本实用新型专利技术公开了一种深度测量器具,包括滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。该深度测量器具专门用于测量端盖止口平面到轴承室平面的深度,与现有技术相比,可以直接测量,减少测量次数,减少测量误差,使用方便,提高工作效率。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种深度测量器具,具体地说涉及一种专门用于测量端盖止口平面到轴承室平面深度的测量器具。
技术介绍
端盖止口平面到轴承室底平面的尺寸是十分重要的尺寸,虽然精度只有H11级精度,但它是控制整个电机轴向尺寸的关键尺寸。采用现有量具,如深度尺、测深度卡尺,均无法直接测量该尺寸,只能借助平尺,用深度尺或测深度卡尺先测端盖平面到止口平面尺寸,再测端盖平面到轴承室底平面尺寸,然后计算出两者的差值,才是图纸需要的尺寸。现有技术的不足之处在于它是间接得到的尺寸,存在着两次测量的测量误差,同时也存在着计算带来的误差,使该尺寸不够精确,另外效率比较低。
技术实现思路
针对现有技术不能直接测量端盖止口平面到轴承室底平面尺寸的不足,本实用新 型提供一种可调深度测量器具,可直接测量该尺寸,减去了两次测量及计算带来的误差,使 该尺寸测量精确度大大提高,同时使测量效率大大提高。 本技术深度测量器具结构包括滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结 构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压 在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。 测量时滑脚基准面放在端盖止口平面上,推动测深度卡尺到轴承室底平面,就可 直接测量该尺寸。 本技术的有益效果是减少了两次测量及计算带来的误差,使测量时操作更简 便,测量的精确度及效率大大提高,是一种适合端盖批量生产的专用测量器具,也可以测量 具有类似结构的其它零件的测量。附图说明图1为本技术总装配图及测量端盖止口平面到轴承室平面尺寸示意图; 图2为压条的主视图; 图3-1为滑脚的主视图; 图3-2为滑脚左视图; 图4-l为尺架的主视图; 图4-2为尺架的剖面图。 图中1-尺架,2-压条,3-开槽盘头螺钉,4-固定螺钉,5-盖板,6-压板,7_测深 度游标卡尺,8-端盖,9-滑脚。具体实施方式以下结合附图,对本
技术实现思路
作进一步说明。 如图1所示,本技术深度测量器具由尺架1、滑脚9、盖板5、测深度游标卡尺 7及压板6等组成。滑脚9包括两个,装在尺架1上,滑脚9与尺架1上边缝隙处用压条2 填充,然后用盖板5盖上后用盘头螺钉3紧固,再装上固定螺钉4,固定螺钉4设置在滑脚9 上,固定螺钉4的作用是当滑脚9移到所需位置时起紧固作用,滑脚在尺架上可以滑动,以 适合不同规格的端盖。将测深度游标卡尺7镶嵌在尺架凹槽处后,调整测深度游标卡尺7 测深度基准面与滑脚9底平面在同一水平面上,最后用压板6及盘头螺钉3将测深度游标 卡尺7压住;尺架1两端再装两盘头螺钉3,防止滑脚9滑出尺架1,这样就构成了完整的可 调深度尺架。 如图2所示,压条2两端设计成半圆形状,可防止滑脚9在滑动时压条从滑脚9两 端滑出。 如图3-1和图3-2所示,滑脚9设计成"L"形,是因为测深度游标卡尺是镶嵌在尺架1的一侧,重心偏移,为保证测量时整个尺架平稳,故设计成"L"形。 如图4-1和图4-2所示,尺架1两侧截面设计成"工"字形,主要目的是减小滑脚9在尺架1上滑动的摩擦力;尺架1两侧中间设置减轻孔,使操作起来更轻便。 测量时只要将滑脚9移动到端盖止口平面上,将紧固螺钉4紧固,然后推动测深度游标卡尺7,使测量杆到达轴承室底平面,便可直接测量出端盖止口平面到轴承室底平面的尺寸。权利要求一种深度测量器具,其特征在于所述深度测量器具结构包括滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。2. 按照权利要求1所述的深度测量器具,其特征在于滑脚与尺架上边缝隙处设置压条。3. 按照权利要求1或2所述的深度测量器具,其特征在于滑脚上设置固定螺钉。4. 按照权利要求2所述的深度测量器具,其特征在于压条两端为半圆形状。5. 按照权利要求1所述的深度测量器具,其特征在于滑脚为"L"形。6. 按照权利要求l所述的深度测量器具,其特征在于测深度卡尺为测深度游标卡尺。7. 按照权利要求1或6所述的深度测量器具,其特征在于测深度卡尺镶嵌在尺架凹槽处。8. 按照权利要求1所述的深度测量器具,其特征在于尺架两端装两个盘头螺钉。9. 按照权利要求1所述的深度测量器具,其特征在于尺架两侧截面为"工"字形。10. 按照权利要求1所述的深度测量器具,其特征在于尺架两侧中间设置减轻孔。专利摘要本技术公开了一种深度测量器具,包括滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。该深度测量器具专门用于测量端盖止口平面到轴承室平面的深度,与现有技术相比,可以直接测量,减少测量次数,减少测量误差,使用方便,提高工作效率。文档编号G01B5/18GK201497470SQ20092010786公开日2010年6月2日 申请日期2009年5月8日 优先权日2009年5月8日专利技术者梁立新, 毛红 申请人:北京毕捷电机股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种深度测量器具,其特征在于所述深度测量器具结构包括:滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:毛红,梁立新,
申请(专利权)人:北京毕捷电机股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]
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