利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法技术

利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法，它涉及一种对电缆绝缘料中杂质检测的方法，解决了现有技术对电缆绝缘料中杂质检测的分辨率不高、测量速度不高的问题，其步骤为：Ａ测量标定板上已知的不同尺寸的圆形颗粒，Ｂ获得标定板每种尺寸颗粒的像函数序列的宽度，Ｃ解算出ＣＣＤ摄像机上每种尺寸颗粒的像函数解算尺寸；Ｄ确定像函数的解算尺寸和圆形颗粒实际尺寸ａ的对应关系；Ｅ测量超净电缆绝缘料薄带中杂质颗粒的尺寸；Ｆ获得超净电缆绝缘料薄带像函数序列的宽度；Ｇ解算出ＣＣＤ摄像机上杂质颗粒的像函数解算尺寸；Ｈ确定被测超净电缆绝缘料６薄带杂质的实际尺寸。本发明专利技术适用于超高压电缆料及电缆生产和质量检测领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对电缆绝缘料中杂质检测的方法
技术介绍
交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中的杂质颗粒是造成其绝缘失效的重要因素。现代 电缆工业用超净生产的方式防止杂质颗粒进入绝缘材料。为了评价电缆的超净程度，在生 产中制定了严格的绝缘料中杂质颗粒的尺寸和含量标准。例如规定500kV以上电缆绝缘的 XLPE料中每公斤不得有超过50 m的杂质颗粒。在工业生产中，杂质颗粒的检测要有一定 的体积数量和检测频率，结果才具有统计学意义，例如，每生产20吨料作为一个检测批次， 在其中随机抽样3公斤进行杂质检测。在杂质颗粒的检测过程中，并不关心杂质颗粒的几 何形状细节，而对测量分辨率和测量速度有较高要求。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有技术对电缆绝缘料中杂质检测的分辨率不高、测量速度不高的问题，提出一种。 是基于以下装置实现的 利用衍射效应对超净电缆绝缘料中杂质检测的装置由光源、透镜、CCD摄像机、AD 转换卡和计算机组成，光源、透镜、CCD摄像机依次从左至右共轴排列，所述CCD摄像机设置 在透镜的像方焦平面上，CCD摄像机的信号输出端与AD转换卡的模拟信号输入端相连，AD 转换卡的数字信号输本文档来自技高网...

【技术保护点】
利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法，其特征在于它是基于以下装置实现的：利用衍射效应对超净电缆绝缘料中杂质检测的装置由光源（１）、透镜（２）、ＣＣＤ摄像机（３）、ＡＤ转换卡（４）和计算机（５）组成，光源（１）、透镜（２）、ＣＣＤ摄像机（３）依次从左至右共轴排列，所述ＣＣＤ摄像机（３）设置在透镜（２）的像方焦平面上，ＣＣＤ摄像机（３）的信号输出端与ＡＤ转换卡（４）的模拟信号输入端相连，ＡＤ转换卡（４）的数字信号输出端与计算机（５）的信号输入端相连；利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法具体步骤如下：步骤Ａ、将标定板（７）放置在透镜（２）的物方焦平面上，保证标定板（７...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王暄，赵洪，李迎，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]