信息(N)、强度信息(I)、另一 计数信息(M)以及初始强度值(...
【专利技术属性】
技术研发人员：C·博伊默，G·蔡特勒，K·J·恩格尔，C·赫尔曼，R·斯特德曼布克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL
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