【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体检测,具体来说,涉及一种陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法。
技术介绍
1、probe card(探针卡)通过interposer pin(电气连接探针)将stf(spacetransform)和pcb(空间变形器:发送和接受tester的信号)连接起来,进行电信号收发,但是interposer pin(电气连接探针)和stf之间的接触不良时有发生,这种不良率为0.5%,数以万计的pin(探针)中有一个pin(探针)发生接触不良,也会成为probe card(探针卡)的不良,所以这是需要改善的部分。导致不良的主要原因是因为气孔via cover(线路盖板)没有与interposer(电气连接)达成良好的契合度,interposer pin (电气连接探针)检测时,当interposer pin探针接触via cover hole(线路盖板孔)中心区域时,无法接触到viacover(线路盖板),电信号无法传输,造成了测试不良,因此控制via cover hole(线路盖板孔)大小,可以保证interposer pin
...【技术保护点】
1.一种陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤包括:
2.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述第一掩模版(3)与第二掩模版(6)重合区域为边长20μm的正方形。
3.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤10和步骤50中,涂胶机转速为300~500RPM,涂胶时间为10s~15s;光刻胶涂敷后在90~110℃的热板下软烤60s,第一光刻胶层(2)和第二光刻胶层(11)厚度均为20μm~30μm。
4.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板
...【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤包括:
2.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述第一掩模版(3)与第二掩模版(6)重合区域为边长20μm的正方形。
3.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤10和步骤50中,涂胶机转速为300~500rpm,涂胶时间为10s~15s;光刻胶涂敷后在90~110℃的热板下软烤60s,第一光刻胶层(2)和第二光刻胶层(11)厚度均为20μm~30μm。
4.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤20中,根据第一光刻胶层(2)厚度以及第一掩膜版(3)区域进行曝光,曝光时,显影液质量浓度为2.38%,显影时间为30~120s,显影温度为23~25℃,对曝光区域进行清洗,从而在基板(1)上形成所需要的第一次曝光区域。
5.根据权利要求1所述的陶瓷基板上新型线路盖板孔的制作方法,其特征在于,所述步骤60中,根据第二光刻胶层...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙杨,
申请(专利权)人:南京云极芯半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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