【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光束质量测量装置，特别是一种基于光强调制器的远场光束质量测量装置。
技术介绍
众所周知，当入射光束的光强不均勻，入射光强较弱的情况下，利用哈特曼等 探测近场位相畸变的传统自适应光学闭环方法已经无法使用。由此，Piotr Piatrou和 M. J. Booth 等先后在文章"Beaconless stochastic parallel gradient descent laser beam control -numerical experiments, APPLIED OPTICS，46(27)，2007” 禾口 “Wavefront sensorless adaptive optics for large aberrations，OPTICS LETTERS，32，5 (2007)，，提 出了利用远场光强实现自适应光学系统闭环。他们在文献中提出了一种新的光束质量评价 指标，并且指出利用这种新的评价指标可以准确的指导自适应光学系统闭环，校正入射光 束的位相畸变。文献中均采用CCD记录远场光强分布，而后利用软件加权的方法实现对这 种新评价指标的获取。这种获取方法所带来的问题是一方面，由于一般CCD探测速度较 慢，加之必要的加权运算时间，所获取的性能指标间隔较大，由此组成的自适应光学系统闭 环带宽必然较小；另一方面，CCD动态范围较小，而探测的光强在校正前后分布差异较大， 很容易出现光强饱和区域或光强太小而无法探测的区域，使最终计算得到的性能指标不准 确。目前利用硬件方式实现上述文献所需的光束质量评价指标，即权利要求1.基于光强调制器的远场...
【技术保护点】
基于光强调制器的远场光束质量测量装置，其特征在于包括，在光轴上依序排列的成像系统（１）、光强调制器（２）和光强探测器（３）；光强探测器（３）的输出端和计算机（４）的数据输入输出端连接，成像系统（１）将接收的入射光束转变为会聚光束；光强调制器（２）将接收不同光束质量的会聚光束并调制生成具有不同能量大小的输出光束；光强探测器（３）捕获调制后的输出光束并输出反映光束质量的数值；计算机（４）采集光强探测器（３）输出的用以反映光束质量的数值并在计算机（４）的显示器中显示。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄林海，饶长辉，姜文汉，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]
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