光学驱动装置及倾斜检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术披露了一种光学驱动装置及倾斜检测方法，该光学驱动装置用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，该光学驱动装置包括：位置控制单元，被配置为经由物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在反射膜上的第二光的反射光使第二光的光斑位置能够跟随位置引导元件以控制物镜的位置。该光学驱动装置进一步包括第一聚焦单元、第一光传感部和表面反射光偏移量检测单元。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于通过利用物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的 必要位置处形成标记来执行信息记录或再现所记录的信息的光学驱动装置以及这种光学 驱动装置的倾斜检测方法，更具体地，涉及一种用于通过物镜将第二光聚焦在其中形成有 光学记录介质的位置引导元件的反射膜上并使第二光的光斑位置能够根据聚焦在反射膜 上的第二光的反射光跟随位置引导元件以控制物镜位置的光学驱动装置。
技术介绍
作为用于通过照射光来记录/再现信号的光学记录介质，诸如压缩盘(CD)、数字 多功能光盘(DVD)或蓝光光盘(BD)(注册商标)的所谓的光盘已经开始广泛使用。关于目前以⑶、DVD、BD等状态广泛使用的下一代光学记录介质，首先，本专利技术申 请人提出了在日本未审查专利申请公开第2008-135144或2008-176902号中所描述的一种 所谓的块记录(bulk recording)型光学记录介质。这里，例如，块记录表示一种通过将激光束照射到至少具有覆盖层101和块层(记 录层)102的光学记录介质(块型记录介质100)，顺序改变聚焦位置以在块层102中执行多 层记录来实现大的记录容量的技术。在这样的块记录中，日本未审查专利申请公开第2008-135144号公开了一种被称 为所谓的微全息方法的记录技术。该微全息方法分为正型微全息方法和负型微全息方法，如图21A和图21B所示。在微全息方法中，所谓的全息记录材料被用作块层102的记录介质。作为全息记 录介质，例如光可聚合性光致聚合物等是众所周知的。如图21A所示，正型微全息方法是一种将两个相对的光通量(光通量A和光通量 B)聚焦在同一位置以形成微小干涉条纹(全息)并使用该微小干涉条纹作为记录标记的方法。与正型微全息方法相反，图21B中所示的负型微全息方法是一种由激光束照射擦 除预先形成的干涉条纹并使用该擦除的部分作为记录标记的方法。图22A和图22B是示出了负型微全息方法的图示。在负型微全息方法中，在执行记录操作之前，如图22A中所示，预先执行初始化过 程以在块层102中形成干涉条纹。具体地，如图所示，相对地照射平行光的光通量C和D以 在全部块层102中形成干涉条纹。当初始化过程预先形成干涉条纹之后，如图22B所示，通过形成擦除标记执行信 息记录。具体地，通过根据记录信息将激光束以聚焦状态照射在任意层位置，执行通过擦除标记的信息记录。本专利技术申请人提出例如一种形成日本未审查专利申请公开第2008-176902号公 开的孔隙(孔洞)作为记录标记的记录方法，作为与微全息方法不同的块记录方法。孔隙记录方法是例如一种以相对高的功率将激光束照射到由记录材料(诸如光 可聚合性光致聚合物)形成的块层102，从而在块层102中记录孔洞(孔隙)的方法。如日 本未审查专利申请公开第2008-176902号所述，形成的孔洞部分具有与块层102的其他部 分不同的折射率，从而其边界部分的光反射率增大。因此，孔洞部分用作记录标记，从而实 现了通过形成孔洞标记进行信息记录。在这样的孔隙记录方法中，由于未形成全息，因此由一侧的光照射完成记录。艮口， 作为按照正型微全息方法，不必将两光通量聚焦在同一位置以形成记录标记。此外，与负型微全息方法相比，正型微全息方法具有不执行初始化过程的优点。虽然在日本未审查专利申请公开第2008-176902号中描述了一种在执行孔隙记 录时的记录之前照射预固化光(pre-cure light)的实施例，然而即使当省略了预固化光的 照射，仍可能进行孔隙记录。然而，即使在块记录型(也被简称为块型)光学记录介质(其中提出以上多种记 录方法)中，在例如形成多个反射膜的意义上，块型光学记录介质的记录层(块层)不具有 明显的多层结构。即，在块层102中，不设置包含在一般多层光盘的每个记录层中的反射膜 和引导凹槽。因此，在图20中所示的块型记录介质100的结构中，在不形成标记的记录过程中 不执行聚焦伺服或跟踪伺服。因此，实际上，在块型记录介质100中，设置了成为具有图23中所示的引导凹槽的 基准的反射表面(基准表面)。具体地，在覆盖层101的下表面侧中形成诸如凹坑或凹槽的引导凹槽并且在其上 形成选择性反射膜103。将块层102层压在其上形成有选择性反射膜103的覆盖层101的 下层侧上，插入在其间的粘合材料作为图示的中间层104，诸如UV光固化树脂。形成这样的介质结构之后，如图M中所示，与用于记录(或再现)标记的激光束 (第一激光束)分离地将第二激光束照射到块型记录介质100作为位置控制激光束。如图所示，通过共用物镜将第一激光束和第二激光束照射到块型光学记录介质 100。此时，如果第二激光束到达块层102，则在块层102中记录的标记可能受到不利影 响。因此，在相关领域的块记录方法中，将具有与第一激光束的波长范围不同的波长范围的 激光束用作第二激光束，并将具有波长选择性的选择性反射膜103设置为在引导凹槽形成 表面(基准表面)上形成的反射膜，该膜反射第二激光束并透过第一激光束。基于以上假设，将参照图M描述在标记记录时的操作。首先，当关于其中没有形成引导凹槽或反射膜的块层102执行多层记录时，在块 层102的深度方向预先设置用于记录标记的层位置。在图示中，示出了将包括第一信息记 录层Ll至第五信息记录层L5的全部5层信息记录层(标记形成层)L设置为用于在块层 102中形成标记的层位置(标记形成层；也被称为信息记录层)的情况。如图所示，将第一 信息记录层Ll的层位置设置到在聚焦方向(深度方向)上与其中形成引导凹槽的选择性反射膜103 (基准表面)分开第一偏移量of-Ll的位置。将第二信息记录层L2的层位置、第 三信息记录层L3的层位置、第四信息记录层L4的层位置和第五信息记录层L5的层位置分 别设置到与选择性反射膜103分开第二偏移量of-L2、第三偏移量of-L3、第四偏移量of-L4 和第五偏移量of-L5的位置。在尚未形成标记的记录过程中，对于作为目标的第一激光束的反射光不根据块层 102中的层位置执行聚焦伺服和跟踪伺服。因此，执行记录过程中物镜的聚焦伺服控制和跟 踪伺服控制，以使第二激光束的光斑位置能够根据作为位置控制光束的第二激光束的反射 光来跟随选择性反射膜103上的引导凹槽。对于作为标记记录光束的第一激光束，到达形成在选择性反射膜103的下层侧上 的块层102是必要的。因此，在这种情况的光学系统中，提供了一种与物镜的聚焦机构分立 的独立调节第一激光束的聚焦位置的第一激光聚焦机构。作为第一激光聚焦机构，可以实现一种用于改变入射到物镜等的第一激光束的校 准的扩展器(expander)。在记录过程，当对预先设置的信息记录层L中的必要的信息记录层L执行标记记 录时，控制第一激光聚焦机构以将第一激光束的聚焦位置改变对应于所选择的信息记录层 L的偏移量“of ”。在图示中，示出了在选择第三信息记录层L3作为要记录的信息记录层L， 并且与之对应，将第一激光束的聚焦位置从选择性反射膜103改变第三偏移量of_L3的情 况。如上所述，执行物镜的聚焦伺服控制，以根据第二激光束的反射光跟随选择性反 射膜103。因此，可以实现对第一激光束的某种聚焦伺服(跟随表面摆动等)。关于记录过程中的第一激光束的跟踪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学驱动装置，用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，所述光学驱动装置包括：位置控制单元，被配置为经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置；第一聚焦单元，被配置为聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光；第一光传感部，被设置为使包含在由所述第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面上；以及表面反射光偏移量检测单元，被配置为基于由所述第一光传感部产生的光传感信号来检测来自所述表面的所述反射光的所述光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。

【技术特征摘要】
JP 2009-10-23 2009-2443891.一种光学驱动装置，用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要 位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，所述光学驱动装置包括位置控制单元，被配置为经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质 的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第 二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置；第一聚焦单元，被配置为聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物 镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光；第一光传感部，被设置为使包含在由所述第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中 的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面 上；以及表面反射光偏移量检测单元，被配置为基于由所述第一光传感部产生的光传感信号来 检测来自所述表面的所述反射光的所述光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。2.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括分光元件，被配置为光谱地分割经由 所述物镜从所述光学记录介质入射的所述第二光的反射光，其中，所述第一聚焦单元被设置在至少一个被所述第一分光元件光谱地分割的光所聚 焦的位置。3.根据权利要求1所述的光学驱动装置，其中所述分光元件包括第一全息元件，并通过衍射来光谱地分割经由所述物镜入射的所述 第二光的反射光，所述第一聚焦单元被设置在由作为所述第一全息元件的所述分光元件光谱地分割的0 阶光和1阶光都聚焦的位置，以及所述第一光传感部被设置在包含在从所述分光元件输出的1阶光侧中的来自所述表 面的反射光的由所述第一聚焦单元形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处。4.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括第一聚焦位置校正单元，被配置为基 于有关由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息来校正所述第一光在 所述记录层中的聚焦位置。5.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括检测光照射单元，在用于将从光源发射的所述第二光引导到所述物镜的光路中具有第 二全息元件，所述第二全息元件被插入在光源侧但不是分光点的位置上，用于光谱地分割 所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光，并且，所述检测光照射单元被配置为经由 所述物镜接收从所述第二全息元件输出的1阶光，并且照射聚焦在位于所述反射膜的后面 且距离所述反射膜为所述光学记录介质的表面与所述反射膜之间的距离的两倍的位置处 的检测光；第二聚焦单元，被配置为聚焦通过将所述检测光照射到所述光学记录介质而经由所述 物镜入射的所述检测光的来自所述光学记录介质的反射光；第二光传感部，被设置为使包含在由所述第二聚焦单元聚焦的所述检测光的反射光中 的所述检测光的来自所述反射膜的反射光的光斑形成在所述第二传感部的光传感表面上； 以及检测光偏移量检测单元，被配置为基于所述第二光传感部产生...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐藤公博，久保毅，田部典宏，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]