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本发明提供不易受气候影响且不需进行地表面的测量.检测处理的作物生长发育诊断方法。其具备以下步骤：从作物茎叶上方的照射点开始向作物茎叶照射复数激光脉冲的步骤（Ｓ１），光接收点接收被作物茎叶或地表面反射的激光脉冲的步骤（Ｓ２），通过测量从激光脉...
该专利属于国立大学法人长冈技术科学大学所有，仅供学习研究参考，未经过国立大学法人长冈技术科学大学授权不得商用。

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