【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种牙科金属修复体评价用像质计。尤其适用于具有精确的金属板厚 度,可以直接在X射线照相底片上比较被测对象厚度的、用于评价牙科金属修复体厚度和 内部质量的像质计。
技术介绍
像质计一般是用来评估X射线照相底片检测灵敏度的工具,同时也常用来选取或 衡量射线检验的透照参数。也可用像质计的投影影像表示底片的影像质量。像质计有多种形式,常用的有线型像质计、孔型像质计、槽型像质计等,其中线型 像质计应用最广,中国、日本、德国、英国、美国,以及国际标准均采用此种像质计。此外,美 国还采用平板孔型像质计,英国、法国还采用阶梯孔型像质计,都是用于判别射线检测中对 孔型缺陷的灵敏度的。除了上述像质计外,还有一种双丝型像质计,这种像质计不是用来检 测射线照相灵敏度的,而是用来测量射线照相的不清晰度的。目前尚未见有关用于评价金属材料或部件厚度的像质计。在对牙科金属修复体进行内部质量X射线探伤检测时,通常按照标准JB/T 9217-1999《射线照相探伤方法》,采用线型像质计判断底片影像的质量,由于线型像质计是 由不同直径的金属丝构成的,所以在X射线照相底片上的成像为黑色的底片上呈现出不 同灰度的直丝,而牙科金属修复体在底片上的成像是整个修复体为白色,在白色背景上呈 现出不同灰度的缺陷。因此,尽管采用线型像质计可以评判断底片影像的质量(灵敏度), 但在黑、白两种不同颜色的背景下进行肉眼观察比较,很难评价金属缺陷的水平,更无法判 断牙科金属修复体薄层中的厚度差别。牙科金属修复体评价用像质计(以下简称牙科像 质计)正是为了解决上述问题而设计的。
技术实现思路
牙科像质计由上 ...
【技术保护点】
牙科金属修复体评价用像质计由上下两部分组成:上部(1)的上表面(2)为平面,下表面(3)为阶梯形,每个阶梯的高度相差0.1mm。每个阶梯上可以打不同尺寸的通孔(5),孔的数量、直径、位置不限。下部(4)可以是不同厚度、不同成分的金属薄板。所述每片金属薄板的厚度相差0.1mm。各薄板的长度与像质计上部的宽度相同,所有薄板宽度之和与像质计的总体长度相同。
【技术特征摘要】
1.牙科金属修复体评价用像质计由上下两部分组成上部(1)的上表面(2)为平面, 下表面(3)为阶梯形,每个阶梯的高度相差0. 1mm。每个阶梯上可以打不同尺寸的通孔(5), 孔的数量、直径、位置不限。下部(4)可以是不同厚度、不同成分的金属薄板。所述每片金 属薄板的厚度相差0. 1mm。各薄板的长度与像质计上部的宽度相同,所有薄板宽度之和与像 质计的总体长度相同。2.根据权利要求1所述的牙科金属修复体评价用像质计,其特征在于将构成像质计 下部(4)的各不同厚度的薄板,与上部(1)下表面(3)的相应阶梯组合,可以形成一个上、 下表面平行的整体。由于构成下部(3)表面的各薄板是无孔的,...
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