多参数集成式比色池制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多参数集成式比色池，它由多个比色池单体组成，相邻比色池单体之间通过连接板连接，单体比色池中设发热单元。本实用新型专利技术多参数集成式比色池中比色池单体数量和形式可任意组合，且单体比色池中含有加热元件，既做比色池，又做加热器，温度可任意设定，使用方便。本实用新型专利技术是现有比色池的更新替代产品，在光度分析仪中使用，提高了检测的稳定性、可靠性、和测量精度，可广泛应用于光度法的分析仪器中。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及应用于光度法分析仪器中的部件，具体涉及一种寿命长、稳定性好、精密度高的多参数集成式比色池，是普通比色池与加热器两部分更新的替代产品。
技术介绍
分光光度法是基于物质对光的选择性吸收而建立起来的一种分析方法，也是目前 广泛采用的仪器分析方法之一。分光光度法的理论依据是Lamber-Beer定律。 一般情况 下，待检测的样品都放在比色皿中，比色皿放在仪器中的比色池中进行检测及数据采集与 传输。由于化学反应条件各不相同，有的显色反应对温度要求很高，通常情况下，实验人员 要先将装有待检测样品的比色皿放入加热器中，加热到一定温度后取出，然后再放入比色 池中进行样品检测。这样取出放入不连贯的加热操作会导致比色皿温度发生变化，而且操 作上也不方便。另一方面，现有检测一般局限于对单一样品的单一参数检测，需要对多个样 品或同一样品多参数检测时往往要多次重复检测操作，进行平行检测或对比检测时，不同 次的加热操作和检测操作都极易造成误差而影响检测的准确性。
技术实现思路
针对上述问题，本技术提供一种用于光度法分析仪器中的既做比色池又做加 热器的多参数集成式比色池。 为实现上述目的，本技术提供的一种多参数集成式比色池，由多个比色池单体组成，相邻比色池单体之间通过连接板连接，单体比色池中设发热单元。 其中，所述比色池单体的侧壁上设一用于装设光源的光源入口，与其相对的另一侧壁上对应位置设用于装设光电传感器的光电传感器接收口 。 所述比色池单体的上盖板中间向上凸设一比色皿入口，比色皿入口上边沿设一用 定位比色皿的缺口。 所述发热单元为加热元件，紧密配合贴覆在比色池单体内腔侧壁，形状与比色皿 相配合，且在加热元件上与光源入口位置相同处设入口，与传感器接收口位置相同处设接 收口。 或者，所述发热单元为导热元件和热源，导热元件紧密配合贴覆在比色池单体内 腔的侧壁和底部并延伸至比色池单体之外与热源连接，导热元件的形状与比色皿相配合， 且在加热元件上与光源入口位置相同处设入口 ，与传感器接收口位置相同处设接收口 。多 个比色池单体的导热元件共用一个热源。 本技术中，多参数集成式比色池由多个独立具有比色池功能的单体连接注塑 成一体，连接处可折断，所以数量可以任意组合。单体比色池内含有加热元件或导热元件， 比色池温度可以单独设定也可以完全一致，所以可以适应多参数测量。 所述比色池内部为圆型或方型，具体形状与使用的比色皿相配合，比色池外部侧 面开有光源入口 ，贯通比色池与其成一直线对应处开有检测器接收口 。所述加热元件为陶3瓷加热元件，温度可以控制，具体形状与比色皿相配合，紧密配合于比色池中。可以适用多 参数相同或不同温度测量。 在本技术中，所述导热元件为铜或其他导热系数高的材料，不同比色池单体可以共用一个热源，对于同一样品、同一温度下多个比色皿同时检测时效果更好。 本技术显著特点为 1.多参数集成于一体，数量可任意组合，适用范围广。 2.比色池加热温度可以任意设定，实用性强。 3.既做比色池，又做加热器，使用方便。 4.本技术连体式比色池，可以减少间歇式加热引起的弊端，能更好地发挥专 用仪器的效果。 5.多参数集成式比色池寿命长、稳定性好、精密度高，是比色池与加热器两部分更 新的替代产品。本技术提高了仪器的可靠性和测量精度。附图说明图1为本技术多参数集成式比色池外部结构示意图。 图2A为本技术中比色池单体外部立体结构示意图。 图2B为本技术中比色池单体内部剖面结构示意图。 图3A为本技术中比色池单体使用的加热元件外部结构示意图。 图3B为本技术中集成比色池使用导热元件结构示意图。具体实施方式以下结合附图说明本技术的具体实施方式。 本技术是在分光光度法的理论基础上而设计的专用分析器件。 本技术具有多参数集成式比色池1是由多个比色池单体11集合而成，如图1显示了由十个比色池单体11顺序连接形成的集成式比色池l，其中，相邻比色池单体11之间通过比色池连接板12连接，比色池连接板12可以折断，可采用塑料材质制成，每个比色池单体ll独立具有比色池功能且配有发热单元，既做比色池，又做加热器，并且本技术多参数集成式比色池中比色池单体11数量可以任意组合。 如图2A和图2B所示，所述比色池单体11具有一槽状内腔21，可为圆型或方型， 具体形状与使用的比色皿相配合；内腔21中紧贴比色池单体11的内侧壁套设一加热元件 31(发热单元)；比色池单体11的侧壁上设一光源入口 22用于装设光源，与其相对的另一 侧壁上对应位置设传感器接收口 25用于装设光电传感器，比色池单体11的的上盖板中间 向上凸设一比色皿入口 23，比色皿入口 23上边沿设一缺口作为比色皿定位口 24。 在做样品检测时，将比色皿通过比色皿入口 23从上向下插入比色池内腔21中，并 通过比色皿定位口 24将比色皿定位在比色池单体11上，需进行检测的比色池单体11放入 检测仪器(光度分析仪)中，各自比色池单体11内侧的加热元件31实施加热使比色皿中 待测样品达到所需温度，然后通过检测仪器进行检测。 本技术中，光源可以为超高量发光二极管，既做检测仪器的光源又做单色器； 光电传感器为检测仪器的光电检测器。每一比色池单体11上装设发出单一波长的光源和对应的光电检测器，不同的单体上装设的光源波长可以相同或不同。需要对同一样品进行 多参数检测时，使用每一单体装设不同波长光源的集成比色池；需要对多个样品进行某一 参数检测时，使用装设特定波长光源的相同单体组成的集成比色池。这样，使用本技术 集成式比色池，可以依据需要组合比色池单体，使用的多个单体同时并排放入光度分析仪 的比色槽中，实现同一样品的多参数测定以及不同样品同一参数测定。 关于发热单元的设计，本技术一种实施方式如图3A所示，发热单元为陶瓷加 热元件31，温度可以控制，其形状与检测时装有样品的比色皿相配合，且在加热元件31上 与光源入口 22位置相同处设入口 32，与传感器接收口 25位置相同处设接收口 33(请结合 图2B所示)。加热元件31紧密配合于比色池内腔21中。加热元件31可以适用多参数相 同或不同温度的加热。 另一种实施方式，发热单元也可以用导热元件41和热源组成，参见图3B所示，导 热元件41由铜或其他导热系数高的材料制成，贴覆在比色池单体11内腔21的侧壁并延伸 至比色池单体11之外与热源42连接，导热元件41其余结构设计均与上述加热元件31相 同。在使用多个比色池单体11时，各自的导热元件41可以共用一个热源42 (如加热铝板)， 将加热铝板直接放置于检测仪器的比色槽(检测仪器中用于放置比色池的空间)的底部或 侧壁，多个比色池单体11中的导热元件41紧密连接加热铝板，加热铝板受控温度通过各自 导热元件传递给每一比色皿，这样对于同一样品、同一温度下多个样品(装于比色皿中)同 时检测时效果更好。权利要求一种多参数集成式比色池，其特征在于，由多个比色池单体组成，相邻比色池单体之间通过连接板连接，单体比色池中设发热单元。2. 如权利要求1所述多参数集成式比色池，其特征在于所述比色池单体的侧壁上设 一用于装设光源的光源入口，与其相对的另一侧壁上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多参数集成式比色池，其特征在于，由多个比色池单体组成，相邻比色池单体之间通过连接板连接，单体比色池中设发热单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于爱民，王振德，
申请(专利权)人：长春吉大小天鹅仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：82[中国|长春]