高压介质损耗测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术高压介质损耗测试装置涉及一种测试装置，其包能输出０－３００Ｖ、４０－７０Ｈｚ的正弦波输出变频电源；用以升压且与正弦波输出变频电源连接的升压装置；分别与升压装置连接且相互并联的高压标准电容器、非接地测试设备及高压电流取样隔离单元，同时与所述高压标准电容器、非接地被测试设备及高压电流取样隔离单元连接并对被试侧信号进行放大、滤波、同步采样、计算处理的介损测量单元，与高压电流取样隔离单元连接的接地被测试设备；一分别与介损测量单元及正弦波输出变频电源连接以控制用户操作指令并显示测量结果的的显示控制单元。由于采用上述结构，本发明专利技术之高压介质损耗测试装置能同时具备正／反接线测试介质损耗的功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置及相应的测试方法，特别是一种对电力设备进行高压介 质损耗测量的。
技术介绍
为了检验电力设备的运行状况和安装质量，保证电力设备安全正常地运行，在工 程的交接试验、预防性试验以及检修过程中都要进行高压介质损耗的测量，因此高压介质 损耗试验是一种保证电力设备运输、安装、检修质量及安全运行的重要措施。目前由于高压隔离技术的局限性，通常对接地试品在额定电压下的介损试验只能 采用正接法，这样现场设备必须打开接地刀闸，给现场操作带来繁琐和不安全性，另外对电 厂发电机进行大修时，都要对发电机定子做介质损耗试验，试验人员需要将发电机进行吊 芯，然后进行正接线法介质损耗试验，这样需要大量的人力物力且延长了整个大修工程的 工期。市场上也有少量能实现正/反接试验的介质损耗测试仪，但这种介质损耗测试仪只 能在IOkV以下电压下实现正/反接试验，超过IOkV试验电压即无法进行反接试验，因此， 超过IOkV试验电压做高压介损试验时，通常只能做正接线测量，使得在现场很多接地设备 无法做额定电压下的介质损耗试验。因此，有必要专利技术一种新的，以克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种能同时具备正/反接线功能，且能满足IOkV以上高压设 备的高压介质损耗测试装置。为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是一种高压介质损耗测试装置，它包 括一能输出0-300V，40-70Hz的正弦波输出变频电源；一用以升压且与正弦波输出变频电 源连接的升压装置；分别与升压装置连接且相互并联的高压标准电容器、非接地测试设备 及高压电流取样隔离单元，同时与所述高压标准电容器、非接地被测试设备及高压电流取 样隔离单元连接并对被试侧信号进行放大、滤波、同步采样、计算处理的介损测量单元，与 高压电流取样隔离单元连接的接地被测试设备；一分别与介损测量单元及正弦波输出变频 电源连接以控制用户操作指令并显示测量结果的的显示控制单元。其中所述升压装置采用试验变压器或串联谐振方式升压。其中所述高压标准电容器用SF6气体绝缘，电容量为50pF或100pF。其中所述高压标准电容器与介损测量单元间设有标准侧电流取样及放大电路，所 述非接地被测试设备与介损测量单元间设有反接线被试侧取样及放大电路，正接线被试侧 取样及放大电路与标准侧电流取样及放大电路相同。其中所述高压电流取样隔离单元包括接收输入信号的电流取样装置，与电流取 样装置连接的程控放大器，与程控放大器连接的调制器，与调制器连接的光纤发射装置，分 别与电流取样装置、程控放大器、调制器连接并分别将取样电阻切换至电流取样装置、量程切换至程控放大器、载波信号传递至调制器的单片机，与单片机连接的光纤接发射装置。其中所述高压电流取样隔离单元与介损测量单元间设有将反接线被试侧信号经 调制、光纤隔离后输入到介损测量单元中的光纤接收信号解调电路。其中所述高压电流取样隔离单元采用可充电锂电池供电。为达到上述目的，本专利技术采用的另一技术方案是一种高压介质损耗测试方法，它 包括可同时具备正接线功能的正接线测试方法及反接线功能的反接线测试方法；所述正接线测试方法包括以下步骤由显示控制单元输入指令，显示控制单元与 正弦波输出变频电源连接，正弦波输出变频电源按照指令输出特定频率的电压信号，电压 经升压装置升压后，将高压施加到非接地被测试设备与高压标准电容器的高压端，非接地 被测试设备与高压标准电容器低压侧电流信号分别连接到介损测量单元的标准信号输入 和被试信号输入端，介损测量单元分别将标准侧及被试侧信号进行放大、滤波、同步采样、 计算处理后由显示控制单元显示测量结果；所述反接线测试方法包括以下步骤由显示控制单元输入指令，显示控制单元与 正弦波输出变频电源连接，正弦波输出变频电源按照指令输出特定频率的电压信号，电压 经升压装置升压后，将高压施加到标准电容的高压端另一路经过高压电流取样隔离单元后 加到接地被试品的高压端，高压标准电容低压侧电流信号输入到介损测量单元的标准信号 通道，高压电流取样单元将检测到的流过接地被试品的电流信号，经过高频调制、光纤隔离 传送到介损测量单元反接信号输入端口，由介损测量单元进行解调后得到高压侧的电流信 号，与标准侧的电流信号进行同步采样、计算处理后由显示控制单元显示测量结果。其中所述高压电流取样隔离单元包括接收输入信号的电流取样装置，与电流取 样装置连接的程控放大器，与程控放大器连接的调制器，与调制器连接的光纤发射装置，分 别与电流取样装置、程控放大器、调制器连接并分别将取样电阻切换至电流取样装置、量程 切换至程控放大器、载波信号传递至调制器的单片机，与单片机连接的光纤接发射装置。其中所述高压电流取样隔离单元与介损测量单元间设有将反接线被试侧信号经 调制、光纤隔离后输入到介损测量单元中的光纤接收信号解调电路。由于采用上述结构及方法，本专利技术之高压介质损耗测试装置具有以下有益效果1.高电压下(10KV以上)能同时具备正/反接线功能本专利技术之高压介质损耗测试装置由于设有高压电流取样隔离单元，实现了将高压 端试品电流信号进行取样、调制及隔离传送到低压侧的功能，使得本专利技术之高压介质损耗 测试装置能同时具备正/反接线测试介质损耗的功能。2.采用串联谐振方式升压，实现变频抗干扰的目的本专利技术之高压介质损耗测试装置由采用正弦波输出变频电源电源，输出电压连续 可调，电源输出频率可在工频范围(40 70Hz)内连续可调，便于采用串联谐振方式升压， 也可实现变频抗干扰的目的。附图说明图1是本专利技术高压介质损耗测试装置的测试系统示意图；图2是本专利技术高压介质损耗测试装置的标准侧电流取样电路原理图；图3是本专利技术高压介质损耗测试装置的标准侧信号放大电路原理5图4是本专利技术高压介质损耗测试装置的反接线被试侧信号解调电路原理图；图5是本专利技术高压介质损耗测试装置的反接线被试侧信号低通放大电路原理图；图6是本专利技术高压介质损耗测试装置的介损测量单元的电路原理图；图7是本专利技术高压介质损耗测试装置的高压电流取样隔离单元电路原理框图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的 说明，图中相同的结构或功能用相同的数字标出。应该指出的是，附图的目的只是便于对本 专利技术具体实施例的说明，不是一种多余的叙述。请参照图1所示，本专利技术高压介质损耗测试装置包括高压介质损耗测试装置，它 包括一能输出0-300V，40-70Hz的正弦波输出变频电源；一用以升压且与正弦波输出变频 电源连接的升压装置；分别与升压装置连接且相互并联的高压标准电容器、非接地测试设 备及高压电流取样隔离单元，同时与所述高压标准电容器、非接地被测试设备及高压电流 取样隔离单元连接并对被试侧信号进行放大、滤波、同步采样、计算处理的介损测量单元， 与高压电流取样隔离单元连接的接地被测试设备；一分别与介损测量单元及正弦波输出变 频电源连接以控制用户操作指令并显示测量结果的的显示控制单元。其中所述正弦波输出变频电源用于产生测试需要的试验电源。电源输出电压连续 可调，电源输出频率可在工频范围(40 70Hz)内连续可调，便于采用串联谐振方式升压， 也可实现变频抗干扰的目的。该部分电路通过串行接口接收来自显示控制单元的指令，实 现调压调频的功能。用于变频电源输出的是正弦波电源，所以可以直接采本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种高压介质损耗测试装置，其特征在于，它包括：一能输出０－３００Ｖ，４０－７０Ｈｚ的正弦波输出变频电源；一用以升压且与正弦波输出变频电源连接的升压装置；分别与升压装置连接且相互并联的高压标准电容器、非接地被测试设备及高压电流取样隔离单元，同时与所述高压标准电容器、非接地被测试设备及高压电流取样隔离单元连接并对被试侧信号进行放大、滤波、同步采样、计算处理的介损测量单元，与高压电流取样隔离单元连接的接地被测试设备；一分别与介损测量单元及正弦波输出变频电源连接以控制用户操作指令并显示测量结果的的显示控制单元。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：冯玉柱，苏建军，袁广宏，田晖，陈玉峰，孙浩，冯新岩，冯迎春，徐亮，杨承龙，曲文韬，王宝利，张金岗，卢志鹏，朱斌，李炯，
申请(专利权)人：山东电力集团公司超高压公司，上海思创电器设备有限公司，
类型：发明
国别省市：88[中国|济南]