整片ＯＬＥＤ基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法技术

本发明专利技术公开了一种整片ＯＬＥＤ基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤：１）喷码；２）大片屏老化、电测；３）切割、裂片；４）邦定、贴片、点胶；５）模组老化、测试；６）喷码、包装。整片基板点亮老化时，每个单粒的屏可以独立点亮老化。通过电路控制，除了全屏点亮外，还可以单独点亮阴极单线或双线，也可以单独点亮阳极单线或双线，从而检查是否有串笔问题。该方法解决了现有技术ＯＬＥＤ模组生产过程中存在的问题，可以在整片ＯＬＥＤ基板点亮老化同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率，还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及OLED显示器的制造工艺，具体涉及一种整片OLED基板玻璃点亮老化 时检查串笔的走线方法。
技术介绍
整片OLED基板点亮老化时，使用在后盖打孔和用金属探针连接的方式，按照现有 的整片OLED基板点亮老化的方法，如图1所示，1)喷码；2)大片屏老化；3)切割、裂片；4) 控制板电测；5)邦定、贴片、点胶；6)模组老化、测试；7)喷码、包装。该方法先进行只能全 屏点亮，不能检查串笔的问题；在老化完成后，还需要用导电胶条直接接触单粒屏的引脚， 单独点亮每粒屏，来检查串笔，容易污染引脚而导致引脚腐蚀问题，而且还多了一个工序。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法， 该方法解决了现有技术OLED模组生产过程中存在的问题，能够在整片OLED基板点亮老化 同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率；还能够减少对引脚的污染，提高产品的质量。本专利技术的目的是通过下述技术方案来实现的，一种整片OLED基板玻璃点亮老化 时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴 极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；这样切割裂片后就不需要再做单粒屏的 电测老化，就不需要用导电胶条直接接触到单粒屏的引线，从而减少了对单粒屏引线的污 染造成的腐蚀问题，提高了产品的质量。3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成 一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴 片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组 做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组 包装好并真空密封。本专利技术方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极 双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极 单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；②检查阴极单线串笔将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；③检查阴极双线串笔将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；④检查阳极单线串笔将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；⑤检查阳极双线串笔将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。所述全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的引 脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老 化。所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双 线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。本专利技术的有益效果是，减少了 OLED模组生产过程中的一个流程(参见图1、图2)， 提高了生产效率；由于旧流程中的“屏电测”容易污染引脚，而本专利技术的流程去掉了 “屏电 测”的过程。因此，本专利技术还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。附图说明图1是现有技术的OLED模组生产流程图； 图2是本专利技术OLED模组生产流程图。具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行详细说明。如图2所示，该整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法包括下述步 骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴 极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成 一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴 片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组 做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组 包装好并真空密封。本专利技术方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极 双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极 单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；②检查阴极单线串笔将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；③检查阴极双线串笔将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；④检查阳极单线串笔将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；⑤检查阳极双线串笔将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。进一步地，全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏 的引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮 老化。所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双 线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。当金属探针和每个短路块都连接上后，通过外置电路的控制，可以实现全屏点亮， 本专利技术的特点在于可以实现单独点亮阴极的单线或双线、阳极的单线或双线，从而可以在 整片OLED基板玻璃点亮老化时，检查串笔的问题。当点亮老化完成后，在切割成单粒的屏时，可以将短路块和多余的老化辅助线切掉。本文档来自技高网...

【技术保护点】
整片ＯＬＥＤ基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，该方法包括下述步骤：１）喷码：利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；２）大片屏老化、电测：利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；３）切割、裂片：利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；４）邦定、贴片、点胶：利用邦定机，将ＩＣ邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；５）模组老化、测试：利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；６）喷码、包装：利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。

【技术特征摘要】
整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，该方法包括下述步骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。2.根据权利要求1所述的一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其 特征在于，所述步骤2)将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极双线4种线，分别 各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极单 线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁养社，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：61[中国|陕西]