干式蚀刻装置及阵列基板干式蚀刻去除静电方法制造方法及图纸

技术编号:12622992 阅读:107 留言:0更新日期:2015-12-31 16:05
本发明专利技术提供一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置,本发明专利技术还公开了一种阵列基板干式蚀刻去除静电方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及蚀刻制造
,尤其涉及一种。
技术介绍
在目前的液晶显示面板阵列基板制造过程中,对各层的薄膜刻蚀有干法刻蚀和湿法刻蚀两种,对于一般的a-s1、SiNx, S1x以及一些金属膜的刻蚀,多采用干法刻蚀。但是,在干法刻蚀机刻蚀过程中,基板表面静电累积过多时,会发生异常放电,造成静电击伤基板;而且干法刻蚀机下部电极上的吸附,是利用静电进行吸附基板,若刻蚀完成后,静电卸载不完全时,顶针在上升过程易造成基板破裂。
技术实现思路
本专利技术涉及一种,可降低阵列基板薄膜在蚀刻时受静电的损坏。本专利技术提供一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置。其中,所述底壁上位于所述所述第二电极的两侧位置设有绝缘挡板。其中,所述底壁上与所述绝缘挡板相邻位置设有抽气孔。其中,所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,其特征在于,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘思洋
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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