分析装置、方法和试剂制造方法及图纸

技术编号:5800891 阅读:154 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
描述了一种用于进行分析的装置、系统、方法、试剂和工具组件以及它们的准备过程。特别地,它们被很好地配置成在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和分析。例如,它们可以被用于环境监测中对从空气和/或液体中得到的样品中的颗粒进行自动分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于进行分析(assay)的装置、系统、方法、试剂和 工具组件。本专利技术的装置、系统、方法、试剂和工具组件的一些实施 方式可以被用于在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样 品分析。例如,它们可以被用于自动分析从空气和/或液体样品中得到 的微粒。
技术介绍
很多方法和系统已经被开发出来用于进行化学、生物化学和/或生 物学的分析了。这些方法和系统在包括医疗诊断、食品和饮料测试、 环境监测、加工质量控制、药物专利技术和基础科学研究在内的很多应用 中都是不可或缺的。多孔分析板(也被称作微孔板或微板)己经成为多样品的处理和 分析的标准形式。多孔分析板可以采用多种形式、大小和形状。为方12便起见,对于用于处理高通量分析样品的仪器, 一些标准已经出现了。 典型地,多孔分析板被制成标准的尺寸和形状,并且具有标准的孔排列。孔的排列包括在96孔板(孔的12x8阵列)、384孔板(孔的24x16 阵列)和1536孔板(孔的48x32阵列)中发现的那些。生物分子筛选 学会已经公布了用于多种板形式的被推荐的微板规格(参考 http:〃www.sbsonline.org)。用于在多孔板上进行分析测量的多种平板读取器可以得到,其包 括测量光吸收、发光(例如,荧光、磷光、化学发光和电化学发光) 发射、放射线发射的变化,光散射中的变化和电磁场内的变化。 Wohlstadter等人的美国专利申请文献2004/0022677和2005/0052646, 分别位于美国专利申请10/185,274和10/185,363中,介绍了对在多孔 板形式下进行单元和多元ECL (电化学发光)分析很有用的解决方案。 它们包括由具有形成孔壁的通孔的板顶部和被密封到板顶部上以形成 孔底面的板底部组成的板。板底部被衬有传导层以为那些孔提供电极 表面,这些电极表面不仅作为结合反应的固相支撑,还作为诱导电化 学发光(ECL)的电极。传导层可以还包括用于施加电能到电极表面 上的电触头。尽管已经已知了那些用于进行分析的方法和系统,但仍需要用于 在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样品分析的改进装 置、系统、方法、试剂和工具组件。
技术实现思路
我们介绍了一种用于在多孔板形式下进行分析的装置,其具有一 个或多个下述理想的特征i)高灵敏度,ii)大动态范围,iii)尺寸 小,重量轻,iv)基于阵列的多路复用能力,v)自动操作(包括取样 和/或试剂运输);vi)处理多个板的能力,和vii)处理被密封的板的 能力。我们还介绍了在这种装置中很有用的部件,和使用这种装置和 部件的方法。它们尤其被很好地适用于,虽然并不仅限于,环境、医 疗或食品样品的自动分析。此装置和方法可以与很多包括,但不仅限 于,测量一个或多个可检测信号的分析检测技术一起使用。它们中的一些适合电化学发光测量,特别是,适合与带有集成电极的多孔板(和 使用这些板的分析方法) 一起使用的实施方式,例如那些分别位于Wohlstadter等人的美国申请10/185,274和10/185,363中的美国申请文 献2004/0022677和2005/0052646中所介绍的,以及Glezer等人共同 提交的标题为"Assay Modules Having Assay Reagents and Methods of Making and Using Same."的美国申请11/,—。一种用于测量来自密封式多孔分析板的孔的信号的装置被提供 了,其包括a)用于从多孔板的孔上拆除密封件的密封件拆除工具, 和b)用于测量从所述多孔板的孔内发出的信号的检测系统。密封件拆除工具可以通过下述几个步骤实现其功能i)用带有密封件穿刺末端的探针穿刺密封膜,ii)抓住并拆除孔上的盖,iii)从孔的顶部剥离密封膜,或iv)用取芯工具(coring tool)拆除密封件。在一个实施方式中,密封件拆除工具是穿刺探针,其包括O穿刺部分,其具有逐渐变细到定点的外表面,以在穿刺方向(穿刺操作 过程中的平移轴线)的一端形成穿刺末端,和ii)密封件移动部分, 其被沿穿刺方向与穿刺部分相邻布置。在某些特殊实施方式中,密封 件移动部分具有垂直于穿刺方向的横截面形状,其被选择以与探针在 其上面操作的孔的开口形状大概一致。探针的尺寸可以相对于孔的开 口稍微小点,以允许探针滑动进入孔的开口,并靠着孔壁压住或折叠 被被穿刺的密封件。这种方法可以被用于拆除密封件,密封件对于使 用位于孔上方的检测器(例如,光检测器和/或光成像系统)检测孔内 的分析信号来说是障碍。适当的间隙可以基于特殊膜的厚度选择,禾口/或可以被选择为小于约0.1英寸、小于大0.2英寸或小于约0.3英寸。 在穿刺工具的一个实施例中,密封件移动部分的横截面形状是圆 形。在另一实施例中,其为正方形或带有圆角的正方形。穿刺部分可 以是圆锥形状。作为替代地,它可以包括暴露的切割边,例如,其从 末端在径向方向上延伸,并能够在穿刺过程中切割密封件,和帮助靠 着孔壁重复折叠密封件。在一个特殊实施例中,末端是棱锥形状,而 棱锥的边提供暴露的切割边。在某些实施方式中,穿刺探针是弹簧加载式的,以使探针沿所述14穿刺方向施加到板密封件上的最大向下的力被弹簧的弹簧常数限定。 探针可以还包括限定所述穿刺探针在所述孔内行程的最大距离的与所 述密封件移动部分相邻的板止动部分。在一个特殊实施方式中,止动 部分是探针的宽度太大不能进入孔内的部位,且最大距离由止动部分 碰撞到孔顶部处的距离限定。此装置可以进一步包括移液探针(pipettingprobe)。在一个实施方 式中,穿刺探针具有平行于穿刺方向的通孔。可选择地,通孔从穿刺 末端偏离,并且移液探针被可移动地置于通孔内,以当使用穿刺探针 拆除孔密封件时,移液探针能够被抽回到穿剌探针内,并且它可以在 移液操作过程中被从穿刺探针伸出去。穿刺探针和移液探针可以被彼 此独立控制,例如,通过单独的电机。作为替代地, 一个电机可以被 用于驱动两个探针。在一个实施例中,穿刺探针包括如上所述的板止 动部分,而移液探针被通过弹簧连接到穿刺探针上。此弹簧的弹簧常 数被选择为使得i)当探针不在物体上施加力时,移液探针被抽回到 穿刺探针的通孔内,ii)朝着孔移动移液探针导致穿刺探针一起移动, 并允许传递足够的力以移动孔上的密封件,且iii)继续移动经过穿刺 探针行程的最大距离使得弹簧压縮且移液探针从穿刺探针中伸出来进 入所述孔内,在那里它可以被用于吸引液体到孔内和从孔内吸出液体。一种使用包括(如上所述的)密封件拆除工具的装置的方法被提 供了,该方法包括从多孔板的孔拆除密封件并检测来自所述孔的所述 信号。拆除密封件可以包括穿刺多孔板的孔上的密封件和,可选择地, 将密封件切割成段(例如,使用穿刺末端上的切割边)并抵靠着孔的 内壁折叠这些切割段。该方法可以进一步包括以下步骤中的一个或多 个吸引样品到孔内、吸引分析试剂到孔内、从孔内排出液体、清洗 孔、照亮孔或施加电势到孔内的电极上。另外,该方法可以进一步包 括在板的一个或多个额外孔上重复如上所述的某些部分或所有步骤。一种可以被用于传输多孔板分析装置使用的试剂和存储多孔板分 析装置产生的废液的试剂盒被提供了。根据一个实施方式,试剂盒包 括本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于测量来自密封式多孔分析板的孔的信号的装置,该装置包括: (a)用于从所述多孔板的孔拆除密封件的密封件拆除工具;和 (b)用于测量来自所述多孔板的孔的所述信号的检测系统。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:CM克林顿EN格列泽B杰弗里科克尔S科瓦奇SM库马尔G西加尔C史蒂文斯M福克
申请(专利权)人:梅索斯卡莱科技公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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