用于光谱分析的高级模式识别系统技术方案

一种快速、高精度地分析光谱数据的方法，包括用于模式识别的线性扫描（ＬＩＮＳＣＡＮ）方法和高级峰值检测方法。这些方法之一或者全部都用于支持检测和识别化学物质、生物物质、放射性物质、核物质和爆炸物。通过两种光谱分析方法，可分析多种目标的光谱。这两种方法可以结合起来进行双重验证，相对于单独采用其中一种方法，可获得更高的精确度，并减少误报和漏报。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术主要涉及用于检测和识别包括化学物质、生物物质、放射性物质、核 物质以及爆炸物在内的危险目标物质的系统和方法，并且更特别地涉及一种通过 分析化学物质、生物物质、放射性物质、核物质以及曝炸物的复杂光谱，或者通 过利用光谱进行任何其它类型的目标搜索(例如通过信号-能量、信号-波长等方 式)以用于4企测和识别目标物质的系统和方法。
技术介绍
现有的分析化学物质、生物物质、放射性物质、核物质以及曝炸物复杂光谱 或者使用光谱(例如通过信号-能量、信号-波长等方式)进行任何其它类型的目 标搜索的方法不能快速、高精度地;险测、识别和/或量化诸如国家安全和生物测 试的多种应用中所需的微量物质。尽管多种模式识别系统能在实验室环境下识别 出给定的足量和改良过的数据，但在多种光谱干扰的复杂环境下进行识别仍是难题。例如当前的难^A^r测、识别和聪3正存在于货物中的放射性物质，以及能够 区分存在的正常出现的》文射性物质(NORM)(包括货物清单上的货物以及危险或 非法的放射性货物)。另一个例子是能够检测和识别生物威胁，在这种情况下微 量的生物威胁即可致命。因此，需要克服以上所描述的现有技术的问题。专本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平滑、重新采样和自适应曲线拟合到由某些更简单的曲线拟合操作所指出的各个初始峰值的方法，所述更简单的曲线拟合操作比如是将光谱与诸如高斯曲线或洛伦兹曲线之类已获峰值的函数进行卷积。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：HJ考尔菲尔德，大卫L弗兰克，詹姆L谢特尔，
申请(专利权)人：创新美国科技有限公司，HJ考尔菲尔德，大卫L弗兰克，詹姆L谢特尔，
类型：发明
国别省市：US[美国]