电子装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种电子装置及其测试方法，上述方法包含下列步骤：于电子装置安装第一测试程序以及移除程序；执行第一测试程序；执行移除程序，以移除第一测试程序；关闭电子装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种，并且特别地，本专利技术关于一种电子装置 以及用以测试电子装置的硬件功能的测试方法。
技术介绍
由于科技的快速进步以及人们对于电子装置的需求日益提高，电子装置的生产速 度以及制造良率便成为投资者以及消费大众评价制造厂商的重要指标。所以，如何加快电 子装置的生产速度并减少电子装置出货时的缺陷，已经成为所有制造厂商的重要课题。一般来说，加快电子装置的生产速度的众多方法中，简化生产流程是一个很有效 的方法。藉由简化生产流程可以去除不必要的生产步骤以节省时间，并且缩小生产线的长 度以节省空间，并免除不必要的设备的使用。同时，简化生产流程也可减少人力的使用，并 提高员工的工作效率。进一步，在电子装置出货之前，往往会先经过制造厂商一连串的测试程序，用以确 保电子装置可以正常运作。另一方面，一个可以正常运作的电子装置代表的不仅是使用者 的权益受到保障，更是一家制造厂商良好的商誉。传统的电子装置的测试方法中，为了进行电子装置的测试程序，首先需安装测试 程序于电子装置中，例如安装于电子装置的NAND存储体中。因为测试程序不应随着电子 装置被交给使用者，所以，当电子装置的测试程序完成后，要进行移除测试程序的步骤。但 用以移除测试程序的移除程序往往被储存在其他的储存装置中，例如储存在测试电脑中。为了电子装置的稳定以及避免人员操作错误，在连接电子装置与测试电脑之前必 须先以手动关闭电子装置。接着，将电子装置透过连接线与测试电脑连接后，再以手动启动 电子装置，并执行测试电脑中的移除程序来移除电子装置中的测试程序。一般来说，可用通 用串行总线(USB)进行上述的连接电子装置与测试电脑。此外，在移除程序未完全操作结束时，将电子装置自测试电脑卸下可能对电子装 置的储存单元或系统文件造成损害。一般的情况下，都会将电子装置关闭后再将电子装置 连接测试电脑，或自测试电脑卸下。如此一来，虽然确保了电子装置可以正常运作，但测试 流程却因此非常繁琐。随后，执行移除程序以移除测试程序。在正确移除测试程序之后，同上述理由，必 须先以手动关闭电子装置，再卸下电子装置。最后，再次以手动启动电子装置以便执行后续 的测试，例如电子装置的操作系统测试、软件测试等等。综上所述，传统的电子装置的测试方法为了确保电子装置不会因测试造成损坏， 因此包含了许多重复的步骤，例如，反复开启/关闭电子装置。所以在电子装置的生产过程 中，如何可以兼顾电子装置的品质以及生产速度，将是一个重要的课题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的一个目的在于提供一种测试方法，可以在电子装置的测试程序执行完成后，直接移除上述测试程序所使用的测试程序，而电子装置不需外接具有移除 程序的测试电脑。依据一具体实施例，本专利技术的测试方法适用于电子装置，且该测试方法包含下列 步骤于电子装置安装第一测试程序以及移除程序；执行第一测试程序；执行移除程序，以 移除第一测试程序；关闭电子装置。于实际应用中，前述第一测试程序用以测试电子装置的硬件功能。再者，在实际应用中，前述的执行移除程序的步骤中，还包含下列步骤判断第一 测试程序是否执行完成；若第一测试程序执行完成，执行移除程序，以移除第一测试程序。另外，于实际应用中，前述的关闭电子装置的步骤中，还包含下列步骤判断移除 程序是否执行完成；若移除程序执行完成，关闭该电子装置。其中，若上述判断移除程序是 否执行完成的判断结果为是，本专利技术的方法可关闭并重新启动电子装置。此外，若上述判断 移除程序是否执行完成的判断结果为是，且接收到由使用者输入的重启讯号时，本专利技术的 方法可关闭并重新启动电子装置。进一步，本专利技术的方法还可执行第二测试程序，以测试电 子装置的操作系统。本专利技术的另一个目的在于提供一种电子装置，可以在本身的测试程序执行完成之 后，直接移除上述测试程序所使用的测试程序，而不需透过外接的测试装置来移除测试程序。依据一具体实施例，本专利技术的电子装置包含存储模组、执行模组以及处理模组。存 储模组用以储存第一测试程序以及移除程序。执行模组连接存储模组，且执行模组用以执 行第一测试程序，且当第一测试程序执行完成后，执行模组进一步执行移除程序以移除第 一测试程序。当移除程序执行完成后，执行模组发送确认讯号。此外，处理模组连接执行模 组，且处理模组用以接收确认讯号，并根据确认讯号关闭电子装置。于实际应用中，本专利技术的电子装置进一步包含操作模组。操作模组连接处理模组， 且操作模组供使用者操作电子装置。此外，使用者可透过操作模组产生重启讯号，处理模组 同时根据确认讯号以及重启讯号关闭并重新启动电子装置。进一步地，存储模组储存第二 测试程序，且当处理模组重新启动电子装置后，执行模组执行第二测试程序，以测试电子装 置的操作系统。综上所述，本专利技术的电子装置及测试方法不仅节省了反复开关电子装置的时间， 也可缩小电子装置的生产线的长度。特别地，根据本专利技术的测试方法可减少因人为操作错 误导致电子装置的储存单元或系统文件的损害。因此，本专利技术的测试方法可以提高电子装 置的品质，并且节省测试电子装置的时间。关于本专利技术的优点与精神可以藉由以下的专利技术详述及附图得到进一步的了解。 附图说明图1绘了示根据本专利技术的一具体实施例的电子装置的方块图。图2绘示了根据本专利技术的一具体实施例的测试方法的流程图。图3绘示了根据本专利技术的另一具体实施例的测试方法的流程图。主要元件符号说明1 电子装置10 存储模组12 执行模组14 处理模组16 操作模组SlOO Sl 12、S200 S222 流程步骤 具体实施例方式本专利技术提供一种。关于本专利技术的若干具体实施例揭示如 下。请参见图1，图1绘示了根据本专利技术的一具体实施例的电子装置的方块图。如图1 所示，电子装置1包含存储模组10、执行模组12、处理模组14以及操作模组16。其中，执行 模组12连接存储模组10，处理模组14连接执行模组12，而操作模组16连接处理模组14。存储模组10可储存第一测试程序以及移除程序。于实务中，存储模组10于实际 应用中可为NAND存储体或其它适当类型的存储体，并可储存其他程序与资料，不以储存第 一测试程序以及移除程序为限。此外，执行模组12用以执行第一测试程序，且当第一测试程序执行完成后，执行 模组12执行移除程序以移除第一测试程序。当移除程序执行完成后，执行模组12发送确 认讯号。于实务中，执行模组12可执行其他程序，不以执行第一测试程序以及移除程序为 限。处理模组14可接收确认讯号，并根据确认讯号关闭电子装置1。于实务中，处理模 组14也可被设计为根据确认讯号关闭并重新启动电子装置1。此外，处理模组14还可用来 进行电子装置1运作所需的其它程序。此外，操作模组16可供使用者操作电子装置1。于实务中，操作模组16可能是，但 不受限于，键盘、拨杆、触控板等。以下搭配本专利技术的测试方法，做更详细的说明。请一并参见图1与图2，图1绘示了根据本专利技术的一具体实施例的测试方法的流 程图。如图所示，本专利技术的电子装置1的测试方法包含下列步骤首先，于步骤S100，开启 电子装置1。接着，于步骤S102，将第一测试程序与移除程序安装至电子装置1的存储模组 10中。再于步骤S104，执行模组12从存储模组10中，读取上述第一测试程序，并执行第一 测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试方法，适用于一电子装置，该测试方法包含下列步骤：于该电子装置安装第一测试程序以及一移除程序；执行该第一测试程序；执行该移除程序，以移除该第一测试程序；以及关闭或重新启动该电子装置。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，适用于一电子装置，该测试方法包含下列步骤于该电子装置安装第一测试程序以及一移除程序；执行该第一测试程序；执行该移除程序，以移除该第一测试程序；以及关闭或重新启动该电子装置。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该第一测试程序用以测试该电子装置 的硬件功能。3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，于执行该移除程序的步骤中，还包含判断该第一测试程序是否执行完成；以及若该第一测试程序执行完成，执行该移除程序，以移除该第一测试程序。4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，于判断该第一测试程序是否执行完成 的步骤中，该电子装置自动判断该第一测试程序是否执行完成。5.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，若判断该第一测试程序是否执行完成 的步骤中，所述的判断结果为是，且接收到由一使用者输入的一移除讯号时，执行该移除程 序。6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，于关闭该电子装置的步骤中，还包含判断该移除程序是否执行完成；以及若该移除程序执行完成，关闭该电子装置。7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，于判断该移除程序是否执行完成的步 骤中，该电子装置自动判断该移除程序是否执行完成。8.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，若判断该移除程序是否执行完成的步 骤中，所述的判断结果为是，且接收到由一使用者输入的一关闭讯号时，关闭该电子装置。9.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，若判断该移除程序是否执行完成的步 骤中，所述的判断结果为是，关闭并重新启动该电子装置。10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，若判断该移除程序是否执行完成的步 骤中，所述的判断结果为是，且接收到由...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘庆珍，高懿民，
申请(专利权)人：英华达上海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]