自动测片仪制造技术

本实用新型专利技术涉及晶体检测仪器领域，具体地说是一种自动测片仪。该自动测片仪包括机壳、显示器、激光发射器、激光接收器和电路控制板，所述显示器设于机壳上，与电路控制板电连接，所述激光发射器和激光接收器设于机壳内部，与电路控制板电连接，其特征在于所述自动测片仪还包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环机架上设有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中。本实用新型专利技术提供一种结构简单、测量准确、操作方便的自动测片仪。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及晶体检测仪器领域，具体地说是一种自动测片仪。
技术介绍
在晶体加工领域，对晶体的检测一直是一个比较难解决的问题，因为晶体一般都 比较薄、比较小，所以对于体积小厚度薄的物体的检测是相当具有难度的，特别是具有弧度 的晶体，需要检测同心度，是更加地难，都会影响加工效率，并且很难保证晶体的质量和同 一性，给批量生产造成一定的困扰。
技术实现思路
本技术提供一种结构简单、测量准确、操作方便的自动测片仪。本技术是通过下述技术方案实现的自动测片仪，包括机壳、显示器、激光发射器、激光接收器和电路控制板，所述显示 器设于机壳上，与电路控制板电连接，所述激光发射器和激光接收器设于机壳内部，与电路 控制板电连接，所述自动测片仪还包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环机架上设 有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中。所述放片圆环中心开设有通孔，所述通孔上端开设有与放片圆环机架上的圆形通 孔同轴的圆形放片台阶。所述放片圆环包括在轴线方向同心设置的上圆环和下圆环，上圆环直径大于下圆环直径。所述机壳上还设有固定块，所述放片圆环机架通过螺钉固定于固定块上，所述固 定块和放片圆环机架相对机壳水平移动。所述自动测片仪还包括手柄，所述手柄与固定块连接。本技术所带来的有益效果是本技术中，所述自动测片仪包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环机 架上设有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中，以上两者分体设置方便检测各 种不同规格的晶体，而不需要每次都更换放片圆环机架，直接更换放片圆环即可，操作方 便、兼容性好、适应性强；所述放片圆环中心开设有通孔，所述通孔上端开设有与放片圆环 机架上的圆形通孔同轴的圆形放片台阶，放片圆环中心的通孔保证了激光的顺利穿过，保 证圆形放片台阶与放片圆环机架上的圆形通孔的同轴度是为了更加精确地检测晶体的同 心度；所述放片圆环包括在轴线方向同心设置的上圆环和下圆环，上圆环直径大于下圆环 直径，此种结构的设计是为了放片圆环拿取和安装更加方便；所述机壳上还设有固定块，所 述放片圆环机架通过螺钉固定于固定块上，所述固定块和放片圆环机架可相对机壳水平移 动，所述放片圆环机架设计为可移动式，方便放片圆环的拿取和安装，当需要拿取或者放置 放片圆环的时候将放片圆环机架水平移出，再进行操作即可，方便工人操作；所述自动测 片仪还包括手柄，所述手柄与固定块连接，扳动手柄，固定块即带动放片圆环机架作水平运动，手柄的设置方便工人操作；所述自动测片仪设置显示器是为了方便工人直接地读取偏 差值，提高工作效率。以下结合附图对本技术作进一步详细说明。附图说明图1为本技术所述的自动测片仪的结构示意图；图2为本技术所述放片圆环的结构示意图；图3为本技术所述放片圆环机架的结构示意图。图中部件名称对应的标号如下1、机壳；2、显示器；3、激光发射器；4、激光接收器；5、放片圆环；51、圆形放片台 阶；52、通孔；53、上圆环；54、下圆环；6、放片圆环机架；61、圆形通孔；62、螺钉；7、电路控 制板；8、固定块；9、手柄。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步的详述实施例一作为本技术所述自动测片仪的实施例，如图1、图2和图3所示，包括机壳1、 显示器2、激光发射器3、激光接收器4和电路控制板7，所述显示器2设于机壳1上，与电 路控制板7电连接，所述激光发射器3和激光接收器4设于机壳1内部，与电路控制板7电 连接，所述自动测片仪还包括放片圆环5和放片圆环机架6，所述放片圆环机架6上设有圆 形通孔61，所述放片圆环5放置于所述圆形通孔61中。所述放片圆环5和放片圆环机架6 分体设置方便检测各种不同规格的晶体，而不需要每次都更换放片圆环机架6，直接更换放 片圆环5即可，操作方便、兼容性好、适应性强。本实施例中，所述放片圆环5中心开设有通孔52 ；所述通孔52上端开设有与放片 圆环机架6上的圆形通孔61同轴的圆形放片台阶51 ；所述放片圆环5包括在轴线方向同 心设置的上圆环53和下圆环54，上圆环53的直径大于下圆环54的直径。放片圆环5中心 的通孔52保证激光的顺利穿过；保证圆形放片台阶51与放片圆环机架6上的圆形通孔61 的同轴度是为了更加精确地检测晶体的同心度，将晶体放置在圆形放片台阶51上，晶体的 外形与圆形放片台阶51的形状完全相符，圆形放片台阶51相当于对晶体起限位作用，若晶 体的圆心正好与圆形放片台阶51的圆心重合，则显示器2上X轴Y轴显示的数值为零，若 晶体偏心，则显示器2显示相应偏心的数值；上下圆环设计是为了放片圆环拿取和安装更 加方便。本实施例中，所述机壳1上还设有固定块8，所述放片圆环机架6通过螺钉62固定 于固定块8上，所述固定块8和放片圆环机架6可相对机壳1水平移动。所述放片圆环机 架6设计为可移动式，方便放片圆环5的安装，当需要拿取或者放置放片圆环5的时候将放 片圆环机架6水平移出，操作动作结束后将放片圆环机架6再水平移动到检测位置，方便工 人操作。本实施例中，所述自动测片仪还包括手柄9，所述手柄9与固定块8连接。扳动手 柄9，固定块8即带动放片圆环机架6作水平运动，手柄8的设置方便工人操作。 当然，所述放片圆环上的通孔也可以为正方形或者长方形或者三角形；当所述放 片圆环采用透明材料制成时，也可以不设置通孔，激光可穿过放片圆环被激光接收器接收。 那么，也都在本技术保护范围之内，这里不再一一赘述。权利要求1.自动测片仪，包括机壳、显示器、激光发射器、激光接收器和电路控制板，所述显示器 设于机壳上，与电路控制板电连接，所述激光发射器和激光接收器设于机壳内部，与电路控 制板电连接，其特征在于所述自动测片仪还包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环 机架上设有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中。2.如权利要求1所述的自动测片仪，其特征在于所述放片圆环中心开设有通孔，所述 通孔上端开设有与放片圆环机架上的圆形通孔同轴的圆形放片台阶。3.如权利要求1或2所述的自动测片仪，其特征在于所述放片圆环包括在轴线方向同 心设置的上圆环和下圆环，上圆环直径大于下圆环直径。4.如权利要求1所述的自动测片仪，其特征在于所述机壳上还设有固定块，所述放片 圆环机架通过螺钉固定于固定块上，所述固定块和放片圆环机架相对机壳水平移动。5.如权利要求4所述的自动测片仪，其特征在于所述自动测片仪还包括手柄，所述手 柄与固定块连接。专利摘要本技术涉及晶体检测仪器领域，具体地说是一种自动测片仪。该自动测片仪包括机壳、显示器、激光发射器、激光接收器和电路控制板，所述显示器设于机壳上，与电路控制板电连接，所述激光发射器和激光接收器设于机壳内部，与电路控制板电连接，其特征在于所述自动测片仪还包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环机架上设有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中。本技术提供一种结构简单、测量准确、操作方便的自动测片仪。文档编号G01B11/27GK201780104SQ201020231939公开日2011年3月30日 申请日期2010年6月22日 优先权日2010年6月22日专利技术者徐国斌, 高振华 申请人:嘉兴海盛电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
自动测片仪，包括机壳、显示器、激光发射器、激光接收器和电路控制板，所述显示器设于机壳上，与电路控制板电连接，所述激光发射器和激光接收器设于机壳内部，与电路控制板电连接，其特征在于所述自动测片仪还包括放片圆环和放片圆环机架，所述放片圆环机架上设有圆形通孔，所述放片圆环放置于所述圆形通孔中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高振华，徐国斌，
申请(专利权)人：嘉兴海盛电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]