分析装置、方法和试剂制造方法及图纸

描述了一种用于进行分析的装置、系统、方法、试剂和工具组件以及它们的准备过程。它们被特别良好地配置成在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和分析。例如，它们可以被用于环境监测中对从空气和/或液体中得到的样品中的颗粒进行自动分析。

【技术实现步骤摘要】
分析装置、方法和试剂本申请是申请日为2009年04月10日、申请号为200980115394.2、专利技术名称为“分析装置、方法和试剂”的专利技术专利申请的分案申请。相关申请的交叉引用本申请要求2008年4月11日提交的申请No.61/123,975的权益。
本专利技术涉及用于进行分析(assay)的装置、系统、方法、试剂和工具组件。本专利技术的装置、系统、方法、试剂和工具组件的一些实施例可以用于在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样品分析。例如，它们可以被用于自动分析从空气和/或液体样品中得到的微粒。
技术介绍
很多方法和系统已经被开发出来用于进行化学、生物化学和/或生物学的分析了。这些方法和系统在包括医疗诊断、食品和饮料测试、环境监测、加工质量控制、药物专利技术和基础科学研究在内的很多应用中都是不可或缺的。多孔分析板(也被称作微孔板或微板)已经成为多样品的处理和分析的标准形式。多孔分析板可以采用多种形式、大小和形状。为方便起见，对于用于处理高通量分析样品的仪器，已经出现了一些标准。典型地，多孔分析板被制成标准的尺寸和形状，并且具有标准的孔排列。孔的排列包括在96孔板(孔的12×8阵列)、384孔板(孔的24×16阵列)和1536孔板(孔的48×32阵列)中发现的那些。生物分子筛选学会已经公布了用于多种板形式的被推荐的微板规格(参考http://www.sbsonline.org)。用于在多孔板上进行分析测量的多种平板读取器可以得到，其包括测量光吸收、发光(例如，荧光、磷光、化学发光和电化学发光)发射、放射线发射的变化，光散射中的变化和电磁场内的变化的读取器。Wohlstadter等人的美国专利申请10/185,274和10/185,363的公开文献2004/0022677和2005/0052646介绍了对在多孔板形式下进行单元和多元ECL(电化学发光)分析很有用的解决方案。它们包括.由板顶部和板底部组成的板，板顶部具有形成孔壁的通孔，板底部被密封到板顶部上以形成孔底面。板底部被衬有传导层以为那些孔提供电极表面，这些电极表面不仅作为结合反应的固相支撑，还作为诱导电化学发光(ECL)的电极。传导层可以还包括用于施加电能到电极表面上的电触头。尽管已经已知了那些用于进行分析的方法和系统，但仍需要用于在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样品分析的改进装置、系统、方法、试剂和工具组件。
技术实现思路
因而，本专利技术提供了一种在多孔板上进行发光分析的装置，该装置包括：(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；和(c)板处理子系统，其中，所述装置通过连续交错程序处理分析样品。该装置可以还包括聚焦于样品上的图形用户界面。本专利技术的装置包括板处理子系统，板处理子系统包括：a)不透光封罩，包括：(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降器；(ii)不透光封罩顶部，不透光封罩顶部具有被置于所板升降器上方的一个或多个板引入口和成像口，其中，所述封罩顶部包括用于密封所述板引入口的滑动不透光门；以及(iii)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中，所述板平移台包括用于支撑板的板支架，所述板支架具有开口，以允许被置于板支架下方的所述板升降器接近并提升板，且所述板平移台被设置成将所述板置于成像口下方以及将所述板置于所述板升降器上方；b)一个或多个板堆垛器，该一个或多个板堆垛器被安装于所述板引入口上方的所述封罩顶部上，其中，所述板堆垛器被设置成接收或传递板到所述板升降器上；以及c)光检测器，该检测器安装于所述封罩顶部上，并借助于不透光密封件连接到所述成像口上。本专利技术的装置还包括液体处理子系统，该液体处理子系统包括移液系统，用于传输液体到装置中的分析板的孔内或从其排出液体。另外，本专利技术的装置包括下述特征：a)移液系统包括安装于移液平移台上的移液探针，移液平移台用于在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移所述移液探针；b)封罩顶部具有一个或多个移液口；c)滑动不透光门具有一个或多个移液口，其中，滑动不透光门具有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与所述滑动不透光门上的所述移液口对正；以及d)移液平移台被安装于所述封罩顶部上，且被设置成允许当所述滑动不透光门处于所述移液位置时降低所述移液探针，以接近被置于所述封罩顶部上的所述移液口下方的孔。本专利技术的装置可以还包括选自包括试剂和/或样品传输站、试剂和/或样品管架、探针清洗站、废液传输站和它们的组合的组中的部件，其中，所述移液平移台被设置成在一个或多个水平方向上移动，以接触所述部件内的液体和/或传输液体到所述部件内。该装置还包括板密封件穿刺探针，其中：(i)所述封罩顶部具有穿刺探针口；(ii)所述滑动不透光门具有穿刺探针口，其中，所述滑动不透光门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部的所述穿刺探针口与所述滑动不透光门的所述穿刺探针口对正；以及(iii)所述穿刺探针被安装到所述封罩顶部上，且被设置成允许，当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针以穿刺被置于所述封罩顶部的所述穿刺口下方的孔上的密封件。本专利技术装置包括移液平移台，移液平移台包括探针平移元件，且所述移液平移台被设置成水平移动以便通过所述探针平移元件接触所述穿刺探针，和竖直移动以便通过所述探针平移元件降低和升高所述穿刺探针。另外，本专利技术的装置还包括板接触部件，以提供电能到被放置于所述光检测器下面的孔内的电极上。本专利技术还提供了一种使用此处所述的装置进行分析的方法，该方法包括：(a)引入多孔板到一个板堆垛器上；(b)滑动所述滑动不透光门以暴露所述一个板堆垛器下面的板引入口；(c)使用一个所述板升降器以从所述一个板堆垛器上降低所述板到所述板支架上；(d)滑动所述滑动不透光门以密封所述板引入口；(e)平移所述板支架以将一个或多个孔放置于所述光检测器下面；(e)检测来自所述一个或多个孔的光；(f)滑动所述滑动不透光门以暴露至少一个板引入口；(g)平移所述板支架以将所述板放置于所述一个板引入口下面；和(h)升高一个板升降器以升高所述板到一个板堆垛器上。其中，所述装置以连续交错程序处理所述多孔板上的多个孔。上面描述的方法可以还包括下述步骤中的一个或多个：吸引样品和/或试剂到一个孔内或从一个孔内吸出，从一个或多个所述孔上拆除密封件，或施加电能到一个或多个所述孔内的电极上。本专利技术的方法还包括下述顺序的步骤：(a)吸引样品和/或试剂到所述多孔板的第一孔内；(b)施加电能到所述第一孔内的电极上；(c)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光检测器下方；(d)检测来自所述第一个孔的光；当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个另外的孔上重复步骤(a)-(d)。本专利技术的方法可以还包括下述顺序的步骤：(a)从一个或多个所述孔上拆除密封件；(b)吸引样品和/或试剂到所述多孔板的第一孔内；(c)施加电能到所述第一孔内的电极上；(d)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光检测器下方；(e)检测来自所述第一个孔的光；当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个另外的孔上重复步骤(a)-(e)。在本专利技术的方法的一个实施例中，密封件在步骤(a)中从所述第一孔上拆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种在多孔板上进行发光分析的装置，所述装置通过连续交错程序处理分析样品，对来自分析板的一个或多个孔内结合区域的阵列的光成像，并且对从所述阵列的各个元件发出的光报告发光强度值，所述装置包括：a)不透光封罩，所述不透光封罩包括：(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降器；(ii)不透光封罩顶部，所述不透光封罩顶部具有被置于所述板升降器上方的一个或多个板引入口，和成像口；(iii)用于密封所述板引入口的滑动不透光门，所述封罩顶部和所述滑动门具有一个或多个移液口，所述滑动门具有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与所述滑动门上的所述移液口对正；和(iv)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中，所述板平移台被配置用于将所述板置于所述成像口下方以及将所述板置于所述一个或多个板升降器上方，所述板平移台包括用于支撑所述板的板支架，所述板支架具有开口，以允许所述一个或多个板升降器被置于所述板支架下方从而接近并提升所述板；b)一个或多个板堆垛器，所述一个或多个板堆垛器被安装于所述封罩顶部上、所述板引入口上方，其中，所述板堆垛器被设置成接收或传递板到所述一个或多个板升降器上；c)安装于所述封罩顶部上的板密封件穿刺探针，其中，所述封罩顶部和所述滑动不透光门分別具有穿刺探针口，所述滑动不透光门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述穿刺探针口与所述滑动不透光门上的所述穿刺探针口对正，所述滑动不透光门被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针从而穿刺被置于所述穿刺口下方的孔上的密封件，(d)安装于所述封罩顶部上的移液平移台；(e)安装于所述移液平移台上的移液探针，所述移液探针被在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移，所述移液探针传输或排出来自被定位于所述移液孔下面的孔的液体，所述移液探针被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述移液位置时，降低所述移液探针以接近被置于所述移液口下方的孔；(f)被置于所述成像孔下面的光源；和(g)光检测器，其被安装于所述封罩顶部上并且连接到所述成像口。...

【技术特征摘要】
2008.04.11 US 61/123,9751.一种在多孔板上进行发光分析的装置，所述装置通过连续交错程序处理分析样品，对来自分析板的一个或多个孔内结合区域的阵列的光成像，并且对从所述阵列的各个元件发出的光报告发光强度值，所述装置包括：a)不透光封罩，所述不透光封罩包括：(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降器；(ii)不透光封罩顶部，所述不透光封罩顶部具有被置于所述板升降器上方的一个或多个板引入口，和成像口；(iii)用于密封所述板引入口的滑动不透光门，所述封罩顶部和所述滑动门具有一个或多个移液口，所述滑动门具有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与所述滑动门上的所述移液口对正；和(iv)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中，所述板平移台被配置用于将所述板置于所述成像口下方以及将所述板置于所述一个或多个板升降器上方，所述板平移台包括用于支撑所述板的板支架，所述板支架具有开口，以允许所述一个或多个板升降器被置于所述板支架下方从而接近并提升所述板；b)一个或多个板堆垛器，所述一个或多个板堆垛器被安装于所述封罩顶部上、所述板引入口上方，其中，所述板堆垛器被设置成接收或传递板到所述一个或多个板升降器上；c)安装于所述封罩顶部上的板密封件穿刺探针，其中，所述封罩顶部和所述滑动不透光门分別具有穿刺探针口，所述滑动不透光门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述穿刺探针口与所述滑动不透光门上的所述穿刺探针口对正，所述滑动不透光门被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针从而穿刺被置于所述穿刺口下方的孔上的密封件，(d)安装于所述封罩顶部上的移液平移台；(e)安装于所述移液平移台上的移液探针，所述移液探针被在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移，所述移液探针传输或排出来自被定位于所述移液孔下面的孔的液体，所述移液探针被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述移液位置时，降低所述移液探针以接近被置于所述移液口下方的孔；(f)被置于所述成像孔下面的光源；和(g)光检测器，其被安装于所述封罩顶部上并且连接到所述成像口。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述移液平移台包括探针平移元件，且所述移液平移台被设置成水平移动以使所述穿刺探针接触所述探针平移元件，以及竖直移动以便通过所述探针平移元件降低和升高所述穿刺探针。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括光学传感器，用于监视所述装置的试剂腔或废液腔内的液体水平。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括聚焦于样品上的图形用户界面，其中，所述聚焦于样品上的图形用户界面允许用户总体上观察和看到板和板上每个孔的分析结果。5.根据权利要求1-4中任一所述的装置，其特征在于，还包括板接触部件，以提供电能到被放置于所述光检测器下面的孔内的电极上。6.一种使用装置在多孔分析板上进行分析的方法，所述装置包括：(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；(c)板处理子系统；和(d)操作地连接到所述装置的计算机，所述方法包括计算机实施的连续交错过程，该过程包括对于所述多孔板上的多个单个孔依次连续进行的下述步骤；(i)在包括时间片n的样品添加阶段期间向单个孔添加样品；(ii)在包括时间片m的培养阶段期间培养所述单个孔中的所述样品；(iii)在包括时间片p的试剂添加阶段期间向所述单个孔添加试剂，使得，在所述连续交错过程中，步骤(i)-(iii)在所述多个孔中的第一个上进行，并且至少在步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·M·克林顿，E·N·格列泽，S·韦斯特，G·西加尔，C·史蒂文斯，M·福克，
申请(专利权)人：梅索斯卡莱科技公司，
类型：发明
国别省市：美国,US