KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法技术

技术编号:6073380 阅读:432 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法,该方法的实质是将的待测的KDP晶体置于数字全息干涉测量装置的探测光路中,探测晶体内体损伤的相位分布轮廓,即二维相位分布图像;对待测晶体进行角度扫描,对各角度采样点下获取的二维相位分布图像的傅里叶变换进行逆傅里叶变换重构体损伤的三维相位分布形貌。该体损伤的三维精细结构不但可以作为定性描述激光损伤特性的重要参数,还将成为关联光损伤宏观特征和微观机制的关键环境,在探索KDP/DKDP晶体激光损伤机理和提高光损伤阈值方面有重要应用。

Three dimensional measurement method of high power laser body damage in KDP crystal

A KDP crystal of high power laser damage 3D measurement method, the essence of the method is to detect optical measuring device of KDP crystal in digital holographic interference will be detected, the detection phase distribution profile of crystal damage, two-dimensional phase distribution image; measuring crystal angle scanning treatment on each sampling point under the acquisition of two-dimensional phase distribution image Fu Liye transform inverse Fu Liye transform to reconstruct 3D phase distribution damage morphology. The important parameters of 3D structure of the body damage not only can be used as a qualitative description of laser damage properties, will also become a key environmental related light damage macro features and micro mechanism, in the exploration of KDP/DKDP crystal laser damage mechanism and improve the optical damage threshold has important application.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及KDP/DKDP晶体,是一种KDP/DKDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法
技术介绍
在激光惯性约束核聚变大工程装置中,大尺寸磷酸二氢钾(PotassiumDihydrogen Phosphate,以下简称为 KDP)晶体以及磷酸二氘钾(DeuteratedPotassium Dihydrogen Phosphate,简称为DKDP)晶体是目前国际上作为普克尔斯盒和倍频转换的唯一有效的高功率晶体材料。目前,KDP/DKDP晶体的激光损伤阈值远低于价键结构理论计算获得的理论激光损伤阈值,严重限制了激光输出的能流密度和晶体使用寿命,因此,KDP/DKDP晶体激光损伤阈值成为制约惯性约束核聚变发展和应用的瓶颈。KDP/DKDP的激光损伤阈值一直是激光惯性约束核聚变工程装置研制中关注的焦点之一。作为高功率激光系统中能量输出的关键的非线性晶体材料,到目前为止,高功率激光装置的总体设计方案因KDP/DKDP 的激光损伤阈值较低而没有较大的改进和突破。如何将KDP/DKDP晶体的光损伤阈值提高到预期的高功率激光输出水平是国内外专家一直努力攻克的前沿性课题。提高KDP/DKDP本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法,采用数字全息干涉测量装置进行测量,该数字全息干涉测量装置的构成包括激光器(4)、扩束准直装置(5)、分光镜(6)、第一反射镜(7)、第二反射镜(8)、合束镜(9)、透镜(10)、CCD探测器(11)和计算机(12),各部件的位置关系如下:在该激光器(4)的激光输出方向设置扩束准直装置(5)、分光镜(6),该分光镜(6)将输入的激光分为透射光和反射光,所述的透射光经待测的晶体(3)、第一反射镜(7)反射进入合束镜(9),所述的反射光经第二反射镜(8)反射进入合束镜(9),带有待测晶体(3)的信息的透射光和反射光经合束镜(9)合束相干,再经透镜(10...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孙平平刘德安张艳丽张燕刘芳张雪洁
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:31

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