本发明专利技术涉及光拾取器装置及光盘装置。该光拾取器装置，将来自多层光盘的反射光分割为多个区域，分割后的光束在光检测器上的不同位置聚集于焦点，同时使用多个分割后的光束，由刀口法检测出聚焦误差信号，使用多个分割后的光束检测出跟踪误差信号。进而，在焦点与目的层相吻合时，配置光束的分割区域与受光面，使来自其他层的杂散光不进入光检测器的伺服信号用的受光面。由此，在多层光盘的记录再现中，聚焦误差信号与跟踪误差信号都不受来自其他层的杂散光的影响，能够得到稳定的伺服信号。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光拾取器装置及光盘装置。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
，例如，存在日本专利特开2006-344344号公报(以下称为专利文献1)。在该公报中记载了 "从具 有多个记录层的光盘高精度地取得所希望的信号"。而且，还存在日本 专利特开2006-344380号公报(以下称为专利文献2)。在该公报中记 载了 "即使是在使用具有2个信息记录面的光存储介质的情况下，也 能够检测出偏移量(才7ir:y卜)小的跟踪误差信号"。进而，例如在 电子信息通信学会信学技术报CPM20005-149 (2005-10，第33页， 图4、图5)(以下称为非专利文献l)中，记载了 "将跟踪用光盘配置 于其他层没有杂散光的区域"。在专利文献l中，其结构为，由聚光透镜聚焦光盘所反射的光束， 由聚光透镜使透过2枚1/4波长板与偏光光学元件而扩展的光聚集，照 射于检测器。因此，具有检测光学体系复杂，尺寸增大的担忧。在专 利文献2中，由于是在激光光源后配置3点生成用的衍射光栅，在盘 上照射有1个主光点与2个次光点，所以存在记录所必要的主光束的 利用率下降的担忧。在非专利文献1中，由于是在聚焦用光检测器周围生成的聚焦用 光束的来自其他层的杂散光的外侧配置跟踪用光检测器，进而使全息 摄影元件的中央部所衍射的光从来自其他层的杂散光的外侧飞出的结 构，所以有关测器的尺寸增大的担忧。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供即使是在对具有多个记录面的信息存储介质进行记录再现的情况下，也能够得到稳定的伺服信号的光拾取器 装置及装载有该光拾取器装置的光盘装置。上述目的，可以通过权利要求中所述的专利技术而达到。本专利技术提供一种光拾取器装置，其包括射出光束的半导体激光 器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜; 对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过 上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上述衍射光栅 具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘上的轨道所 衍射的衍射光中，只有O次衍射光入射到上述区域A， 0次、±1次衍 射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、 B、 C 衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的+l次 衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述光盘 的轨道的方向大体垂直的方向或大体平行的方向上。根据本专利技术，还提供一种光拾取器装置，其包括射出光束的半 导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光 盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多 个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上 述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘 上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A， 0次、 ±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的 + 1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述 光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并且对在上述衍射光栅的区域B 衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对 应上述光盘的轨道方向大体平行的方向上。根据本专利技术还提供一种光盘装置，其搭载有，光拾取器装置，其 包括射出光束的半导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的 光束聚光并照射到光盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的 衍射光栅；和具有多个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的 光检测器，其中，上述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三 个区域，由上述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A， 0次、±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光 检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在 上述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行检测的多 个受光面排列在与对应上述光盘的轨道的方向大体垂直的方向或大体 平行的方向上；激光器点亮电路，其驱动上述光拾取器装置内的上述 半导体激光器；伺服信号生成电路，其使用从上述光拾取器装置内的 上述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和 信息信号再现电路，其对记录在上述光盘的信息信号进行再现。根据本专利技术还提供一种光盘装置，其搭载有，光拾取器装置，其 包括射出光束的半导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的 光束聚光并照射到光盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的 衍射光栅；和具有多个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的 光检测器，其中，上述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三 个区域，由上述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入 射到上述区域A， 0次、±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光 检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在 上述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行检测的多 个受光面排列在与对应上述光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并 且对在上述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检 测的多个受光面排列在与对应上述光盘的轨道方向大体平行的方向 上；激光器点亮电路，其驱动上述光拾取器装置内的上述半导体激光 器；伺服信号生成电路，其使用从上述光拾取器装置内的上述光检测 器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和信息信号再 现电路，其对记录在上述光盘的信息信号进行再现。根据本专利技术，能够提供即使是在对具有多个记录面的信息存储介 质进行记录再现的情况下，也能够得到稳定的伺服信号的光拾取器装 置及装载有该光拾取器装置的光盘装置。附图说明本专利技术的上述及其他特征、目的与优点，能够通过以下的附图与 说明而得到更好的理解。图1是说明实施例1中的光拾取器装置与光盘的配置的图。图2是说明实施例1中本专利技术的光学体系的图。图3是表示实施例1中本专利技术的衍射光栅的图。图4是表示实施例1中本专利技术的受光面的图。图5是表示实施例1中2层光盘的杂散光的形状的图。图6是说明来自2层光盘的其他层的杂散光的行为的图。图7是说明来自2层光盘的其他层的杂散光的行为的图。图8是表示实施例1中本专利技术的其他受光面的图。图9是表示实施例1中本专利技术的其他衍射光栅的图。图10是表示实施例2中本专利技术的受光面的图。图11是表示实施例2中2层光盘的杂散光的形状的图。图12是表示实施例2中本专利技术的其他受光面的图。图13是表示实施例3中本专利技术的受光面的图。图14是表示实施例3中杂散光的形状的图。图15是表示实施例3中2层光盘的杂散光的形状的图。图16是说明实施例4中光学的记录再现装置的图。图17是说明实施例5中光学的记录再现装置的图。具体实施例方式以下说明本专利技术的实施形式。 (实施例1)图1是表示本专利技术的实施例1中的光拾取器装置的一例的图。光拾取器装置1，如图1所示，是能够由驱动机构7在光盘100 的Rad方向上驱动的机构。而且，在光拾取器装置的致动器5上，装 载有物镜2，从该物镜2向光盘照射光。从物镜2射出的光在光盘100 上形成光点，由光盘100反射。通过检测该反射光，生成聚焦误差信 号、跟踪误差信号。在上述光拾取本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光拾取器装置，其特征在于，包括： 射出光束的半导体激光器； 用于将从所述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜； 对从所述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和 具有多个接受通过所述衍射光栅分光的光束的受光面 的光检测器，其中， 所述衍射光栅具有区域Ａ、区域Ｂ、和区域Ｃ这三个区域， 由所述光盘上的轨道所衍射的衍射光中， 只有０次衍射光入射到所述区域Ａ， ０次、±１次衍射光入射到所述区域Ｂ， 在所述光检测器中，从在所述 区域Ａ、Ｂ、Ｃ衍射的光束检测出再现信号， 对在所述衍射光栅的区域Ａ衍射的＋１次衍射光或－１次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道的方向大体垂直的方向或大体平行的方向上。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：山崎和良，
申请(专利权)人：日立视听媒介电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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