等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂技术

本发明专利技术涉及等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂。等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将上述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对上述一对电极施加电压，在上述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在上述等离子体的作用下产生的上述靶材的发光进行检测，上述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。

Plasma spectroscopic analysis and inhibitors of plasma luminescence from non targets

The present invention relates to a method of plasma spectroscopic analysis and an inhibitor of plasma luminescence from a non - target. Plasma characteristics optical analysis method that includes the following steps: sample concentration step, in the presence of a near one electrode in the electrode will be concentrated in the target sample; plasma generating steps by applying electrical to the pair of electrodes, plasma is generated in the sample; and the detection step on the target, light generated in the plasma under the effect of the detection of the plasma generated in the step of defoaming agent in the presence of.

【技术实现步骤摘要】
等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂
本专利技术涉及等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂。
技术介绍
作为微量金属元素分析法，已知有下述方法：对包含作为靶材的金属的试样施加电压，产生等离子体，并对其等离子体发光进行检测(例如，参见国际公开第2012/120919号)。但是，在将试样供于上述分析时，除了来自靶材的等离子体的峰波形以外，有时还会产生并非来自靶材的其它等离子体的峰波形。因此，例如由于其它的峰波形与来自靶材的等离子体的峰波形重叠而存在无法准确地捕捉来自靶材的等离子体的峰波形、无法精确地对靶材进行分析的问题。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题上述其它的峰波形被认为是来自于试样中所含的靶材以外的非靶材。作为避免非靶材的影响的方法，考虑了下述试样的预处理方法：对试样进行过滤器过滤，从试样中除去非靶材。但是，使用过滤器对试样进行预处理时，例如试样中的靶材的浓度等有可能发生变化。因此，本专利技术提供一种能够在例如不利用过滤器过滤对试样进行预处理的情况下抑制来自非靶材的等离子体发光的方法。用于解决课题的手段为了解决上述课题，本专利技术的等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将上述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对上述一对电极施加电压，在上述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在上述等离子体的作用下产生的上述靶材的发光进行检测，上述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。本专利技术的来自非靶材的等离子体发光的抑制剂的特征在于，其包含消泡剂，用于本专利技术的等离子体分光分析方法。专利技术的效果根据本专利技术的等离子体分光分析方法，能够在例如不利用过滤器过滤对试样进行预处理的情况下抑制来自非靶材的等离子体发光。附图说明图1(A)示出等离子体分光分析装置的示意性透视立体图，图1(B)是从图1(A)的I-I方向观察的示意性截面图。图2是示出实施例1中的来自汞的发光的峰附近的光谱的曲线图，(A)是受试者A的实施例试样A和比较例试样A的结果，(B)是受试者B的实施例试样B和比较例试样B的结果。图3是示出实施例1中的来自铅的发光的峰附近的光谱的曲线图，(A)是受试者A的实施例试样A和比较例试样A的结果，(B)是受试者B的实施例试样B和比较例试样B的结果。图4是示出实施例2中的添加的乙醇浓度不同的尿试样中的来自汞的发光的峰附近的光谱的曲线图。图5是示出实施例2中的添加的乙醇浓度不同的尿试样中的来自铅的发光的峰附近的光谱的曲线图。图6(A)是示出实施例3中的添加了不同消泡剂的尿试样中的来自汞的发光的峰附近的光谱的曲线图，图6(B)是示出实施例3中的添加了不同消泡剂的尿试样中的来自铅的发光的峰附近的光谱的曲线图。图7(A)是示出参考例中的添加了蒸馏水的尿试样中的来自汞的发光的峰附近的光谱的曲线图，图7(B)是示出参考例中的添加了蒸馏水的尿试样中的来自铅的发光的峰附近的光谱的曲线图。具体实施方式<等离子体分光分析方法>本专利技术的等离子体分光分析方法(下文中也称为“分析方法”)的特征在于，包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将上述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对上述一对电极施加电压，在上述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在上述等离子体的作用下产生的上述靶材的发光进行检测，上述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。其它的步骤和条件没有特别限制。本专利技术人深入研究的结果得到了如下发现，虽然机理不明，但通过在消泡剂的存在下产生等离子体，能够抑制来自非靶材的等离子体发光。因此，根据本专利技术的分析方法，例如不进行利用过滤器过滤从试样中除去非靶材的预处理，通过在消泡剂的存在下进行等离子体产生步骤，能够抑制来自非靶材的等离子体发光。其结果，来自非靶材的等离子体发光的影响降低，通过对来自靶材的等离子体发光进行检测，能够以更好的精度对靶材进行分析。本专利技术中，关于通过在消泡剂的存在下产生等离子体而抑制来自非靶材的等离子体发光的机理，推测如下。通过在消泡剂的存在下进行等离子体产生步骤，在试样中，以电极为中心生长的气泡的量与消泡剂非存在下相比相对减少。另外，在浓缩步骤中，靶材在一对电极中的一个电极的附近被浓缩，另一方面，非靶材在电极的附近不被浓缩而为分散于试样中的状态。因此，若利用消泡剂使气泡的量减少，则与在电极附近被浓缩的靶材相比，认为存在于气泡表面的非靶材的量相对地降低。由此，通过等离子体的作用而在气泡表面生成的来自非靶材的等离子体发光也受到抑制。需要说明的是，本专利技术不受上述推测的任何限制。本专利技术的分析方法中，消泡剂只要是通常作为消泡剂使用的物质，就没有特别限制。作为消泡剂，例如可以举出醇化合物、表面活性剂以及酮化合物。作为醇化合物，例如可以举出甲醇、乙醇、异丙醇以及丁醇等。作为表面活性剂，例如可以举出油系表面活性剂、乳液系表面活性剂以及聚醚系表面活性剂等。作为油系表面活性剂，例如可以举出SNDefoamer777(商标)。作为乳液系表面活性剂，例如可以举出SNDefoamer388N(商标)。作为聚醚系表面活性剂，例如可以举出Triton(商标)X-100。作为酮化合物，例如可以举出丙酮。本专利技术中，作为消泡剂，可以使用一种，也可以合用两种以上。消泡剂相对于试样的添加量没有特别限制，例如，试样中的浓度(v/v)优选为0.025体积％以上12.5体积％以下、更优选为0.25体积％以上10体积％以下、进一步优选为2.5体积％以上7.5体积％以下。本专利技术的分析方法中，试样例如为样本。样本可以为液体样本、也可以为固体样本。作为样本，例如可以将样本的未稀释液直接作为液体样本使用，也可以将样本悬浮、分散或溶解于介质中而成的稀释液作为液体样本使用。在样本为固体的情况下，例如优选将样本悬浮、分散或溶解于介质中而成的稀释液作为液体样本使用。作为上述介质，没有特别限制，例如可以举出水、缓冲液等。作为样本，例如可以举出生物体来源的样本(试样)、环境来源的样本(试样)、金属、化学物质、药品等。作为生物体来源的样本，没有特别限制，可以举出尿、血液、毛发、唾液、汗、指甲等。作为血液样本，例如可以举出红细胞、全血、血清、血浆等。作为生物体，例如可以举出人、非人动物、植物等，作为非人动物，例如可以举出除人以外的哺乳类、鱼贝类等。作为环境来源的样本，没有特别限制，例如可以举出食品、水、土壤、大气、空气等。作为食品，例如可以举出生鲜食品或加工食品等。作为水，例如可以举出饮料水、地下水、河川水、海水、生活排水等。作为靶材，没有特别限制，例如可以举出金属、化学物质等。作为金属，没有特别限制，例如可以举出铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、钡(Ba)、铍(Be)、铋(Bi)、镉(Cd)、铯(Cs)、钆(Gd)、铅(Pb)、汞(Hg)、镍(Ni)、钯(Pd)、铂(Pt)、碲(Te)、铊(Tl)、钍(Th)、锡(Sn)、钨(W)、铀(U)等金属。作为化学物质，例如可以举出试剂、农药、化妆品等。靶材可以为一种，也可以为两种以上。在靶材为金属的情况下，试样例如可以包含用于分离样本中的金属的试剂。作为试剂，例如可以举出螯合剂、掩蔽剂等。作为螯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等离子体分光分析方法，其包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将所述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对所述一对电极施加电压，在所述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在所述等离子体的作用下产生的所述靶材的发光进行检测，所述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。

【技术特征摘要】
2016.10.07 JP 2016-1994571.一种等离子体分光分析方法，其包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将所述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对所述一对电极施加电压，在所述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在所述等离子体的作用下产生的所述靶材的发光进行检测，所述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。2.如权利要求1所述的等离子体分光分析方法，其中，所述浓缩步骤是在所述试样的存在下，通过向所述一对电极施加电压而在所述一对电极中的一个电极的附近将所述试样中的靶材进行浓缩的步骤。3.如权利要求2所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩步骤中，所述电压施加时的一对电极间的电流是恒定的。4.如权利要求3所述的等离子体分光分析方法，其中，所述浓缩步骤包括下述步骤：对所述一对电极进行电压施加的电压施加步骤；以及不对所述一对电极进行电压施加的电压非施加步骤，在所述电压施加步骤中，所述电压施加时的一对电极间的电流是恒定的。5.如权利要求4所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩步骤中，将所述电压施加步骤和所述电压非施加步骤各进行1次的重复作为一组，所述一组的时间为0.25秒以上。6.如权利要求4所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩步骤中，将所述电压施加步骤和所述电压非施加步骤各进行1次的重复作为一组，所述一组的时间中的所述电压非施加步骤的时间为0.125秒以上。7.如权利要求4所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩步骤中，将所述电压施加步骤和所述电压非施加步骤各进行1次的重复作为一组，所述一组的时间中的所述电压施加步骤的时间的比例为1％以上99％以下的范围。8.如权利要求2所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩步骤中，所述电压施加时的一对电极间的电流值为0.01mA以上200mA以下的范围。9.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：笠井督夫，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP