本实用新型专利技术公开了一种电路高中低电平测试笔，其特征在于；包括电源供
给线路、电平测试探头电路和高中低电平显示电路。电源供给线路由红、黑线
分别接上红、黑色鳄鱼夹，用作接入被测电路的+5V电源和地线；电平测试探头
电路由探针G、电阻器R1和保护二极管(VD1、VD2)组成；高中低电平显示电
路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12)、红、黄、绿色发光二极管
(VD4、VD5、VD3)组成。该测试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光二极管
发光，显示被测电路的高、中、低电平，可应用于CMOS、TTL数字集成电路的高
中低电平测试，方便于高频瞬态信号的观察和捕捉，有助于较快地寻找和排除
故障。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子器械，具体涉及电路高中低电平测试笔。
技术介绍
目前CM0S、 TTL数字集成电路广泛应用于电子计算机、数字控制、数字通 信和自动化仪表设备中，使用万用表和示波器调试、检修这些电子设备往往比 较烦琐，特别是对于高频瞬态信号不易观察和捕捉。
技术实现思路
本技术所要解决的问题是如何提供一种电路高中低电平测试笔，该测 试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光二极管发光,显示被测电路的高、中、 低电平，可应用于CM0S、 TTL数字集成电路的高、中、低电平的测试，方便于 高频瞬态信号的观察和捕捉，有助于较快地寻找和排除故障。本技术所提出的技术问题是这样解决的构造一种电路高中低电平测 试笔，其特征在于包括电源供给线路、电平测试探头电路、高中低电平显示 电路。电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹，用作接入被测电路 的+5V电源和地线电平测试探头电路由探针G、电阻器R1和保护二极管(VD1、 VD2)组成；高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12) 和红、黄、绿色发光二极管(VD4、 VD5、 VD3)组成。本技术的有益效果为该测试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光 二极管发光，显示被测电路的高、中、低电平，可广泛应用于CM0S、 TTL数字 集成电路的高、中、低电平的测试，方便于高频瞬态信号的观察和捕捉，有助 于较快地寻找和排除故障。附图说明附图1是本技术的电路结构图。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的说明。如附图1所示，当探针G检测到电路为低电平时，三极管VT1截止，VT2、 VT3导通，VcE3X).7V,三极管VT4导通，绿色发光二极管VD3得电发光，表示电 路为低电平，同时三极管VT5、 VT6、 VT7均截止，发光二极管VD4、 VD5均不发 光；当探针G测得电路为中电平时，三极管VT1、 VT2导通，VT3饱和导通，Vce3 w0.3V,三极管VT4截止，绿色发光二极管VD3不发光，三极管VT5截止，红色 发光二极管VD4不发光，此时三极管VT5的集电极呈高电平，三极管VT6、 VT7 导通，黄色发光二极管VD5得电发光，表示电路为中电平；当探针G检测到电 路为髙电平时，三极管VT1、 VT2导通，VT3饱和导通，Vce3"0， 3V,三极管VT4 截止，绿色发光二极管VD3不发光，三极管VT5呈饱和导通状态，Vce5"0.3V, 红色发光二极管VD4得电发光，表示为高电平，此时，三极管VT6、 VT7截止， 黄色发光二极管VD5不发光。在电路中，二极管VD1、 VD2组成输入过压保护电 路，防止探针G误触过高正、负电压而损坏测试笔。元件参数R1-R12选用1/8W的碳膜电阻器；VD1-VD2选用IN4148 二极管., 绿色发光二极管VD3选用BT104,红色发光二极管VD4选用BT504,黄色发光二 极管VD5选用BT304: VT1-VT7选用C9013NPN硅型三极管。装配和使用注意1、本产品可装配成普通的测电笔样式。2、电路高中低 电平测试笔检测低电平范围为0-0. 7V，中电平范围为0， 9-2. 4V,高电平范围为 2.5-5V。 3、电路高中低电平测试笔工作电压使用被测电路工作电压，测试笔+5V 端用红线接上红鳄鱼夹，地线端用黑线接上黑鳄鱼夹，在测试电路电平时，红 色鳄鱼夹夹在被测电路+5V端上，黑色鳄鱼夹夹在被测电路公共地上。本技术还可做出各种不同的变通方式，以上通过由附图1所示实施例的具体实施方式，是对本技术的上述内容作一步详细说明,但不应将此理解 为本技术上述的主题的范围仅限于所描述的实例。在不脱离本技术上 述技术思想情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种替换和变 更，均应包括在本技术的范围内。权利要求1、一种电路高中低电平测试笔，其特征在于包括电源供给线路、电平测试探头电路、高中低电平显示电路；电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹，用作接入被测电路的+5V电源和地线；电平测试探头电路由探针(G)、电阻器(R1)和保护二极管(VD1、VD2)组成；高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12)和红、黄、绿色发光二极管(VD4、VD5、VD3)组成；其电源+5V端分别和二极管(VD1)负极、电阻器(R2、R3、R5、R9、R11)一端相连；电源负极接地端分别和二极管(VD2)正极、三极管(VT3、VT4、VT5、VT7)发射极、电阻器(R7)一端相连接；电平测试探针(G)和电阻器(R1)一端相连，电阻器(R1)另一端和二极管(VD1)的正极、二极管(VD2)的负极、三极管(VT1)的基极、三极管(VT2)的发射极相连接；绿色发光二极管(VD3)串联在三极管(VT4)的集电极电路上，其正、负极分别和电阻器(R5)、三极管(VT4)集电极相连接；红色发光二极管(VD4)和电阻(R8)并联，其正极和电阻器(R9)、负极和三极管(VT5)的集电极、电阻器(R10)一端相连接；黄色发光二极管(VD5)串联在三极管(VT6、VT7)之间，其正、负极分别和三极管(VT6)发射极、三极管(VT7)集电极相连接。专利摘要本技术公开了一种电路高中低电平测试笔，其特征在于；包括电源供给线路、电平测试探头电路和高中低电平显示电路。电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹，用作接入被测电路的+5V电源和地线；电平测试探头电路由探针G、电阻器R1和保护二极管(VD1、VD2)组成；高中低电平显示电路由检测放大三极管(VT1-VT7)、电阻器(R2-R12)、红、黄、绿色发光二极管(VD4、VD5、VD3)组成。该测试笔采用红、黄、绿三种不同颜色的发光二极管发光，显示被测电路的高、中、低电平，可应用于CMOS、TTL数字集成电路的高中低电平测试，方便于高频瞬态信号的观察和捕捉，有助于较快地寻找和排除故障。文档编号G01R19/165GK201293804SQ20082014121公开日2009年8月19日 申请日期2008年11月6日 优先权日2008年11月6日专利技术者陈清尧 申请人:陈清尧本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电路高中低电平测试笔，其特征在于：包括电源供给线路、电平测试探头电路、高中低电平显示电路；电源供给线路由红、黑线分别接上红、黑色鳄鱼夹，用作接入被测电路的＋５Ｖ电源和地线；电平测试探头电路由探针（Ｇ）、电阻器（Ｒ１）和保护二极管（ＶＤ１、ＶＤ２）组成；高中低电平显示电路由检测放大三极管（ＶＴ１－ＶＴ７）、电阻器（Ｒ２－Ｒ１２）和红、黄、绿色发光二极管（ＶＤ４、ＶＤ５、ＶＤ３）组成；其电源＋５Ｖ端分别和二极管（ＶＤ１）负极、电阻器（Ｒ２、Ｒ３、Ｒ５、Ｒ９、Ｒ１１）一端相连；电源负极接地端分别和二极管（ＶＤ２）正极、三极管（ＶＴ３、ＶＴ４、ＶＴ５、ＶＴ７）发射极、电阻器（Ｒ７）一端相连接；电平测试探针（Ｇ）和电阻器（Ｒ１）一端相连，电阻器（Ｒ１）另一端和二极管（ＶＤ１）的正极、二极管（ＶＤ２）的负极、三极管（ＶＴ１）的基极、三极管（ＶＴ２）的发射极相连接；绿色发光二极管（ＶＤ３）串联在三极管（ＶＴ４）的集电极电路上，其正、负极分别和电阻器（Ｒ５）、三极管（ＶＴ４）集电极相连接；红色发光二极管（ＶＤ４）和电阻（Ｒ８）并联，其正极和电阻器（Ｒ９）、负极和三极管（ＶＴ５）的集电极、电阻器（Ｒ１０）一端相连接；黄色发光二极管（ＶＤ５）串联在三极管（ＶＴ６、ＶＴ７）之间，其正、负极分别和三极管（ＶＴ６）发射极、三极管（ＶＴ７）集电极相连接。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈清尧，
申请(专利权)人：陈清尧，
类型：实用新型
国别省市：51
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