三相检测设备制造技术

技术编号:5370159 阅读:218 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种设备,所述设备包括第一光耦合器和控制模块。第一光耦合器选择性地允许第一电流从N条电源线的第一对的第一条向所述第一对的第二条流动。N是大于2的整数。N条电源线分别提供相位信号。控制模块控制第一光耦合器,并且根据基于第一电流的第一信号来确定相位信号的断相的发生。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种三相检测设备,包括:第一光耦合器,所述第一光耦合器选择性地允许第一电流从N条电源线的第一对的第一条向所述第一对的第二条流动,其中所述N条电源线分别提供相位信号,并且其中N是大于2的整数;以及控制模块,所述控制模块控制所述第一光耦合器,并且根据基于所述第一电流的第一信号来确定所述相位信号的断相的发生。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴云峰王永兵
申请(专利权)人:艾默生环境优化技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:US[美国]

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