一种检验ＳＦ６密度控制器温度补偿准确性的方法技术

本发明专利技术公开了一种检验ＳＦ６密度控制器温度补偿准确性的方法，包括：放置ＳＦ６密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；连接ＳＦ６密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节标准压力检测装置的压力至与预设检验温度对应的器内压力；确定ＳＦ６密度控制器的显示压力；确定ＳＦ６密度控制器温度补偿准确性。在本发明专利技术公开的方法中，只将ＳＦ６密度控制器放入恒温箱中，在恒温箱空间不变的情况下可以放入更多ＳＦ６密度控制器，提高了检测效率；由标准压力检测装置来模拟充有ＳＦ６气体的容器在不同温度下的压力变化，不存在ＳＦ６气体液化的问题，在检测温度为－４０℃时也可以对ＳＦ６密度控制器的温度补偿准确性进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及压力式S:F6密度控制器应用
，尤其涉及一种检验S:F6密度控 制器温度补偿准确性的方法。
技术介绍
六氟化硫密度控制器(以下简称S:F6密度控制器)是用于监测和控制S:F6高压断 路器(又称s:F6高压开关)中S:F6气体密度的重要仪表，S:F6密度控制器对保证S:F6高压 断路器以至整个变电站、电网的正常安全运行，起着至关重要的作用。在容器中S:F6气体密度不改变的情况下，容器内的S:F6气体产生的压力随着温度 的升高而增大、随着温度的降低而减小。若是用常规的压力表进行监测，其压力表指针 会随着环境温度变化而变动，而s:F6密度控制器一个重要特性，就是具有温度补偿作用。3&密度控制器的工作原理在其内部安装温度补偿装置，利用温度补偿装置来 补偿因温度变化导致的s:F6密度控制器指针变动。在器内S:F6气体密度不变的前提下， 不管工作环境温度如何变化并带来器内压力的变化，s:F6密度控制器的指针总是指在其额 定压力位置，只有在因设备发生漏气造成器内S:F6气体密度下降的情况下，3^密度控制 器的指针才会变动，从而达到监测和控制s:F6高压断路器中S:F6气体密度的作用。由此可以看出，温度补偿装置在整个S:F6密度控制器中的重要作用。要保证温 度补偿装置的正常准确工作，就要确保其温度补偿这一重要技术指标的准确性。目前，检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的过程可以参见图1 :将被检S:F6密 度控制器1安装在检验容器2上，开启与检验容器2连接的球阀3，向检验容器2中充入 S:F6气体，将检验容器2的压力调整至S:F6密度控制器的额定压力，关闭球阀3，之后将 SF6密度控制器1和检验容器2放入恒温箱4中，将恒温箱4的温度调节至标准规定的试 验温度，在标准规定的试验时间后，读取s:F6密度控制器1指针的指标值，判断S:F6密度 控制器1的温度补偿是否准确。由于在检测过程中，必须将被检S:F6密度控制器1和检验容器2同时放入恒温箱 4中，S:F6密度控制器1和检验容器2占用的空间较大，使用目前的恒温箱，每次只能对3 个3&密度控制器进行检测，而每次检测会占用8个小时，检测效率低下，由于S:F6密度 控制器在出厂前必须进行温度补偿量的检验，所以现有的检验方法无法满足生产需求。 另外，标准规定的检验温度为_40°C 70°C，如果充入检测容器2中的是纯S:F6气体，那 么在-40°C的检验温度下S:F6气体会发生液化，此时S:F6密度控制器无法检验检测容器2 的压力，为了解决S:F6气体液化的问题，在检测容器2中冲入S^* N2的混合气体，但 是现在关于混合气体中S:F6和N2的比例没有统一规定，这导致检验结果失去准确性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方 法，可以提高检验效率、满足生产需求，并且可以在-40°C的检验温度下准确检验3&密度控制器的温度补偿准确性。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案一种检验s:F6密度控制器温度补偿准确性的方法，包括放置所述s:F6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；连接所述S:F6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力；确定所述S:F6密度控制器的显示压力；判断所述S:F6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述S:F6 密度控制器的温度补偿准确，否则所述s:F6密度控制器的温度补偿不准确。优选的，在上述方法中，进一步包括确定与所述预设检验温度对应的器内压力 的步骤，具体的，依据以下公式确定与所述预设检验温度对应的器内压力P器=P额+KX At其中，P器为充有SF6气体的容器的器内压力，P额为S:F6密度控制器的额定压 力，K为与Pi5对应的温度补偿系数，At为预设检验温度与20°C之间的差值。优选的，在上述方法中，所述K的取值为P额为 0.3MPa 时，所述 K 为 0.0015MPa/°C ；P额为 0.4MPa 时，所述 K 为 0.002MPa/°C ；P额为 0.5MPa 时，所述 K 为 0.0025MPa/°C ；P额为 0.6MPa 时，所述 K 为 0.003MPa/°C。优选的，在上述方法中，进一步包括记录所述S:F6密度控制器的显示压力的步马聚ο优选的，在上述方法中，所述预设检验温度为-40°C 70°C中的任一数值。优选的，在上述方法中，所述标准压力检测装置为标准压力表。优选的，在上述方法中，所述标准压力检测装置为储气瓶。由此可见，在本专利技术公开的检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法中，只将 SF6密度控制器放入恒温箱中进行升温或者降温，与现有方法中同时将检验容器放入恒温 箱相比，在恒温箱空间不变的情况下可以放入更多数量的s:F6密度控制器，提高了检测效 率，可以更好的满足生产需求；而且在本专利技术中根据与预设检验温度对应的器内压力来 调节标准压力检测装置的压力，由标准压力检测装置来模拟充有s:F6气体的容器在不同温 度下的压力变化，不存在S:F6气体液化的问题，所以在检测温度为-40°C时也可以对SF6 密度控制器的温度补偿准确性进行检测。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单 的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通 技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为采用现有方法检验S:F6密度控制器温度补偿准确性过程中S:F6密度控制器 在恒温箱中放置位置示意图2为本专利技术公开的一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流程图3为采用图2所示方法检验S:F6密度控制器温度补偿准确性过程中S:F6密度控 制器在恒温箱中放置位置示意图4为本专利技术公开的另一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流程 图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部实施例。 基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的 所有其他实施例，都属于本专利技术保护范围。本专利技术公开了一种检验3^密度控制器温度补偿准确性的方法，可以提高检验效 率、满足生产需求，并且可以在_40°C的检验温度下准确检验3^密度控制器的温度补偿 准确性。参见图2，图2为本专利技术公开的检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流 程图。包括步骤Sl 放置S:F6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间。将S:F6密度控制器放置于恒温箱中，控制恒温箱的温度处于预设检验温度，该预 设检验温度可以是标准规定中的-40°C 70°C中的任一值，将S:F6密度控制器在恒温箱中 放置预设检验时间，该预设检验时间可以保证s:F6密度控制器的温度与预设检验温度一 致。步骤S2 连接S:F6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路。当S:F6密度控制器在处于预设检验温度的恒温箱中放置预设检验时间后，将S:F6 密度控制器从恒温箱中取出，并将s:F6密度控制器的气路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检验ＳＦ↓［６］密度控制器温度补偿准确性的方法，其特征在于，包括：放置所述ＳＦ↓［６］密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；连接所述ＳＦ↓［６］密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力；确定所述ＳＦ↓［６］密度控制器的显示压力；判断所述ＳＦ↓［６］密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述ＳＦ６密度控制器的温度补偿准确，否则所述ＳＦ↓［６］密度控制器的温度补偿不准确。

【技术特征摘要】
1.一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法，其特征在于，包括 放置所述SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间； 连接所述SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力； 确定所述SF6密度控制器的显示压力；判断所述SF6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述SF6密度 控制器的温度补偿准确，否则所述SF6密度控制器的温度补偿不准确。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括确定与所述预设检验温度 对应的器内压力的步骤，具体的，依据以下公式确定与所述预设检验温度对应的器内压 力P器=P额+KX At其中，Pg为充有SF6气体的容器的器内压力，Pi5为SF6密度控制器的额定压力，K 为与Pi5对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：甘大方，郑召北，吕春兰，
申请(专利权)人：北京布莱迪仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]