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环形共光路点衍射干涉波前传感装置制造方法及图纸

技术编号:5737425 阅读:281 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种环形共光路点衍射干涉波前传感装置。包括光学匹配系统、分光镜、第一和第二反射镜、第一和第二傅立叶透镜、CCD和计算机系统;还包括在第一和第二傅立叶透镜共焦平面处添加一个含有参考针孔和测试窗口的双孔空间滤波板。待测激光被分光镜分为两束,一束通过参考针孔发生小孔衍射,产生近似理想平面波作为参考光;另一束则几乎无衰减通过测试窗口作为信号光,通过调节分光镜的倾斜角度引入空间线性载频,因此只需单幅载频干涉条纹、且不需要任何迭代过程就可快速准确地复原出待测波前相位分布。本实用新型专利技术采用环形共光路结构、无需专门的参考光、且系统稳定性强,可适用于各类波前相位动、静态检测应用领域。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种自参考干涉波前相位传感技术,特别涉及一种环形共光路点 衍射干涉波前传感装置,属于光学检测

技术介绍
在激光自适应光学系统、高功率激光系统畸变波前实时诊断、光学元件的表面检 测、激光光束净化等领域中经常需要测量光波的波前相位分布情况。常用的波前相位传感 技术有哈特曼波前传感技术、曲率波前传感技术以及自参考干涉波前测量技术等。其中, 哈特曼波前传感技术的基本原理是利用微透镜阵列把入射波前分割为若干个子波前,然后 利用二维阵列光电探测器测量各个子波前经各自的微透镜得到聚焦光斑的质心偏移量,从 而得到待测波前的斜率,最后由各种波前重构算法得到待测波前相位分布情况。哈特曼波 前传感器标定方便,结构简单,其波前恢复过程可以由线性矩阵运算完成,因而能够实现波 前的实时动态测量,是目前应用比较广泛的一类波前传感器。但是其测量精度受到其空间 分辨率的限制。与哈特曼波前传感器相比,曲率波前传感技术有它的一些重要的优势,诸如 曲率波前传感器获得的波前曲率分布信号,不需要像哈特曼波前传感器那样经过繁琐的计 算就可以直接用于控制波前校正系统来校正待测畸变波前,从而加快了反馈速度;但是曲 率波前传感器只适用于探测畸变波前空间频率较低的成分,对于高频部分,其精度不如哈 特曼波前传感器高。而作为波前测量技术的自参考干涉仪早已成为光学元件、光学系统以及激光光束 质量检测的重要手段,其检测精度可以达到百分之一波长量级。其中点衍射干涉仪(PDI) 是一种结构简单的共光路干涉仪,由R. N. Smartt于1972年首先提出。其基本原理如图1 所示,在一个半透明平板上设置一个大小合适的通光小孔,形成一个小孔掩模板,小孔掩模 板置于会聚透镜焦平面。当通光小孔直径足够小时,由小孔衍射形成可近似看作理想球面 波作为参考光波,而透过半透明平板的波前则包含了被测波前相位信息,通过分析参考光 与待测光产生的干涉条纹便可以重构待测波前相位分布。然而,由于传统点衍射干涉仪的 参考光束与信号光束几乎保持相同的几何光轴,产生的干涉图中通常包含极少的条纹,因 此不能采用傅立叶分析法来提取待测波前相位信息;也同样的因为是共光路结构使得在参 考光与信号光之间引入相移变得困难。1964 年,Μ· V. R. K. Murty 在文献 “A compact radial shearing interferometer based on the law of refraction, Appl. Opt, 3 (7) :853-858 (1964) ”提出了另一种自参考 干涉仪,环路径向剪切干涉仪(Cyclic Radial Shearing Interferometry,CRSI) 它是将 待测波前经径向剪切干涉仪分别放大和缩小后在相互重叠区域产生干涉从而对畸变波前 相位分布进行检测的一种有效的干涉测量技术。由于其采用共光路、无需专门参考光,因而 对环境振动等因素不敏感,故可以用于恶劣工作环境条件下;特别是引入了空间相位调制 技术使得被测波前相位信息的提取变得容易,即由单幅干涉图就可以实现畸变波前的全场 检测,并且具有较高的精度,所以其在瞬态波前检测领域中具有较大优势。如A. R. Barnes禾口 L. C. Smith 在文献"A combined phase, near and far field diagnostic for large aperture laser system, Proc. SPIE. 3492,564-572 (1999) ” 中报道了基于 CRSI 对大口径 激光系统的近场和远场的输出波前进行了检测。由于CRSI —般是通过望远系统实现对待 测波前的放大和缩小,因此对于缓变波前,当望远系统的放大倍数足够大时,被放大的波前 可近似看作理想的平面波;当待测波前相位分布为比较复杂时,即使增大望远系统的放大 倍数也难于获得理想的参考平面波,因此本质上从干涉条纹中提取出来的波前相位反映的 并不是待测波前真实的相位分布,而是放大波前和缩小波前之间的相位差。为了求得真实 的待测波前相位分布,Tsuguo Kohno 等人在文献“Radial shearing interferometer for in-process measurement of diamond turning, Opt. Eng. 39 (10) :2696-2699 (2000) ·,,中提 出了波前相位迭代算法以减小误差,从而获得了待测波前真实的相位分布的方法;后来四 川大学的李大海等人又在文献"Improved formula of wavefront reconstruction from a radial shearing interferogram, Opt. Lett. 33(3) :210-212 U008). ” 中考虑了放大波前 和缩小波前存在相对平移时的情况,得到与实际应用情况更为接近的波前相位迭代公式, 进一步的提高了波前相位检测精度。但是通过迭代算法要想使误差的校正达到较高的精 度,必须对较多的波前相位采样点进行重构计算,运算量非常大,因此限制了其在线测量和 瞬态波前检测等领域的应用。
技术实现思路
本技术的目的正是为了结合传统PDI和CRSI各自的优点而克服其不足,提出 一种新的环形共光路点衍射干涉波前传感装置。该波前传感装置采用环形共光路结构,在 参考光与信号光之间引入空间线性载频;使得新的波前传感装置稳定性强、不需要专门的 参考光、仅需单幅空间载频干涉条纹,并且不需要任何迭代过程就可以快速准确地复原出 待测波前相位分布情况;提高了波前相位的探测速度,可适用于各种波前相位静态和动态 高精度检测等领域。本技术的基本思想是设计一种新的环形共光路点衍射干涉波前传感装置, 该波前传感装置采用环形共光路结构,在参考光与信号光之间引入空间线性载频,利用空 间相位调制技术可以快速准确地复原待测波前相位分布情况。该波前传感装置包括光学匹 配系统、分光镜、第一反射镜和第二反射镜、第一傅立叶透镜和第二傅立叶透镜、含有参考 针孔和测试窗口的双孔空间滤波板、CCD探测器、计算机系统。按光路描述,所述分光镜将 待测激光分为两束,其中透射光束首先被第一反射镜反射后,进入第一傅立叶透镜并在其 焦平面处几乎无损通过双孔空间滤波板上的测试窗口后,进入第二傅立叶透镜形成缩小光 束;然后被第二反射镜反射后再次返回分光镜,作为含待测激光全部信息的信号光;该测 试窗口作为信号光通道,并滤除环境杂散光的影响;而经分光镜的反射光束首先被第二反 射镜反射后,进入第一傅立叶透镜并在其焦平面处通过双孔空间滤波板上的参考针孔发生 小孔衍射,当参考针孔孔径足够小时,衍射光束可以看作近似理想的球面波,经第一傅立叶 透镜后被放大形成近似理想的平面波,然后被第一反射镜反射后被分光镜再次反射作为理 想参考光;并通过调节分光镜倾斜角度引入空间线性载频,最后信号光与参考光在相互重 叠的区域形成含有待测波前相位全部信息的空间载频干涉条纹被CCD探测器接收并送至 计算机系统处理。因此仅需单幅空间载频干涉条纹就可以直接的复原出待测波前的真实相位信息,避免了现有波前相位迭代算法繁杂本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种环形共光路点衍射干涉波前传感装置,包括光学匹配系统(1)、分光镜(2)、第一反射镜(3)和第二反射镜(7)、第一傅立叶透镜(4)和第二傅立叶透镜(6)、CCD探测器(8)、计算机系统(9);其特征在于还包括在第一傅立叶透镜(4)和第二傅立叶透镜(6)组成望远镜系统的共焦平面处添加一个含参考针孔(11)和测试窗口(10)的双孔空间滤波板(5);按照光路描述,来自光学匹配系统(1)的待测激光光束经分光镜(2)分为两束光,其中透射光束被第一反射镜(3)反射后进入第一傅立叶透镜(4)并通过在其焦平面处双孔空间滤波板(5)上的测试窗口(10),然后进入第二傅立叶透镜(6)形成缩小光束,被第二反射镜(7)反射后再次返回分光镜(2)作为信号光;而经分光镜(2)的反射光束被第二反射镜(7)反射后进入第一傅立叶透镜(4)并通过在其焦平面处双孔空间滤波板(5)上的参考针孔发生小孔衍射,衍射光经第一傅立叶透镜(4)放大,再经第一反射镜(3)反射后被分光镜(2)再次反射作为参考光;所述信号光和参考光在相互重叠的区域发生干涉并形成干涉条纹。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冯国英杜永兆周寿桓
申请(专利权)人:四川大学
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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