一种按键开关寿命测试机制造技术

本实用新型专利技术涉及元件寿命测试装置，尤其涉及按键开关寿命的测试装置。本实用新型专利技术的按键开关寿命测试机，包括有：底座、机箱、设置于机箱内的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键。本实用新型专利技术能够通过不同档位调节，实现不同强度的按键开关寿命测试。能够通过大功率可调电阻的调节，测试不同通电电流下的按键开关寿命。能够通过逻辑门电路组成的主控电路，可以实现档位自锁功能，避免跳档现象。因此可以适用于不同型号按键开关的机械或电气性能寿命测试。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及元件寿命测试装置，尤其涉及按键开关寿命的测试装置。
技术介绍
为保证按键开关的品质，按压式开关均需经过寿命测试，即通过对按键开 关重复进行按压动作以测试其使用寿命。但是传统按键开关寿命测试装置往往 针对单一型号按键开关设计，其按压频率、力度档位通常不可调节，且不对多个按键开关进行同时测试，效率不高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种具有不同调节档位且能应用于多种按键开 关型号，并能同时测试多个按键开关的按键开关寿命测试装置。 为实现上述目的，本技术采用如下技术方案本技术的按键开关寿命测试机，包括有底座、机箱、设置于机箱内 的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键。 更关键的，所述的往复驱动机构包括偏心轮，拉动连杆往复运动，且受驱于与之联结的驱动电机。 连杆，连接偏心轮与第一滑块。第一滑块，限制于导轨上且与连杆联结，通过连杆带动前后往复滑动于导轨。导轨，限定第一滑块和第二滑块在固定轨道前后往复移动。第二滑块，受驱于第一滑块且限制于导轨上，并与冲击头连杆连接。 冲击头连杆，连接第二滑块与冲击头。冲击头，固定于冲击头连杆末端，用于冲击按键开关的按压部；可以通过 更换不同冲击头以测试不同型号4务建开关。锁固块，用于固定4姿^:开关的卡紧装置。所述控制电路至少包括主控电路，由逻辑门芯片组成。计数器模块，用于计数测试次数并电性连接于主控电路。 电源模块，为控制电路和测试开关《^4建提供工作电源。 可调限流模块，用于电路限流且可调。 进一步的，所述的驱动电机为直流电机。进一步的，所述的第一滑块和第二滑块之间还设置一连接件，该连接件贯 穿于第一滑块、第二滑块中间的孔。进一步的，所述的冲击头端面设置有一个或者多个凹孔，凹孔形状尺寸与 按键开关的按压部一致。进一步的，所述的逻辑门芯片为双D触发器、与门、与非门及非门，其组 成的电路能够实现档位自锁功能，避免跳档。进一步的，所述的计数模块为多个可预置式6位计数器，每个计数器分别 对应相应的测试开关。进一步的，所述的电源模块为5v、 12v、 24v、 0-50v可调的直流稳压开关 电源。进一步的，所述的可调限流模块为大功率可调电阻。采用上述的技术方案，本技术具有以下优点1. 能够通过不同档位调节，实现不同强度的按^:开关寿命测试。2. 通过大功率可调电阻的调节，测试不同通电电流下的按键开关寿命。3，通过逻辑门电^各组成的主控电路，可以实现档位自锁功能，避免跳档现 象。 '附图说明图l是本技术的整体结构示意图； '图2是本技术的电路模块图3是本技术的电路原理图。 标号"i兌明 底座1机箱2 排气窗21显示屏幕3往复驱动机构4 偏心轮41 连杆42 第一滑块43导轨44 第二滑块45 冲击头连杆46 沖击头47锁固块48 控制键具体实施方式如图l所示，本技术的按键开关寿命测试机，包括有底座l、机箱2、 设置于机箱2内的控制电路和驱动电机、设置于机箱2外的往复驱动机构4、显 示屏幕3和控制键5。所述的往复驱动机构4包括偏心轮41,拉动连杆42往复运动，且受驱于与之联结的驱动电机。所述的驱动电机为直流电机。驱动电机转速可调节，通过转速控制接口调控转速，从而驱动偏心轮41以不同速度转动。驱动电机处的机箱2上还设置有排气窗21， 用于扇热。连杆42,连接偏心轮41与第一滑块43。连杆42可以是曲臂连杆也可以是 直臂连杆，本技术最佳实施方式采用直臂连杆。第一滑块43，限制于导轨"上且与连杆42联结，通过连杆42带动前后往 复滑动于导轨44。第一滑块43两侧设置有轨道孔，用于限制第一滑块43运行 于罔定轨道。导轨44，限定第一滑块43和第二滑块45在固定轨道前后往复移动。第一 滑块43和第二滑块45两侧设置有轨道孔，导轨44的两定位杆为光滑圆杆，分 别贯穿第一滑块43和第二滑块45两側设置有轨道孔。第二滑块45，受驱于第一滑块43且限制于导轨44上，并与冲击头连杆46 连接。第二滑块45两侧设置有轨道孔，用于限制第二滑块45运行于固定轨道。如图1所示，所述的第一滑块43和第二滑块45之间还设置一连接件，该 连接件贯穿于第一滑块43、第二滑块45中间的孔。冲击头连杆46,连接第二滑块45与沖击头47。沖击头连杆46被第二滑块 45推动行进。冲击头47,固定于沖击头连杆46末端，用于冲击按4泉开关的按压部；沖击 头47与冲击头连杆46可组装和拆卸，故可以通过更换不同的冲击头以测试不 同型号按键开关。且所述的冲击头47端面设置有一个或者多个凹孔，凹孔形状 尺寸与按键开关的按压部 一致。锁固块48，用于固定4姿一建开关的卡紧装置。且锁固块48的位置可以调节，以适应不同4姿^鍵开关类型。.如图2所示，档位选择面板、预置式6位计数器计数、待测开关测试装态 指示、待测开关电压电流表、大功率可调限流电阻和各开关电源均电性连接于 主控部分的电路。如图3所示，所述控制电路至少包括主控电路，由逻辑门芯片组成。所述的逻辑门芯片为双D触发器CD4013、 与门74LS08、与非门CD4011及非门4069，其组成的逻辑功能的电路能够实现 档位自锁功能，避免跳档。'计数器模块，用于计数测试次数并电性连接于主控电路。进一步的，所述 的计数模块为多个可预置式6位计数器。计数的脉冲取自被测按键开关导通脉 沖，每个计数器分别对应相应的测试开关。当被测按键开关寿命达到极限时， 无法使用，即无法再产生导通脉冲，则计数器停止计数。电源模块，为控制电路和测试开关按键提供工作电源。进一步的，所述的 电源模块为5v、 12v、 24v、 0-50v可调的直流稳压开关电源。直流稳压开关电 源可以直接利用直流稳压开关电源芯片。如产生12v稳压直流电MC7812K,产生 5v'稳压直流电MC7805K等。当然也可以选用其他直流稳压开关电源芯片。可调限流模块，用于电路限流且可调。本技术的最佳实施例的可调限 流模块采用简单的大功率可调电阻。本技术能够用两种方式测试^4建开关寿命1、 在不外加电的机械寿命测试，即在不加工作电压及电流的情况下通过往 复驱动机构4往复按压被测按键开关。2、 在外加电下的电气寿命测试，即在外加工作电压及电流的情况下通过往复驱动机构4往复按压通电下的被测按键开关。且本技术具有常规的DC5V、 DC12V的两电压档，另外还设有0-50V连续可调电压档以满足一些特殊测试电压 要求。通过限流才莫块，本技术的工作电流档可以为DC5V120mA档、DC12V50mA 档、DC5V100mA档，并也可以调节出0-50V， 0-1000mA档。权利要求1、一种按键开关寿命测试机，该装置包括有底座、机箱、设置于机箱内的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键；其特征在于所述往复驱动机构包括偏心轮，拉动连杆往复运动，且受驱于与之联结的驱动电机；连杆，连接偏心轮与第一滑块；第一滑块，限制于导轨上且与连杆联结，通过连杆带动前后往复滑动于导轨；导轨，限定第一滑块和第二滑块在固定轨道前后往复移动；第二滑块，受驱于第一滑块且限制于导轨上，并与冲击头连杆连接；冲击头连杆，连接第二滑块与冲击头；冲击头，固定于冲击头连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种按键开关寿命测试机，该装置包括有：底座、机箱、设置于机箱内的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键；其特征在于：　所述往复驱动机构包括：　偏心轮，拉动连杆往复运动，且受驱于与之联结的驱动电机；　 　连杆，连接偏心轮与第一滑块；　第一滑块，限制于导轨上且与连杆联结，通过连杆带动前后往复滑动于导轨；　导轨，限定第一滑块和第二滑块在固定轨道前后往复移动；　第二滑块，受驱于第一滑块且限制于导轨上，并与冲击头连杆连接；　 　冲击头连杆，连接第二滑块与冲击头；　冲击头，固定于冲击头连杆末端，用于冲击按键开关的按压部；　锁固块，用于固定按键开关的卡紧装置；　所述控制电路至少包括：　主控电路，由逻辑门芯片组成；　计数器模块，用于计数测 试次数并电性连接于主控电路；　电源模块，为控制电路和测试开关按键提供工作电源；　可调限流模块，用于电路限流且可调。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小岚，杨振华，
申请(专利权)人：厦门金思维电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：92[中国|厦门]