特性阻抗测试系统及方法技术方案

一种特性阻抗测试方法，包括如下步骤：设置测试文档；获取待测零件的位置；将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上待测零件的位置；获取待测零件的特性阻抗；对待测零件的特性阻抗进行分析；生成测试报告并存储。本发明专利技术还提供一种特性阻抗测试系统。利用本发明专利技术可以自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试系统及方法，尤其是一种。
技术介绍
随着电子科学技术的发展，印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB)已成为各 种电器设备(如计算机)不可缺少的重要组成部分。由于印刷电路板的电路中传递有超高 频率的微波信号，若要保证印刷电路板在使用时的可靠性，就必须在出厂时对其零件的特 性阻抗进行检测。所述特性阻抗是指如果零件(如信号线)无限长所具有的阻抗，单 位为 欧姆。以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作，由于检测的范围广、功能多，因 此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳动强度大，工作效率低，而且容易产生人为错误，检 测的数据也不易管理。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种特性阻抗测试系统，其可自动测试印刷电路板上 零件的特性阻抗。鉴于以上内容，还有必要提供一种特性阻抗测试方法，其可自动测试印刷电路板 上零件的特性阻抗。一种特性阻抗测试系统，运行于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑 和时域反射仪相连，该系统包括文档设置模块，用于设置不同类型的印刷电路板的测试文 档，所述测试文档包括待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值 及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件 在印刷电路板中的坐标位置；探针定位模块，用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位 置向控制电脑发出探针定位指令，由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针 抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；所述探针定位模块，还用 于判断探针定位是否准确；所述测试电脑还包括信号测试模块，用于当探针定位准确时， 获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗；所述信号测试模块，还用于根据设定的待 测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是 否在设定的标准值范围内；所述信号测试模块，还用于生成测试报告，并将该测试报告存储 在设定的测试结果存储路径中。—种特性阻抗测试方法，应用于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑 和时域反射仪相连，该方法包括如下步骤于测试电脑中设置不同类型的印刷电路板的测 试文档，所述测试文档包括待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标 准值及测试结果存储路径；当测试开始时，测试电脑从所述测试文档中获取待测零件在印 刷电路板中的坐标位置；测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，通过交换机 向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；当探针定位准确时，时域反射仪 通过交换机将采集到的待测零件的特性阻抗返回至测试电脑；测试电脑根据设定的待测零 件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在 设定的标准值范围内；测试电脑生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存 储路径中。相较于现有技术，所述的，可以自动测试印刷电路板上 零件的特性阻抗，避免了人工作业的错误发生，提高了测试的可靠度及效率。附图说明图1是本专利技术特性阻抗测试系统较佳实施例的硬件架构图。图2是图1中所示特性阻抗测试系统的功能模块图。图3是本专利技术特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。具体实施例方式如图1所示，是本专利技术特性阻抗测试系统较佳实施例的系统架构图，该特性阻抗 测试20系统运行于测试电脑2中。其中，所述测试电脑2通过交换机4与控制电脑1和时 域反射仪3相连，所述控制电脑1与机械手臂5相连。所述机械手臂5上安装有探针抓取 装置50，该探针抓取装置50用于抓取时域反射仪3的探针。所述印刷电路板6放置于测试 机台7上，在其它实施例中，所述印刷电路板6也可以用其它电子设备替代。当测试开始后，特性阻抗测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令，所述控制 电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定 位到印刷电路板6上的待测零件。然后，时域反射仪3将测试到的数据通过交换机4返回 至测试电脑2。测试电脑2中的特性阻抗测试系统20对该测试数据进行分析处理。如图2所示，是图1中所示特性阻抗测试系统20的功能模块图。所述特性阻抗测 试系统20包括文档设置模块201、参数获取模块202、探针定位模块203和信号测试模块 204。本专利技术所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计 算机中的执行过程，因此在本专利技术以下对软件描述中都以模块描述。其中，所述文档设置模块201用于设置不同类型的印刷电路板6的测试文档，并将 该测试文档存储在测试电脑2的存储器中(如硬盘)。所述测试文档中包括待测零件在印 刷电路板6中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径等。用户可以 根据印刷电路板6的类型在所述测试文档中增加、修改或删除待测零件的种类和数量。在 本实施例中，以测试印刷电路板6上一个零件的特性阻抗为例进行说明。所述参数获取模块202用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件在印 刷电路板6中的坐标位置。所述探针定位模块203用于根据待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，计算出 该待测零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包 括待测零件到原点的偏移量。在本实施例中，以印刷电路板6的中心为原点建立坐标系，探 针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的待测零件。假设待测零件在印刷电路板6中的坐 标位置为(10，12)，单位为毫米(mm)，则待测零件到原点的X轴偏移量为10毫米，Y轴偏移 量为12毫米。当控制电脑1接收到探针定位模块203发送过来的探针定位指令后，控制机 械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针沿X轴正方向移动10毫米，沿Y轴正 方向移动12毫米，定位到待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。待测零件在坐标系中的 Z轴坐标为零，控制电脑1将根据探针抓取装置50相对于待测零件的高度控制时域反射仪 3的探针沿Z轴方向移动。所述探针定位模块203还用于判断探针定位是否准确。在本实施例中，如果测试 电脑在设定的时间内(如5秒钟)接收到时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗，则探 针定位模块203判断探针定位准确；如果测试电脑在设定的时间内没有接收到时域反射仪 采集到的待测零件的特性阻抗，则探针定位模块203判断探针定位不准确，并输出定位失 败信息，结束测试。在其它实施例中，所述文档设置模块201还可以用于在测试文档中设定探针定位 失败后，重新定位的次数及每次定位移动的方向。所述探针定位模块203还用于在探针定位不准确时，重新计算待测零件在印刷电 路板6中的坐标位置，并向控制电脑1发出探针定位指令。所述控制电脑1根据该探针定 位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到该重新计算得到 的坐标位置。其中，该探针定位指令包括重新计算得到的待测零件在印刷电路板6中的坐 标位置。在本实施例中，探针定位模块203重新计算待测零件在印刷电路板6中的坐标位 置是指探针定位模块203以待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种特性阻抗测试系统，运行于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连，其特征在于，该系统包括：文档设置模块，用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档，所述测试文档包括：待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置；探针定位模块，用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令，由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；所述探针定位模块，还用于判断探针定位是否准确；所述测试电脑还包括：信号测试模块，用于当探针定位准确时，获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗；所述信号测试模块，还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内；及所述信号测试模块，还用于生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁献全，李昇军，陈永杰，许寿国，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]