一种射频指标的测试系统技术方案

技术编号:7527126 阅读:281 留言:0更新日期:2012-07-12 07:31
本发明专利技术提供的射频指标的测试系统,包括多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪,用于测试下行信号射频指标;所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接,用于输出上行干扰信号,所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,进而测试上行信号射频指标。通过本发明专利技术能够实现上下行指标同时测试,可以解决TX额定功率下进行block指标测试、排除测试环境对RRU性能的影响以及提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种射频指标的测试系统
本专利技术涉及无线通信设备测试,特别涉及FDD(FrequencyDivisionDuplexing,频分双工)LTE(LongTermEvolution,长期演进)基站的射频指标的测试系统。
技术介绍
基站中的射频单元(RRU)是所有无线通信系统必不可少的部分,其性能优劣影响着整个系统,只有通过测试才能验证其性能是否达到了设计目标。2011年11月3GPP(第三代合作伙伴计划)组织已经通过了FDDLTE上行灵敏度指标和某些阻塞干扰点(下行信号与干扰信号的二次/三次谐波落在上行带内)需要在下行发射E-TM1.1模式下进行测试。实验室灵敏度测试环境如图1,矢量信号发生器产生的上行信号经过衰减器到达天线口,进行灵敏度测试。灵敏度测试的详细过程已在3GPP36.141协议中规定,这里就不再详细说明。阻塞测试环境如图2,矢量信号发生器B端口产生的上行有用信号经过衰减器和环形器到达天线口;矢量信号发生器A端口产生的上行干扰信号经过衰减器和环形器到达天线口,进行阻塞测试。阻塞测试的详细过程已在3GPP36.141协议中规定,这里就不再详细说明。图1和图2是基站下行不输出功本文档来自技高网...
一种射频指标的测试系统

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪,用于测试下行信号射频指标;所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接,用于输出上行干扰信号,所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,进而测试上行信号射频指标。2.如权利要求1所述的系统,其特征在于:所述下行信号射频指标包括:下行信号的功率、矢量误差、占用带宽和频率误差中的一个或多个;所述上行信号射频指标包括:上行信号的灵敏度、动态范围、临道选择性、信道内选择性和互调指标中的一个或多个。3.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、RRU和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,所述信号源的第一输出口直接与所述多工器中的第一带阻滤波器接口连接,用于输出大于预定功率且不落在下行信号频段内的上行干扰信号;所述信号源的第二输出...

【专利技术属性】
技术研发人员:成军平田宏余飞张天鹏刘彬张志锋邵立群
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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