压合层偏测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种压合层偏测试装置，在ＰＣＢ板的每一层的对应位置都设有一个锣空单元，在每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔和一个金属化测试孔；在ＰＣＢ板的每一个内层中，每一个锣空单元内相对应的位置都设有环形线路，该环形线路与金属化参照孔导通，该环形线路包围金属化测试孔并与金属化测试孔形成开路；在ＰＣＢ板的外层，设置有分别与金属化参照孔和金属化测试孔导通的２个测试焊盘。该压合层偏测试装置用于测试ＰＣＢ板的压合层偏易于实施、操作简便且测试准确率高。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于PCB板制作和测试
，涉及一种压合层偏测试装置。
技术介绍
压合就是将铜萡、胶片与氧化处理后的内层线路板，通过高温、高压的压机压合成 高层线路板。因为压合过程中使用的半固化片受热熔解后将不再可逆，因此压合过程中一 旦出现层偏、内短、起皱、白边、板翘曲等异常就直接导致该PCB板报废。因此，压合一直以 来就是PCB专家和学者们探讨的热点。其中压合层偏尤为突出，关于这方面的报道屡见不 鲜，但是仍然存在很多有待改进的地方。在这诸多问题中，关于压合层偏的检测极为困难， 一直没有很好的解决方案。
技术实现思路
本技术要解决技术问题是提供一种压合层偏测试装置，该压合层偏测试装置 用于测试PCB板的压合层偏易于实施、操作简便且测试准确率高。本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是一种压合层偏测试装置，在PCB板的每一层的对应位置都设有一个锣空单元，在 每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔和一个金属化测试孔；在PCB板的每一个内层中，每一个锣空单元内相对应的位置都设有环形线路，该 环形线路与金属化参照孔导通，该环形线路包围金属化测试孔并与金属化测试孔形成开 路；在PCB板的外层，设置有分别与金属化参照孔和金属化测试孔导通的2个测试焊 盘。金属化测试孔到内层环形线路的距离比PCB板中各内层中孔到线的最小距离小 2mil。本技术的有益效果1、操作简单；只需用万用表或锥形测试仪测试金属化参照孔和金属化测试孔之间 是否导通即可判断是否有层偏产生。2、运行成本低；由于本技术所设计的焊盘、孔、环形线路的制作都与PCB板同 一个工序制作，因此，不会增加额外的成本。3、结果准确、效率提高该方式较传统X-ray观察更准确，较切片观察效率更高；4、信息反馈提前避免了层偏板流入后工序造成更大的成本浪费，并且能及时发 现报废数量为补救提供更充足的时间；附图说明图1为压合层偏测试装置的外层布板示意图；图2为压合层偏测试装置的内层布板示意图；图3为压合无层偏时截面示意图；图4为压合有层偏时截面示意图。其中，1-锣空单元，2-金属化参照孔，3-金属化测试孔，4-与金属化参照孔相连的 测试焊盘，5-与金属化测试孔相连的测试焊盘，6-环形线路，7-测试孔到内层环形线路的距离。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明。实施例1 如图1和图2所示，一种压合层偏测试装置，在PCB板的每一层的对应位置都设有 一个锣空单元1，在每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔2和一个金属化测试孔3 ；在PCB板的每一个内层中，每一个锣空单元1内相对应的位置都设有环形线路6， 该环形线路6与金属化参照孔2导通，该环形线路6包围金属化测试孔3并与金属化测试 孔3形成开路；在PCB板的外层，设置有分别与金属化参照孔2和金属化测试孔3导通的2个测 试焊盘4、5。金属化测试孔3到内层的环形线路6的距离比PCB板中各内层中孔到线的最小距 离小2mil。在PCB板完成外层线路图形后，使用BB机(锥形测试仪)测试参照孔与测试孔是 否导通来判断是否层偏。该层偏测试装置的操作步骤如下在PCB板的锣空单元内设计一个与各层导通的金属化参照孔和一个只与外层导 通的金属化测试孔。与各层导通的金属化参照孔和只与外层导通的金属化测试孔之间设计成开路。只与外层导通的金属化测试孔到内层环形线路的距离比实际各内层中孔到线的 距离小2mil。锣空单元与结构单元需要保持适当的距离，确保成型时不伤到结构单元。在外层设计两个不相连的两个测试焊盘，分别与测试孔和参照孔相连，通过BB机 (锥形测试仪)测试参照孔与测试孔是否导通来判断是否层偏。通过BB机(锥形测试仪)测试参照孔与测试孔是否导通来判断是否层偏，万用 表、电阻测试仪等测试工具均可。具体原理如图3和图4，如果不发生压合层偏，则如图3所 示，金属化参照孔与金属化测试孔保持原有的开路状态，一旦压合层偏且达到一定的距离， 如图4，则原来只与金属化参照孔导通的至少一个环形线路同时与金属化测试孔也导通。因 此，只要检测金属化参照孔与金属化测试孔是否导通即可判断压合层偏是否产生。权利要求1.一种压合层偏测试装置，其特征在于，在PCB板的每一层的对应位置都设有一个锣 空单元，在每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔和一个金属化测试孔；在PCB板的每一个内层中，每一个锣空单元内相对应的位置都设有环形线路，该环形 线路与金属化参照孔导通，该环形线路包围金属化测试孔并与金属化测试孔形成开路； 在PCB板的外层，设置有分别与金属化参照孔和金属化测试孔导通的2个测试焊盘。2.根据权利要求1所述的压合层偏测试装置，其特征在于，金属化测试孔到内层环形 线路的距离比PCB板中各内层中孔到线的最小距离小2mil。专利摘要本技术公开了一种压合层偏测试装置，在PCB板的每一层的对应位置都设有一个锣空单元，在每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔和一个金属化测试孔；在PCB板的每一个内层中，每一个锣空单元内相对应的位置都设有环形线路，该环形线路与金属化参照孔导通，该环形线路包围金属化测试孔并与金属化测试孔形成开路；在PCB板的外层，设置有分别与金属化参照孔和金属化测试孔导通的2个测试焊盘。该压合层偏测试装置用于测试PCB板的压合层偏易于实施、操作简便且测试准确率高。文档编号G01R31/02GK201788249SQ20102050494公开日2011年4月6日 申请日期2010年8月25日 优先权日2010年8月25日专利技术者王先锋 申请人:深圳中富电路有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压合层偏测试装置，其特征在于，在ＰＣＢ板的每一层的对应位置都设有一个锣空单元，在每一个锣空单元内都设有一个金属化参照孔和一个金属化测试孔；　　在ＰＣＢ板的每一个内层中，每一个锣空单元内相对应的位置都设有环形线路，该环形线路与金属化参照孔导通，该环形线路包围金属化测试孔并与金属化测试孔形成开路；　　在ＰＣＢ板的外层，设置有分别与金属化参照孔和金属化测试孔导通的２个测试焊盘。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王先锋，
申请(专利权)人：深圳中富电路有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]