【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及作物生长发育诊断方法及生长发育诊断系统。更加详细地说，涉及由 通过激光扫描技术得到的作物茎叶的三维点云数据算出植被率的生长发育诊断方法及生 长发育诊断系统。
技术介绍
以往，在农作物的生长发育程度的诊断中，通常通过测量作物的株高、茎数、叶色 等进行现场观察。但是，在以往的现场观察中，无论测量何种项目，人都必须进到田间进行 繁杂的操作，需要花费很多劳动力。而且，只能一株一株、或一片叶一片叶地进行测量，因而 很难获取代表值，要把握一块耕地内的生长发育程度，需要非常庞大的采样数。实际上，现 状是每块耕地仅采样十数株左右，所以，还不能说其可以准确把握耕地总体的生长发育程 度。而且，以减轻测量操作的劳动力、缩短测量时间等为目的，也尝试了用光学方法测 量作物的生长发育程度，例如提议了接收植物反射的太阳光，根据该光接收强度求出植物 的生长发育指标(茎叶中的氮含量等)的生长发育程度测量装置(例如参照专利文献1)。 此种使用太阳光的分光反射信息的生长发育程度测量装置不是像以往一样一株一株地进 行测量，而是可瞬间获取测量结果，所以可期待减轻测量操作时的劳动力及缩短测量...
【技术保护点】
一种作物生长发育诊断方法，其特征在于，具备以下步骤：从作物茎叶上方的照射点开始向该作物茎叶照射复数激光脉冲的步骤，光接收点接收被所述作物茎叶或地表面反射的所述激光脉冲的步骤，通过至少测量从所述激光脉冲的照射到接收所需的传播时间来获取包括从所述照射点到反射点之间距离的所述作物茎叶的三维点云数据的步骤，根据所述作物茎叶的所述三维点云数据算出所述作物茎叶的冠层位置的步骤，由所述冠层位置和所述三维点云数据，对于从所述冠层位置下方反射的激光脉冲的三维点云数据，算出从所述冠层位置到所述反射点的激光脉冲透入深度和激光脉冲透入率的步骤，和由所述激光脉冲透入深度和所述激光脉冲透入率推算植被率的步骤。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：高桥一义，力丸厚，
申请(专利权)人：国立大学法人长冈技术科学大学，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。