一种确定材料边缘的方法和系统技术方案

技术编号:5141374 阅读:269 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种确定材料边缘的方法和系统。该方法包括:从材料第一边缘距离射线检测范围为第一距离起,材料沿向着射线检测范围并垂直于射线的方向每前进单位距离,记录一射线计数,直至第二边缘离开射线检测范围第二距离为止,其中,第一边缘比第二边缘早进入射线检测范围,且第一、第二距离均大于零;将第一个计数后面、被相邻的前一计数减去后所得差值以及减去相邻的后一计数后所得差值均为正且大于临界差值的第一个计数作为材料第一边缘对应的计数;将最后一个计数前面、被相邻的后一计数减去后所得差值以及减去相邻的前一计数后所得差值均为正且大于临界差值的第一个计数作为第二边缘对应的计数。利用本发明专利技术,能准确确定材料的边缘。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测领域,特别是涉及一种确定材料边缘的方法和系统
技术介绍
在检测领域,利用射线进行检测是一种常用的手段。例如,工业中常常利用射线来 检测材料的厚度、密度以及进行无损探伤等。在利用射线进行检测时,首要的是确定材料的 边缘,只有找到了材料的边缘,确定了材料的范围、轮廓之后,才能进行下一步确定材料的 厚度、密度以及探寻材料损坏的情况等工作,否则,材料的边缘都确定不了,就无法进行下 一步的工作了。用射线进行检测,可以采用扫描计数法,也可以采用照相法。照相法是利用穿过 材料后的射线对底片进行曝光来获取曝光后的底片,从而确定材料的特征,扫描计数法则 是利用射线来扫描材料,由材料背后的射线探测与计数装置来探测射线穿过材料后的射线 量,进而得到与该射线量成正比的反映材料特征的射线计数。由此可见,利用扫描计数法检 测的结果更精确。用扫描计数法进行检测,当材料尚未进入射线检测范围时,射线探测与计数装置 探测到的射线量最大,因而此时的射线计数也最大;当材料的前边缘、即第一边缘进入射线 检测范围之后,射线探测与计数装置探测到的射线量因材料对射线的吸收而减小,因而射 线计数也减小;当材料的后边缘、即第二边缘离开射线检测范围之后,射线探测与计数装置 探测到的射线量又达到最大,因而射线计数又达到最大值。可见,用扫描计数法对材料进行 扫描的过程中,射线探测与计数装置所得到的射线计数成“U”形或“V”形规律变化,即由最 大计数逐渐减小到最小计数,然后又由最小计数逐渐增大到最大计数。理论上来讲,材料的第一边缘位于第一个射线计数后面由最大计数开始减小的位 置,材料的第二边缘位于最后一个射线计数前面由最大计数开始减小的位置。但是,在利用 射线计数来确定材料的边缘时,如果材料对射线的吸收作用比较弱,则在材料的边缘处,射 线计数由最大计数减小的速度非常缓慢,现有技术无法准确判断材料的边缘位置。这样,为 了防止漏掉第一边缘和第二边缘之间的射线计数,现有技术本着宁多勿少的原则,将位于 第一边缘前面的部分最大计数和第二边缘后面的部分最大计数也作为第一边缘和第二边 缘之间的射线计数,这就造成了在进行下一步的厚度、密度或探伤检测时,由于冗余数据的 存在而使得检测结果具有一定的人为误差。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种确定材料边缘的方法和系统,能够准确确 定材料的边缘。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下一种确定材料边缘的方法,该方法包 括从待检测材料的第一边缘尚未进入射线检测范围并与所述射线检测范围的距离为第一距离开始,所述待检测材料沿向着所述射线检测范围并垂直于射线方向的前进方向 每前进单位距离,记录一次射线计数,直至待检测材料的第二边缘穿过所述射线检测范围 并与所述射线检测范围的距离为第二距离为止,其中,所述待检测材料的第一边缘进入所 述射线检测范围的时间早于所述待检测材料的第二边缘进入所述射线检测范围的时间,且 所述第一距离和第二距离均大于零;则确定所述待检测材料的第一边缘的方法为从第一个所述射线计数开始,依次 用前一射线计数减去与其相邻的后一射线计数,判断所得的第一差值是否为正且大于临界 差值,如果是,则将该后一射线计数作为一号计数,并用所述一号计数减去与所述一号计数 相邻的后一射线计数,判断所得的第二差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将所 述一号计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材料的 第一边缘的过程结束;确定所述待检测材料的第二边缘的方法为从最后一个所述射线计数开始,依次 用后一射线计数减去与其相邻的前一射线计数,判断所得的第三差值是否为正且大于所述 临界差值,如果是,则将该前一射线计数作为二号计数,并用所述二号计数减去与所述二号 计数相邻的前一射线计数,判断所得的第四差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则 将所述二号计数确定为所述待检测材料的第二边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材 料的第二边缘的过程结束。本专利技术的有益效果是本专利技术中,由于从待检测材料的第一边缘距离射线检测范 围尚有大于零的第一距离起就开始记录射线计数,直至待检测材料的第二边缘穿过射线检 测范围并与射线检测范围的距离为第二距离为止,因此,本专利技术所记录的全部射线计数既 包括第一边缘和第二边缘之间的射线计数,又包括第一边缘前面和第二边缘后面的冗余射 线计数,且第一边缘前面和第二边缘后面的冗余射线计数均为射线检测范围内没有待检测 材料时的最大射线计数;本专利技术中,由于预先设定了临界差值,而且射线检测范围内没有待 检测材料时的射线计数只在临界差值范围内波动,因此,在从第一个射线计数起删除第一 边缘前面的冗余射线计数从而确定待检测材料的第一边缘时,如果前一射线计数减去相邻 后一射线计数的差值不大于临界差值,说明这两个射线计数均为冗余射线计数,如果存在 一个射线计数,它是第一个被相邻的前一射线计数减去所得的差值以及该射线计数减去相 邻后一射线计数所得的差值均为正且大于临界差值,说明该射线计数即为待检测材料的第 一边缘所对应的射线计数;同样,在从最后一个射线计数起删除第二边缘后面的冗余射线 计数从而确定待检测材料的第二边缘时,如果后一射线计数减去相邻前一射线计数的差值 不大于临界差值,说明这两个射线计数均为冗余射线计数,如果存在一个射线计数,它是第 一个被相邻的后一射线计数减去所得的差值以及该射线计数减去相邻前一射线计数所得 的差值均为正且大于临界差值,说明该射线计数即为待检测材料的第二边缘所对应的射线 计数;因此,本专利技术可以准确确定待检测材料的边缘。在上述技术方案的基础上,本专利技术还可以做如下改进进一步,所述临界差值为所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数的标 准差的三倍;或,所述临界差值为所述射线检测范 内没有待检测材料时的射线计数的标准差 的两倍;或,所述临界差值为所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数的标准差。进一步,在确定所述待检测材料的第一边缘之前,该方法进一步包括判断所述第 一个射线计数是否属于所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数范围,如果是, 则确定所述待检测材料的第一边缘,否则,发出所述第一个射线计数不属于所述射线检测 范围内没有待检测材料时的射线计数范围的消息;和/ 或,在确定所述待检测材料的第二边缘之前,该方法进一步包括判断所述最后一个 射线计数是否属于所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数范围,如果是,则确 定所述待检测材料的第二边缘,否则,发出所述最后一个射线计数不属于所述射线检测范 围内没有待检测材料时的射线计数范围的消息。进一步,在确定所述待检测材料的第一边缘和第二边缘之前,该方法进一步包括: 确定所述待检测材料的第一边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目;在将所述一号计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对应的射线计数、将所述 二号计数确定为所述待检测材料的第二边缘所对应的射线计数之后,该方法进一步包括统计所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目;判断所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目是否大于所述待检测材 料的第一边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目如果是,则将所述一号计数后面的第A个射线计数确定为所述待检测材料的第一 边缘所对应的新的本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种确定材料边缘的方法,其特征在于,该方法包括:从待检测材料的第一边缘尚未进入射线检测范围并与所述射线检测范围的距离为第一距离开始,所述待检测材料沿向着所述射线检测范围并垂直于射线方向的前进方向每前进单位距离,记录一次射线计数,直至待检测材料的第二边缘穿过所述射线检测范围并与所述射线检测范围的距离为第二距离为止,其中,所述待检测材料的第一边缘进入所述射线检测范围的时间早于所述待检测材料的第二边缘进入所述射线检测范围的时间,且所述第一距离和第二距离均大于零;则确定所述待检测材料的第一边缘的方法为:从第一个所述射线计数开始,依次用前一射线计数减去与其相邻的后一射线计数,判断所得的第一差值是否为正且大于临界差值,如果是,则将该后一射线计数作为一号计数,并用所述一号计数减去与所述一号计数相邻的后一射线计数,判断所得的第二差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将所述一号计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材料的第一边缘的过程结束;确定所述待检测材料的第二边缘的方法为:从最后一个所述射线计数开始,依次用后一射线计数减去与其相邻的前一射线计数,判断所得的第三差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将该前一射线计数作为二号计数,并用所述二号计数减去与所述二号计数相邻的前一射线计数,判断所得的第四差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将所述二号计数确定为所述待检测材料的第二边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材料的第二边缘的过程结束。...

【技术特征摘要】
一种确定材料边缘的方法,其特征在于,该方法包括从待检测材料的第一边缘尚未进入射线检测范围并与所述射线检测范围的距离为第一距离开始,所述待检测材料沿向着所述射线检测范围并垂直于射线方向的前进方向每前进单位距离,记录一次射线计数,直至待检测材料的第二边缘穿过所述射线检测范围并与所述射线检测范围的距离为第二距离为止,其中,所述待检测材料的第一边缘进入所述射线检测范围的时间早于所述待检测材料的第二边缘进入所述射线检测范围的时间,且所述第一距离和第二距离均大于零;则确定所述待检测材料的第一边缘的方法为从第一个所述射线计数开始,依次用前一射线计数减去与其相邻的后一射线计数,判断所得的第一差值是否为正且大于临界差值,如果是,则将该后一射线计数作为一号计数,并用所述一号计数减去与所述一号计数相邻的后一射线计数,判断所得的第二差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将所述一号计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材料的第一边缘的过程结束;确定所述待检测材料的第二边缘的方法为从最后一个所述射线计数开始,依次用后一射线计数减去与其相邻的前一射线计数,判断所得的第三差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将该前一射线计数作为二号计数,并用所述二号计数减去与所述二号计数相邻的前一射线计数,判断所得的第四差值是否为正且大于所述临界差值,如果是,则将所述二号计数确定为所述待检测材料的第二边缘所对应的射线计数;确定所述待检测材料的第二边缘的过程结束。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述临界差值为所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数的标准差的三倍;或,所述临界差值为所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数的标准差的两倍;或,所述临界差值为所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数的标准差。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在确定所述待检测材料的第一边缘之前,该方法进一步包括判断所述第一个射线计 数是否属于所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数范围,如果是,则确定所述 待检测材料的第一边缘,否则,发出所述第一个射线计数不属于所述射线检测范围内没有 待检测材料时的射线计数范围的消息;如/或,在确定所述待检测材料的第二边缘之前,该方法进一步包括判断所述最后一个射线 计数是否属于所述射线检测范围内没有待检测材料时的射线计数范围,如果是,则确定所 述待检测材料的第二边缘,否则,发出所述最后一个射线计数不属于所述射线检测范围内 没有待检测材料时的射线计数范围的消息。4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在确定所述待检测材料的第一边缘和 第二边缘之前,该方法进一步包括确定所述待检测材料的第一边缘和第二边缘之间射线 计数的额定数目;在将所述一号计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对应的射线计数、将所述二号计数确定为所述待检测材料的第二边缘所对应的射线计数之后,该方法进一步包括统计所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目;判断所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目是否大于所述待检测材料的 第一边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目如果是,则将所述一号计数后面的第A个射线计数确定为所述待检测材料的第一边 缘所对应的新的射线计数,将所述二号计数前面的第B个射线计数确定为所述待检测材料 的第二边缘所对应的新的射线计数,确定所述待检测材料的第一边缘和第二边缘的过程结 束,其中,所述A和B均为不小于0的整数,且A和B满足使所述待检测材料的第一边缘所 对应的新的射线计数与所述待检测材料的第二边缘所对应的新的射线计数之间射线计数 的实际数目等于所述额定数目;否则,将所述一号计数前面的第C个射线计数确定为所述待检测材料的第一边缘所对 应的新的射线计数,将所述二号计数后面的第D个射线计数确定为所述待检测材料的第二 边缘所对应的新的射线计数,确定所述待检测材料的第一边缘和第二边缘的过程结束,其 中,所述C和D均为不小于0的整数,且C和D满足使所述待检测材料的第一边缘所对应的 新的射线计数与所述待检测材料的第二边缘所对应的新的射线计数之间射线计数的实际 数目等于所述额定数目。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,如果所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目大于所述待检测材料的第一 边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目,则将所述一号计数和二号计数之间射线计数的 实际数目减去所述待检测材料的第一边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目所得的差 值作为计数数目余量;判断所述计数数目余量是否为偶数,如果是,则A和B均为所述计数 数目余量的一半,否则,使A与B的和值等于所述计数数目余量,且A减去B所得的差值等 于1或-1;和/或,如果所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目不大于所述待检测材料的第 一边缘和第二边缘之间射线计数的额定数目,则将所述待检测材料的第一边缘和第二边缘 之间射线计数的额定数目减去所述一号计数和二号计数之间射线计数的实际数目所得的 差值作为计数数目缺少量;判断所...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘斌尹大勇李小群石芷萍程放
申请(专利权)人:中国林业科学研究院木材工业研究所
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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