【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种位置分析的方法与装置,特别是涉及一种具有虚触忽视的在互电 容侦测中分析位置的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中,一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区,藉由在 触摸板去上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测资讯(Sensing ^formation),以判断外在物件 (如手指)在触摸屏上的碰触或接近,例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸 显不器。感测资讯可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值,藉由比较这些信号值在外部物件碰触或接近前与后的变化量,可判断出外部 物件碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言,控制触摸屏的控制器会先取得没有外部物件触碰或接近时的感测资 讯,作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中,每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器藉由判断后续的感测资讯与基准值的比较判断是否有外部物件接近或触碰,以及更 进一步判断外部物件的位 ...
【技术保护点】
一种在互电容侦测中分析位置的方法,其特征在于其包括以下步骤:由多个感测器取得相应于至少一外部物件接近或触碰一第一信号源的一触敏资讯;当该触敏资讯包括分别相应于一第一特性与相应于一第二特性的第一部分与第二部分,并且该第一特性与该第二特性相反时,由该第二特性的部分分析是否存在具有相应于一第三特性的一第三部分,其中该第三部分相应于该至少一外部物件接近或触碰该第一信号源;以及由该第三部分分析出该第三部分中相应于该至少一外部物件的接近或触碰的位置。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:张钦富,李政翰,唐启豪,何顺隆,
申请(专利权)人:禾瑞亚科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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