颗粒速度分布的弧状静电传感器阵列测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种颗粒速度分布的弧状静电传感器阵列测量装置，包括：电荷差分放大电路、数据采集卡及计算机，测量探头包括绝缘测量管道和在绝缘测量管道上布置的弧状电极阵列。当带电颗粒通过电极阵列时，电极阵列的每一行电极组将产生两组反映气固流动信息的静电信号，接入电荷差分放大电路放大后，经数据采集电路送入计算机，在计算机内对差分静电信号进行频谱分析并确定频谱上的峰值频率，进而获得该电极组敏感空间内气固两相流颗粒平均速度，周向上所有电极组结合可实现颗粒速度分布测量。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于气固两相流测量
，具体涉及一种颗粒速度分布的弧状静电传感器阵列测量装置。
技术介绍
气固两相流系统广泛存在于能源、化工、电力及冶金等工业领域。实现气固两相流颗粒速度分布测量对于推动气固两相流机理研究以及生产过程的粉体流量计量、节能与控制具有重要意义。目前，基于不同的测量原理，人们已开发了多种非接触式颗粒速度测量方法，如多普勒、互相关、空间滤波、直接观察法等。多普勒颗粒速度测量基本原理是利用颗粒的移动导致散射光产生频移测量颗粒速度，具有简单、可靠等特点，在流体实验研究领域得到了广泛的应用，流动测量可从毫米级到几米的管道直径范围。但是多普勒速度测量系统设备昂贵，且仅适用于稀相悬浮流动条件。直接观察法主要包括高速摄像、PIV技术、荧光粒子示踪等方法，可获得完整的颗粒流动速度分布测量，但结果分析耗时，仅适用于实验室研究，不适合工业现场应用。以相关技术为基础构成的两相流速度测量系统，具有测量范围宽、适应性强、不阻碍流动，可实现非接触测量等优点，在工业应用上，与其它测量方法相比有较大的优势，为解决气固两相流速度、流量测量问题提供了强有力的技术手段。光学空间滤波法可实现颗粒和物体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒速度分布的弧状静电传感器阵列测量方法的装置，包括：绝缘测量管道（６）、数据采集卡（３）及用于对数据采集卡（３）的输出信号进行频谱分析并确定频谱上的峰值频率、进而计算获得气固两相流颗粒平均速度的计算机（４），其特征在于，所述装置还包括差分放大电路，在绝缘测量管道（６）的外壁上设置电极阵列（５），所述的电极阵列（５）为Ｃ×１０电极阵列，Ｃ为电极阵列行数，每行电极沿绝缘测量管道（６）的轴向分布，每行电极中的奇数电极进行电连接，每行电极中的偶数电极进行电连接，第ｉ行电极中的奇数电极及第ｉ行电极中的偶数电极分别与第ｉ路差分放大电路的第一输入端（１０）、第二输入端（１１）连接，其中，ｉ为电极阵列中...

【技术特征摘要】
1.一种颗粒速度分布的弧状静电传感器阵列测量方法的装置，包括：绝缘测量管道(6)、数据采集卡(3)及用于对数据采集卡(3)的输出信号进行频谱分析并确定频谱上的峰值频率、进而计算获得气固两相流颗粒平均速度的计算机(4)，其特征在于，所述装置还包括差分放大电路，在绝缘测量管道(6)的外壁上设置电极阵列(5)，所述的电极阵列(5)为C×10电极阵列，C为电极阵列...

【专利技术属性】
技术研发人员：许传龙，李健，高鹤明，付飞飞，王式民，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：实用新型
国别省市：84[中国|南京]