ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射频功放模块通用测试盒制造技术

本发明专利技术公开了一种涉及ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射频功放模块的通用测试盒，工作时通用测试盒（１０）通过外接测试接口板（２０）可方便的连接各种不同类型的ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射频功放模块（３０），然后使用Ｗｈｉｔｅｂｏｘ（４０）里相应的模块控制指令就可以方便、快捷的实现对模块的控制了。在需要同时研发或生产不同指标要求的ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射频模块（３０）越来越多时，采用通用测试盒（１０）能快捷的实现模块切线、降低测试卡制造成本、缩短测试卡的开发时间，并便于测试卡的保存。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射频功放模块通用测试盒，其特征在于：所述测试盒里的通用测试卡通过与不同的待测模块连接，实现用一张测试卡测试不同类型的模块，其中　　　　所述通用测试卡包括ＭＣＵ（３２０）、ＣＰＬＤ（３３０），所述通用测试卡的ＭＣＵ（３２０）负责与模块和ＰＣ进行通信、解析和执行指令、向ＣＰＬＤ（３３０）下达指令；ＣＰＬＤ（３３０）负责控制模块的逻辑状态、产生采样时钟；ＭＣＵ（３２０）与ＣＰＬＤ（３３０）之间通过８位并行总线进行通信，支持读、写操作；　　　　所述通用测试卡利用ＭＣＵ（３２０）内部的ｆｌａｓｈ空间划分出了区域来存放各种不同类型模块的逻辑控制指令和产品信息。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄文建，
申请(专利权)人：芯通科技成都有限公司，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]