光学头性能检查调整设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备，有上位机，上位机通过ＡＲＭ芯片与ＤＳＰ芯片及ＦＰＧＡ控制器相接，ＤＳＰ芯片与ＦＰＧＡ控制器相接，ＦＰＧＡ控制器通过Ｄ／Ａ－１与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；ＦＰＧＡ控制器的输出与激光管控制电路相接；ＦＰＧＡ控制器的输出通过Ｄ／Ａ－２与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过Ａ／Ｄ－２与ＦＰＧＡ控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Ｊｉｔｔｅｒ表相接，Ｊｉｔｔｅｒ表的输出通过Ａ／Ｄ－１与ＦＰＧＡ控制器相接。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

：本技术涉及一种光学头性能的检测装置，尤其是一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备。
技术介绍
：光学头是利用激光束读取光盘上的坑点信号并通过光电转换，将光盘上的坑点信号转变为电信号，继而进行后续的处理。光学头是CD/DVD机中最关键的部件，其性能好坏直接影响整机性能，因此光学头在生产过程中的调整检查是非常重要的。目前，用于光学头调整检查设备大都采用模拟电路实现的方式，包括计算机控制单元、机械平台单元、信号处理单元、伺服控制单元和测量单元等。虽然功能齐全，但是其结构复杂、体积大、成本高，设备维护也非常麻烦，加大了产品的制造成本。
技术实现思路
：本技术是为了解决现有技术所存在的上述技术问题，提供一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备。本技术的技术解决方案是：一种光学头性能检查调整设备，其特征在于：设有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。本技术是将ARM技术、DSP技术和FPGA技术应用到光学头检查调整系统中，DSP和FPGA实现数字伺服算法，ARM与上位机进行通讯(接收来自上位机的指令并将测量数据发送到上位机)。上位机采用Labview编写的程-->序控制光学头检查调整的流程，除了光学头激光管的发光控制、伺服误差信号的生成和RF信号的处理采用模拟方式之外，其余全部采用数字化处理技术，使伺服控制(包括主轴电机伺服、聚焦伺服和循迹伺服)、数据采集处理及评价全部由软件灵活实现，极大的简化了系统硬件结构，降低了设备制造及维护成本，提高了设备的通用性。附图说明：图1是本技术实施例的结构示意图。具体实施方式：下面将结合附图说明本技术的具体实施方式。如图1所示：设有上位机(普通电脑即可)，上位机通过ARM芯片(AT91M40800等)与DSP芯片(TMS320C6711D)及FPGA控制器(EP1C20F400)相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路(驱动芯片BA6664等)相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路(运放器LM2904、LM358等等)相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路(驱动芯片AM5668等)相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路(运放器OPA691、LF412、AD830、TL071、LT1364、LM6361等等)的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。工作原理：检查调整时，将激光管控制电路、线圈驱动电路及信号处理电路与光头相应部件相接，电机驱动电路与驱动光盘的主轴电机相接。ARM芯片负责系统启动时DSP和FPGA控制器芯片的初始化，并且负责与上位机进行通信，DSP芯片主要完成伺服信号的算法，FPGA控制器芯片通过激光管控制电路控制光头激光管的发光、通过线圈驱动电路驱动光头线圈、控制所有的A/D和D/A协助DSP完成伺服算法、通过电机驱动电路控制主轴电机的转速等。光头所产生的聚焦误差信号FE、循迹误差信号TE、RF信号通过信号处理电路、A/D-2送至FPGA控制器，聚焦误差信号FE、循迹误差信号TE由FPGA控制器、DSP芯片及ARM芯片等进行伺服控制，RF信号通过示波器和Jitter表、A/D-1送至FPGA控制器。主轴电机的运行信号(脉冲信号)可以直接反馈至FPGA控制器，也可以通过电机驱动电路整合后再反馈至FPGA控制器，上位机利用Labview编写的程序，控制整个光学头检查调整的流程并对所测得的参数进行评判。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头性能检查调整设备，其特征在于：　　　　设有上位机，上位机通过ＡＲＭ芯片与ＤＳＰ芯片及ＦＰＧＡ控制器相接，ＤＳＰ芯片与ＦＰＧＡ控制器相接，ＦＰＧＡ控制器通过Ｄ／Ａ－１与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；　　　　ＦＰＧＡ控制器的输出与激光管控制电路相接；　　　　ＦＰＧＡ控制器的输出通过Ｄ／Ａ－２与线圈驱动电路相接；　　　　用于与被测光头相接的信号处理电路通过Ａ／Ｄ－２与ＦＰＧＡ控制器相接；　　　　信号处理电路的输出与示波器、Ｊｉｔｔｅｒ表相接，Ｊｉｔｔｅｒ表的输出通过Ａ／Ｄ－１与ＦＰＧＡ控制器相接。

【技术特征摘要】
1.一种光学头性能检查调整设备，其特征在于：设有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控...

【专利技术属性】
技术研发人员：温庆坡，孙冬，路忠良，刘大伟，韩勇权，
申请(专利权)人：中国华录松下电子信息有限公司，
类型：实用新型
国别省市：91[中国|大连]