在互电容侦测中分析位置的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种在互电容侦测中分析位置的方法与装置。通过笔提供交流信号，相应于手的触碰相关感测资讯的第一特性与相应于笔的触碰相关感测资讯的第二特性相反。第一特性与第二特性可被用来区隔手与笔的触碰或手掌忽视。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种位置分析的方法与装置，特别是涉及一种具有虚触忽视的在互电 容侦测中分析位置的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，藉由在 触摸板去上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测资讯(Sensing ^formation)，以判断外在物件 (如手指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸 显不器。感测资讯可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值，藉由比较这些信号值在外部物件碰触或接近前与后的变化量，可判断出外部 物件碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部物件触碰或接近时的感测资 讯，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器藉由判断后续的感测资讯与基准值的比较判断是否有外部物件接近或触碰，以及更 进一步判断外部物件的位置。例如，在未被外部物件接近或触碰时，后续的感测资讯相对于 基准值为零值或趋近零值，藉由感测资讯相对于基准值是否为零值或趋近零值判断是否有 外部物件接近或触碰。如图IA所示，当外部物件12(如手指)碰触或接近触控显示器10的感测装置120 时，在一轴向(如X轴向)上的感测器140的感测资讯转换成如图IB所示的信号值，相应 于手指的外型，信号值呈现一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰触或接近的位置。由于用手指书写的方式与一般人习惯以手持笔来书写方式不同。一般应用于电容 式感测装置的导电笔在书写时，手掌必需悬空，也与一般人习惯手掌置放于桌面书写的习 惯不同。因此，需要让感测装置能分辨出那些触碰是手掌的触碰，那个触碰才是笔的触碰， 才能让一般人以习惯的方式来进行文字的输入。由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解 决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的 设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然 是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的在互电容侦测中分析位置的方法与 装置，实属当前重要研发课题之一，也成为当前业界极需改进的目标。
技术实现思路
本专利技术提供一种分析位置的方法与装置。本专利技术是在感测资讯中判断出相应于一 第一特性的触碰相关感测资讯中的至少一位置。感测资讯同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测资讯，第二特性与第一特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测 资讯被忽略或被滤除。本专利技术另外提供一种分析位置的方法与装置。由一信号源提供交流信号产生相应 第二特性的触碰相关感测装置，可被用来产生与人体触碰不同的触碰，如笔的触碰。本专利技术的目的在于，克服现有技术存在的缺陷，而提供一种新的在互电容侦测中 分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其利用实触与虚触相应于相反的第一特 性与第二特性，判断出实触的位置，非常适于实用。本专利技术的另一目的在于，克服现有技术存在的缺陷，而提供一种新的在互电容侦 测中分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其利用第一特性判断出起始位置， 依据起始位置相应的一方向从起始位置寻找零交会处，避免误判出虚触的位置，从而更加 适于实用。本专利技术的再一目的在于，克服现有技术存在的缺陷，而提供一种新的在互电容侦 测中分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其以笔提供交流信号，区隔手与笔 的触碰，从而更加适于实用本专利技术的还一目的在于，克服现有技术存在的缺陷，而提供一种新的在互电容侦 测中分析位置的方法与装置，所要解决的技术问题是使其在互电容式以笔提供交流信号 时，能在不误判出虚触的位置的情形下，区隔手与笔的触碰，从而更加适于实用。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出 的一种分析位置的方法，包括由多个感测器取得相应于至少一第一外部物件接近或触碰 一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部物件电性耦合于至少一第二外部物件，并 且该触敏资讯相应于该些感应器互电容耦合于该信号源、该至少一第一外部物件及该至少 一第二外部物件的信号；决定该触敏资讯中相应于该至少一第一外部物件的一特性；以及 仅在该触敏资讯中符合该特性的部分分析相应于该至少一第一外部物件接近或触碰的位 置。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。本专利技术的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出 的一种分析位置的装置，包括包括多个感测器的一感测装置；以及一控制器，执行下列作 业由多个感测器取得相应于至少一第一外部物件接近或触碰一信号源的一触敏资讯，其 中该至少一第一外部物件电性耦合于至少一第二外部物件，并且该触敏资讯相应于该些感 应器互电容耦合于该信号源、该至少一第一外部物件及该至少一第二外部物件的信号；决 定该触敏资讯中相应于该至少一第一外部物件的一特性；以及仅在该触敏资讯中符合该特 性的部分分析相应于该至少一第一外部物件接近或触碰的位置。本专利技术的目的及解决其技术问题另外再采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提 出的一种分析位置的方法，包括由多个感测器取得相应于至少一第一外部物件接近或触 碰一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部物件电性耦合于至少一第二外部物件， 并且该触敏资讯相应于该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部物件及该至少一第二 外部物件间的互电容耦合的信号；依据一第一门槛限值在该触敏资讯中决定至少一第一起 始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置 分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部物件的触敏资讯。本专利技术的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提6出的一种分析位置的装置，包括包括多个感测器的一感测装置；以及一控制器，执行下列 作业由多个感测器取得相应于至少一第一外部物件接近或触碰一信号源的一触敏资讯， 其中该至少一第一外部物件电性耦合于至少一第二外部物件，并且该触敏资讯相应于该些 感应器与该信号源间、该至少一第一外部物件及该至少一第二外部物件间的互电容耦合的 信号；依据一第一门槛限值在该触敏资讯中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个 第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析，其中该第一范围不包 括相应该至少一第二外部物件的触敏资讯。本专利技术的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提 出的一种分析位置的方法，包括由多个感测器取得相应于至少一外部物件接近或触碰的 一触碰相关感测资讯；预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部物件的一第一特性 与相应于一第二种外部物件的一第二特性，其中该第一特性与该第二特性相反；以及依据 该第一特性与该第二特性于该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部物件、该第二种外部 物件、或两者的接近或触碰。本专利技术的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提 出的一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在互电容侦测中分析位置的方法，其特征在于其包括以下步骤：由多个感测器取得相应于至少一外部物件接近或触碰一第一信号源的一触敏资讯；当该触敏资讯包括分别相应于一第一特性与相应于一第二特性的第一部分与第二部分，并且该第一特性与该第二特性相反时，由该第二特性的部分分析是否存在具有相应于一第三特性的一第三部分，其中该第三部分相应于该至少一外部物件接近或触碰该第一信号源；以及由该第三部分分析出该第三部分中相应于该至少一外部物件的接近或触碰的位置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]