【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测液晶显示器面板、等离子显示器面板等显示面板的缺陷像素 的地址的缺陷像素地址检测方法以及检测装置。
技术介绍
对于液晶显示器面板等显示面板，通常在单元步骤的最终检查中进行使面板实际 点亮来调查有无缺陷像素的点亮检查。点亮检查通过对连接于作为检查对象的显示面板的 像素的信号线从外部供给信号来进行，但该信号的供给方式大致可分为全接触方式和短路 棒方式两个种类。全接触方式是使检查探针以一对一对应的方式与各对应于有源矩阵基板的X、Y 信号线的电极接触并使显示面板点亮的方式，因为可以使各个像素分别点亮，因此原则上 能够对缺陷像素的地址进行确定。但是，要通过全接触方式实际确定缺陷像素的地址，需要 利用信号发生器进行检查对象面板的点亮控制并算出地址，因为具有地址算出功能的信号 发生器一般价格较高，因此通过全接触方式检测缺陷像素的地址，具有装置价格高的缺点。另一方面，短路棒方式是连接多个信号线的电极进行共通化，一下子对多个像素 供给信号并使其一并点亮的方式，因此，即便发现缺陷像素，确定该缺陷像素的地址通常还 是非常困难的。为了解决短路棒方式中的上述缺点，例如...
【技术保护点】
一种缺陷像素地址检测方法，其对由多个像素构成的显示面板的缺陷像素的地址进行检测，其特征在于，包括以下步骤：（ａ）将作为检查对象的显示面板放置于检查部，使其点亮的步骤；（ｂ）对点亮了的显示面板有无缺陷像素进行检查的步骤；（ｃ）在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动以对缺陷像素进行拍摄，并在被拍摄的图像上确定缺陷像素的位置的步骤；（ｄ）根据与被确定的缺陷像素在图像上的位置和所述拍摄装置的相对于原点在Ｘ、Ｙ轴方向上的移动距离、以及所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出被确定的缺陷像素在显示面板上的地址的步骤。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：安藤秀宪，井元慎一郎，东保宏宣，
申请(专利权)人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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