电容式位置侦测的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种电容式位置侦测的方法与装置。是侦测包括多个感测器的感测装置中每一个触碰相关的感测器。依据所有触碰相关的感测器判断出至少一互电容式侦测范围，并且对被判断出的互电容式侦测范围进行一互电容式侦测，以判断出被判断出的互电容式侦测范围的感测资讯。被判断出的互电容式侦测范围的感测资讯可进一步被用来产生一二维度感测资讯。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种位置侦测的方法与装置，特别是一种电容式位置侦测的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，借由在 触摸板去上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测资讯(Sensing ^formation)，以判断外在物件 (如手指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电容式触摸 显不器。感测资讯可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)转换为多个 连续信号值，借由比较这些信号值在外部物件碰触或接近前与后的变化量，可判断出外部 物件碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部物件触碰或接近时的感测资 讯，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器借由判断后续的感测资讯与基准值的比较判断是否有外部物件接近或触碰，以及更 进一步判断外部物件的位置。例如，在未被外部物件接近或触碰时，后续的感测资讯相对于 基准值为零值或趋近零值，借由感测资讯相对于基准值是否为零值或趋近零值判断是否有 外部物件接近或触碰。如图IA所示，当外部物件12(如手指)碰触或接近触控显示器10的感测装置120 时，在一轴向(如X轴向)上的感测器140的感测资讯转换成如图IB所示的信号值，相应 于手指的外型，信号值呈现一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰触或接近的位置。一般二维度感测资讯是由多个一维度感测资讯组成，亦即需要对多个感测器进行 多次侦测才能产生，需要一段相当长的时间。当触碰位置的取样频率要求较高时，如何降低 产生二维度感测资讯的产生时间将会变得很关键。然而二维度感测资讯中大部分都与触碰 无关，持续地进行与触碰无关的侦测将耗时耗电，如何省时省电为重要的技术关键。由此可见，上述现有的触控显示器在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而 亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道， 但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问 题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的电容式位置侦测 的方法与装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服现有的触控显示器存在的缺陷，而提供一种新型结构的 电容式位置侦测的方法与装置，所要解决的技术问题是使其采用自电容式侦测与互电容式侦测并用的方式来产生二维度感测资讯或由二维度感测资讯判断触碰相关感测资讯。一般二维度感测资讯是由多个一维度感测资讯组成，亦即需要对多个感测器进行 多次侦测才能产生，需要一段相当长的时间。当触碰位置的取样频率要求较高时，如何降低 产生二维度感测资讯的产生时间将会变得很关键。然而二维度感测资讯中大部分的范围都是与触碰无关，如果可以只侦测触碰相关 的感测器的信号，将可以省下大量的时间。此外，在二维度感测资讯中侦测触碰相关资讯时，随着二维度感测资讯越大，所需 侦测的范围也越大，相应的运算量也越大。然而二维度感测资讯中大部分的范围都是与触 碰无关，如果可以只在可能有触碰的部分侦测触碰相关的感测资讯，将可以省下大量的时 间。本专利技术的另一目的在于，提供一种新型结构的电容式位置侦测的方法与装置，所 要解决的技术问题是使其以自电容式侦测的结果决定互电容式侦测的范围；本专利技术的再一目的在于，提供一种新型结构的电容式位置侦测的方法与装置，所 要解决的技术问题是使其以降低水渍或导电杂质干扰的电容式侦测的结果决定互电容式 侦测的范围；本专利技术的还一目的在于，提供一种新型结构的电容式位置侦测的方法与装置，所 要解决的技术问题是使其仅凭触碰相关感测资讯产生遍及整个感测装置的二维度感测资 讯；及以自电容式侦测的结果或由二维度感测资讯所衍生的一维度感测资讯决定在二维度 感测资讯上侦测触碰相关感测资讯的范围。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出 的一种电容式位置侦测的方法，其中包括取得一二维度感测资讯；取得至少一一维度感 测资讯；依据该至少一一维度感测资讯在该电容式感测装置被触碰或接近时在该二维度感 测资讯判断出至少一被侦测范围；以及在该至少一被侦测范围判断每一个触碰相关感测资 讯。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该二维度感测资讯是由多个第一一维 度感测资讯所组成，并且该至少一一维度感测资讯的每一个值分别依据该些第一感测资讯 之一的所有值的和所产生。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该二维度感测资讯的每一个值分别相 应于一一维度位置，并且该至少一一维度感测资讯的每一个值亦分别相应于该些一维度位 置之一，其中该至少一一维度感测资讯的每一个值是分别依据该二维度感测资讯中相应于 该维度位置的所有值的和产生。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该判断出至少一被侦测范围包括判 断至少一一维度感测资讯的每一个触碰相关感测资讯；分别决定每一个触碰相关感测资讯 在该二维度感测资讯中的一触碰相关范围；以及依据每一个触碰相关范围判断出该至少一 被侦测范围。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该至少一被侦测范围为所有触碰相关 范围的交集或联集。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该至少一一维度感测资讯的每一个值6相应于该二维度感测资讯上的一范围，并且每一个触碰相关范围为相应的触碰相关感测资 讯的所有值相应的范围。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的更包括提供包括多个感测器的一电 容式感测装置，该些感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器，其中该些第一感测器 与该些第二感测器交叠于多个叠点；其中取得至少一一维度感测资讯是对该些感测器进行 一自电容式侦测所产生。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该至少一一维度感测资讯包括对该些 第一感测器进行该自电容式侦测所产生的一第一一维度感测资讯。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的该至少一一维度感测资讯包括对该些 第二感测器进行该自电容式侦测所产生一第二一维度感测资讯。前述的电容式位置侦测的方法，其中所述的更包括提供包括多个感测器的一电 容式感测装置，该些感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器，其中该些第一感测器 与该些第二感测器交叠于多个叠点；其中取得至少一一维度感测资讯包括提供一驱动信 号给该些第二感测器；在该些第二感测器被提供该驱动信号时，侦测该些第一感测器的信 号以产生该至少一一维度感测资讯之一；以及在该些第二感测器被提供该驱动信号时，侦 测该些第二感测器的信号以产生该至少一一维度感测资讯之另一。本专利技术的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出的 一种电容式位置侦测的装置，其中包括多个感测器的一电容式感测装置，该些感测器包括 多个第一感测器与多个第二感测器，其中该些第一感测器与该些第二感测器交叠于多个叠 点；一控制器，执行至少下列作业取得一二维度感本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容式位置侦测的方法，其特征在于包括：取得一二维度感测资讯；取得至少一一维度感测资讯；依据该至少一一维度感测资讯在该电容式感测装置被触碰或接近时在该二维度感测资讯判断出至少一被侦测范围；以及在该至少一被侦测范围判断每一个触碰相关感测资讯。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]