光盘装置制造方法及图纸

技术编号:6159134 阅读:190 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种维持调整结果的精度并缩短调整所花费的时间的光盘装置。根据具有N(N≥3,N为整数)个记录层的光盘的记录层的配置来决定实施调整处理的A(A≥1,A<N,A为整数)个记录层。对于不实施调整处理的剩余的B(B≥1,B<N,B=N-A,B为整数)个记录层,根据已进行调整的其他记录层的调整结果的校正值和记录层的基板厚度,计算对应于各个记录层的B个校正值。在各记录层,根据光盘中的记录层的配置决定是通过调整处理来求取校正值还是通过计算来求取校正值。记录层的配置是指记录层的基板厚度、记录层数等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对以光盘为代表的光信息记录介质进行信息的记录或再现的光盘装 置,特别涉及对具有多个记录层的光盘进行信息的记录或再现的光盘装置
技术介绍
一般而言,在光盘装置中,光盘的弯曲、夹紧误差(clamping error)等会导致盘片 相对于激光的光轴产生倾斜(tilt),因此聚光而得的光斑(spot)会产生彗形像差(coma aberration)0此外,作为关于倾斜调整的文献,存在专利文献1。专利文献1记载的专利技术涉及一 种光盘装置的倾斜校正处理方法,该光盘装置通过对具有多个记录/再现层的光盘的各层 照射激光从而能够进行信息的记录或再现。此外,在专利文献1中,例如其权利要求1记载 如下一种光盘装置的倾斜校正处理方法,校正所述光盘的记录/再现面的相对于所述激 光光轴的倾斜即倾斜量,所述光盘装置的倾斜校正处理方法的特征在于在所述多个层中 位于离开所述激光的照射侧距离最远的记录/再现层的规定的半径位置,在规定的范围内 阶段地设定倾斜量,对于该设定的倾斜量,基于从所述光盘能够得到的规定信号的运算值, 得出最佳的倾斜校正量,并且,将该得出的最佳倾斜校正量也应用于除离开所述激光的照 射侧距离最远的记录/再现层以外的其他记录/再现层。另外,作为关于倾斜调整的文献,存在专利文献2。在专利文献2中,例如其 权利要求7记载如下一种光盘记录再现装置,其特征在于所述伺服系统参数(servo parameter)设定单元,在存储单元中存储对一个记录面的被分割而得的各区域调整倾斜机 构从而使得所述数据再现信号的振幅为最大的倾斜机构的调整值,并将其他记录面的调整 值设定为,对已进行调整的记录面的相同区域的调整值加上规定的值、或乘以规定的计数 而得到的值。在对本专利技术的课题进行说明之前,首先使用图2的示意图对彗形像差进行说明。 此处,在图2中,对于由于盘片倾斜而产生的慧形像差,Wc α NA3,Wcoc t,其中,Wc是慧形像 差,NA是物镜的NA (数值孔径),t是盘片基板的厚度。如图2 (a)所示,在不存在盘片的倾斜 的情况下,被物镜聚光的激光能够大致无像差地聚光在盘片的记录层中。如图2(b)所示, 在存在盘片倾斜的情况下,记录层上的焦点产生彗形像差。由于该彗形像差,在信息的记录 或再现的动作中会导致性能恶化。因此,需要设置用于校正彗形像差的影响的倾斜校正机 构,此外,还需要进行用于对盘片和装置的状态检测出适当的倾斜校正量的倾斜调整处理。接着,使用图3对现有的倾斜调整处理顺序的例子进行说明。图3 (a)表示调整的 顺序。在图3(a)中,在步骤S102将像差校正机构109的倾斜校正量设定为任意的值,在步 骤S103对抖动(jitter)、误差率(error rate)、再现信号振幅、摆动(Wobble)信号振幅和 跟踪误差信号振幅等任一个成为指标的物理量进行测定(在图3中以抖动作为例示)。在 步骤S104中,在使上述成为指标的物理量近似为倾斜校正量的函数的情况下(在图3的例 子中,能够近似为二次函数),判定能否如图3(b)所示那样通过最小二乘法等以必要的精4度计算出其最佳点(图3的情况下为二次函数的极值)。在不能计算出的情况下,返回步骤 S102,设定不同的倾斜校正量,反复进行指标值的测定。当在步骤S104中判定为能够计算 出时,以计算出的最佳点的倾斜校正量作为最佳的倾斜校正量。接着,在对本专利技术的课题进行说明之前,对球面像差进行说明。在例如作为光盘的 一种的BD(Blu-ray Disc,蓝光光盘)中,由于使用高数值孔径(NA)的物镜,因此增大了球 面像差对盘片基板厚度的误差的影响。关于该球面像差,使用图6中的示意图进行说明。此处,在图6中,对于由于盘片 厚度变化而产生的球面像差,Ws OC NA4, Ws OC At,其中,Ws是球面像差,At是盘片基板厚 度变化量或误差量,NA是物镜的NA(数值孔径)。在图6(a)所示,该光学系统按照激光聚 光在具有基板厚度t的记录层上的焦点处的方式抑制球面像差的产生,在该结构的光学系 统中,如图6(b)所示那样,在基板厚度变化At的情况下,在物镜的外侧和内侧产生像差。 由于光盘的制造差异等,即使为同种类的光盘,也会导致在记录层的基板厚度上产生数Pm 左右的误差。因此,需要具有能够校正球面像差的结构,通过设定适当的校正量,降低球面 像差的影响。此外,为了降低基板厚度的误差所产生的球面像差的影响,需要与上述倾斜调 整同样地进行球面像差的调整。而且,球面像差的调整存在以下方法,即,与上述倾斜调整 同样地,阶段性地并且任意次数地设定球面像差校正量,对各个校正量测定成为指标的物 理量,利用最小二乘法等算出极值,由此,得到最佳的校正量。此外,在具有多个记录层的光 盘中,各记录层的基板厚度不同,因此每个记录层产生不同的球面像差。所以,需要在各记 录层中实施上述调整,校正球面像差。如上所述,就具备多个记录层的光盘而言,存在优选通过对各层实际执行调整处 理来得到校正值、调整值的参数。然而,例如对每一层均进行利用最小二乘法等的调整处 理,会导致处理时间的增加。特别是,在具有3层以上的记录层的光盘中,该处理时间增加 的问题会变得显著。与此相对,如专利文献1和2所述那样,存在根据某层的调整值求取其他层的调整 值的方法。然而,在具有3层以上的记录层的光盘中,考虑到由于记录层的层间距离扩大、 记录层数增加而导致制造工序中产生误差的主要原因增加等,由基板厚度变化引起的像差 变动的主要原因加大。因此,存在以下情况,即,仅基于某一层的调整值而进行的校正运算 不能够求得其他层的合适的校正值。如上所述,从防止处理时间增加的观点出发,优选通过在更少的层对再现信号和 反射光进行测定来求取调整值。另一方面,从维持调整值的精度的观点出发,优选通过在更 多的层对再现信号和反射光实际进行测定来求取调整值。此外,根据光盘的种类、标准的不同,记录层的层数、记录层与记录层的层间距离 不同。此外,也存在各记录层的反射率、透过率也不同的情况。对此,本专利技术人得出以下见解在哪个记录层根据再现信号和反射光进行调整处 理,在哪个记录层使用其他层的调整值进行校正运算的问题,依每个光盘而不同。例如,较 多存在以下情况,即,根据再现信号和反射光进行调整处理的层与进行校正运算的层之间 的距离越近,通过运算而得到的调整值的精度就越高。专利文献1 日本专利第4069087号公报专利文献2 日本特开2008-090911号公报
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种维持调整结果的精度并缩短调整所花费的时间的光 盘装置。上述的目的,例如能够通过权利要求的范围所述的结构来实现。此外,上述的目的也可以通过以下所示的方案来实现。即,在本专利技术中,根据具有 N(N≥3,N为整数)个记录层的光盘的记录层的配置来决定实施调整处理的A(A≥1,A < N,A为整数)个记录层。对于不实施调整处理的剩余的B (B≥1,B < N,B = N-A, B为 整数)个记录层,根据进行调整的其他记录层的调整结果的校正值和记录层的基板厚度, 计算与各个记录层对应的B个校正值。在各记录层中,根据光盘中的记录层的配置的不同,决定是通过调整处理来求取 校正值,还是通过计算来求取校正值本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光盘装置,对具有从第一层到第N层的N个记录层的光盘进行记录或再现,其特征在于,包括:发光部,其发出激光;受光部,其接受来自所述光盘的被反射的激光;校正部,其对所述光盘的倾斜或所述激光的像差进行校正;调整部,其根据从作为对象的记录层得到的反射光,取得该记录层的所述校正部的校正量;检测部,其检测所述光盘的层结构;和选择部,其按照所述光盘的层结构选择A个记录层,所述调整部,取得由所述选择部选择的A个记录层的所述校正量,其中,N≥3,N为整数,A<N,A为整数。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:松田孝弘
申请(专利权)人:日立民用电子株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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