光拾取器装置、光盘装置和衍射光栅制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光拾取器装置、光盘装置和衍射光栅。根据本发明专利技术，提供能够抑制在未记录区域和记录区域的边界部发生的跟踪误差信号的偏移的光拾取器装置和光学的记录再现装置。将３条光束用衍射光栅分割成２个区域。而且，分割成２个区域的分割线相对沟槽周期构造在大致垂直的方向中存在阶梯差，该阶梯差之间的分割线形成阶梯形状。使由该分割线分割出的半面和另一个半面的沟槽周期构造的相位差约为１８０度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光拾取器装置、光盘装置和衍射光栅。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
，例如存在日本特开平9-81942号专利 公报。在本专利公报中，作为课题，记载着"光学系统能够得到简单 地抑制由于物镜的平移和信息记录介质的倾斜发生的偏移，并且即便 信息记录介质的磁道间隔发生变化也能够最大地保持跟踪误差信号的 振幅的跟踪误差信号检测装置。"，作为解决方法记载着"将聚光点配 置在上述信息记录介质上，其中，上述聚光点由包含将约180度的相 位差给予大致半面的一条光束的2条光束形成，从一对2分割光检测 器的各个对来自该信息记录介质的光束进行差输出，得到跟踪误差信 号。"日本特开平9-819"号专利公报光拾取器装置，因为一般将光点正确地照射在处于光盘内的规定 的记录磁道上，所以通过聚焦误差信号的检测使物镜沿聚焦方向变化 沿聚焦方向进行调整，此外通过检测跟踪误差信号使物镜向光盘状记 录介质的半径方向移位以进行跟踪调整。根据这些信号进行物镜的位 置控制。其中作为跟踪误差信号检测方法，推挽方式(7。:y、:/二:7。》 方式)是众所周知的，但是存在着由于物镜的跟踪方向位移容易生成 大的直流变动(以下称为DC偏移)那样的课题。因此，正在广泛地 使用能够减少该DC偏移的差动推挽方式(以下，称为己有的DPP方 式)。已有的DPP方式是通过使光盘上的3个光点间隔对光盘半径方向， 与磁道间距的一半一致，能够抑制伴随着物镜的位移或光盘的倾斜等 发生的偏移的方式。可是，如上述那样的已有的DPP方式需要使光盘 上的3个光点间隔对光盘半径方向，与磁道间距的一半一致。因此，存在着涉及磁道间距不同的光盘时，不能够检测稳定的跟踪误差信号 那样的课题。对于该课题，在专利文献1中，通过使衍射光栅的半面的周期构造和另一个半面的周期构造的相位差约为180度，即便在将光盘上的3 个光点配置在相同磁道上的状态中也能够检测跟踪误差信号。在具有 该特性，磁道间距不同的光盘中也能够检测跟踪误差信号。但是，当 使用这种周期构造的衍射光栅时在记录型光盘中发生问题。在记录型 光盘的情形中，在光盘上存在着已记录的区域(以下，称为记录部) 和没有记录的区域(以下，称为未记录部)。当光点通过该记录部和未 记录部的边界时在跟踪误差信号中发生偏移(以下，称为记录未记录 边界偏移)。在专利文献1的构成中，因为不能够抑制该记录未记录边界偏移， 所以要进行稳定的跟踪控制是困难的。因此，抑制该记录未记录边界 偏移成为课题。
技术实现思路
如上所述，在本专利技术中，其目的在于提供能够抑制在未记录区域 和记录区域的边界部发生的跟踪误差信号的偏移的光拾取器装置和光 学的记录再现装置。作为一个例子，上述目的能够通过在权利要求书中记载的构成达到。本专利技术的第一方面涉及一种光拾取器装置，其包括射出激光的 半导体激光器；使从上述半导体激光器射出的光束分支的衍射光栅； 将从上述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；和接受从光 盘反射的光束的光检测器，该光拾取器装置中，上述衍射光栅具有区 域1和区域2这样2个区域，上述衍射光栅的区域1和区域2的沟槽 周期相同，沟槽周期构造的相位差约为180度，并且，对区域1和区 域2进行分割的分割线在相对沟槽方向大致垂直的方向上存在阶梯差。本专利技术的第二方面还涉及一种光拾取器装置，其包括射出激光 的半导体激光器；使从上述半导体激光器射出的光束分支的衍射光栅; 将从上述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；和接受从光盘反射的光束的光检测器，该光拾取器装置中，上述衍射光栅形成具有区域l、区域2、区域3、区域4这样4个区域的衍射光栅构造，上 述衍射光栅的区域l、区域2、区域3、区域4的沟槽周期相同，上述 衍射光栅的区域2，沿相对沟槽方向大致垂直的方向相接地被区域1 和区域4夹着，并且，上述衍射光栅的区域3，沿相对沟槽方向大致垂 直的方向相接地被区域1和区域4夹着，上述衍射光栅，在相对沟槽 方向大致平行的方向区域2和区域3相接，上述衍射光栅的区域2和 区域3的沟槽周期构造的相位差约为180度。本专利技术的第三方面还一种光拾取器装置，其包括射出激光的半 导体激光器；使从上述半导体激光器射出的光束分支的衍射光栅；将 从上述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；和接受从光盘 反射的光束的光检测器，该光拾取器装置中，上述衍射光栅形成具有 区域l、区域2、区域3、区域4、区域5这样5个区域的衍射光栅构 造，上述衍射光栅的区域l、区域2、区域3、区域4、区域5的沟槽 周期相同，上述衍射光栅的区域2沿相对沟槽方向大致垂直的方向相 接地被区域1和区域4夹着，并且，上述衍射光栅的区域3沿相对沟 槽方向大致垂直的方向相接地被区域1和区域4夹着，并且上述衍射 光栅的区域5沿相对沟槽方向大致垂直的方向相接地被区域1和区域4 夹着，上述衍射光栅的区域5沿相对沟槽方向大致平行的方向相接地 被区域2和区域3夹着，上述衍射光栅的区域2和区域3的沟槽周期 构造的相位差约为180度。本专利技术的第四方面涉及一种光盘装置，其搭载有如上上述的任 意一种光拾取器装置；驱动上述光拾取器装置内的上述半导体激光器 的激光器点亮电路；使用从上述光拾取器装置内的上述光检测器检测 出的信号生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和 再现记录在光盘中的信息信号的信息信号再现电路。本专利技术的第五方面涉及一种使光束分支的衍射光栅，其中，上述 衍射光栅具有区域1和区域2这样2个区域，上述衍射光栅的区域1 和区域2的沟槽周期相同，沟槽周期构造的相位差约为180度，并且 分割区域1和区域2的分割线沿相对沟槽方向大致垂直的方向具有阶 梯差。本专利技术的第六方面涉及一种使光束分支的衍射光栅，其中，上述衍射光栅形成具有区域l、区域2、区域3、区域4这样4个区域的衍 射光栅构造，上述衍射光栅的区域l、区域2、区域3、区域4的沟槽 周期相同，上述衍射光栅的区域2，沿相对沟槽方向大致垂直的方向相 接地被区域1和区域4夹着，并且，上述衍射光栅的区域3，沿相对沟 槽方向大致垂直的方向相接地被区域1和区域4夹着，上述衍射光栅， 在相对衍射光栅周期结构大致平行的方向上区域2和区域3相接，上 述衍射光栅的区域2和区域3的沟槽周期构造的相位差约为180度。本专利技术的第七方面涉及一种使光束分支的衍射光栅，其中，上述 衍射光栅形成具有区域l、区域2、区域3、区域4、区域5这样5个 区域的衍射光栅构造，上述衍射光栅的区域l、区域2、区域3、区域 4、区域5的沟槽周期相同，上述衍射光栅的区域2沿相对沟槽方向大 致垂直的方向相接地被区域1和区域4夹着，并且，上述衍射光栅的 区域3沿相对沟槽方向大致垂直的方向相接地被区域1和区域4夹着， 并且上述衍射光栅的区域5沿相对沟槽方向大致垂直的方向相接地被 区域1和区域4夹着，上述衍射光栅的区域5沿相对沟槽方向大致平 行的方向相接地被区域2和区域3夹着，上述衍射光栅的区域2和区 域3的沟槽周期构造的相位差约为180度。本专利技术的第八方面涉及一种光拾取器装置，其包括射出激光的 半导体激光器；使从上述半导体激光器射出的光束分支的衍射光栅； 将从上述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；和接受从光 盘反射的光束的光检测器，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取器装置，其包括：　射出激光的半导体激光器；　使从所述半导体激光器射出的光束分支的衍射光栅；　将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；和　接受从光盘反射的光束的光检测器，该光拾取器装置的特征在于：　 　所述衍射光栅具有区域１和区域２这样２个区域，　所述衍射光栅的区域１和区域２的沟槽周期相同，　沟槽周期构造的相位差约为１８０度，并且　对区域１和区域２进行分割的分割线在相对沟槽方向大致垂直的方向上存在阶梯差。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：山崎和良，
申请(专利权)人：日立视听媒介电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]