【技术实现步骤摘要】
本分明涉及,更具体地说,涉及使用多 个照明和滤光器交替地扫描测量对象物的 一侧和另 一侧以能够去除在 测量三维形状时产生的影子区域的。
技术介绍
下面,利用附有三维形状测量装置的图IO进行说明。 图IO所示的三维形状测量装置包括投影装置10、成像装置20、 控制装置30和位移测量装置40。下面,概略地说明各结构。投影装置IO具有光栅(图中未示出),从投影装置IO产生的光透 过光栅投影在测量物0的一侧。在通过格紋图案的光被照射在测量物 O的一侧时,由成像装置20对其进行摄像。成像装置20对通过投影 在测量物0上的光来形成的图像进行摄像,并将其传送给控制装置30, 位移测量装置40对从成像装置20至测量物O的隔离距离的位移进行 测量,将其传送给控制装置30。控制装置30利用从位移测量装置40 传送的位移信息计算从成像装置20至测量物O的位移距离,并利用 从成像装置20传送的图像计算高度,利用计算出的高度信息测定测量 物O的三维形状。
技术实现思路
但是,上述的现有技术的三维形状测量装置由于仅在测量物的一 侧上透射光以获得图像,所以在另一侧产生影子,因此具有不能正确 地测 ...
【技术保护点】
一种三维形状测量装置,其特征在于,包括: XY台,其中安装有衬底部件,所述衬底部件形成有多个识别标志; 投影部,包括:发光的第一、第二照明;多个投影透镜,设置在所述第一、第二照明一侧;光栅板,设置在所述第一、第二照明和所述多个投 影透镜之间,形成有多个光栅;投影部移送装置,用来将所述光栅板朝向与从所述第一、第二照明产生的光的照射方向垂直的方向移动; 光路变换器,包括:多个反射镜,设置在所述投影部的一侧,相互隔开一定的间隔;第一、第二滤光器,分别设置在所述多个反 射镜的下侧,对经过多个反射镜的光的特性进行调节而进行光的透射;第三照明,设置在所述 ...
【技术特征摘要】
2005.12.14 KR 10-2005-0123409;2005.12.14 KR 10-2001.一种三维形状测量装置,其特征在于,包括XY台,其中安装有衬底部件,所述衬底部件形成有多个识别标志;投影部,包括发光的第一、第二照明;多个投影透镜,设置在所述第一、第二照明一侧;光栅板,设置在所述第一、第二照明和所述多个投影透镜之间,形成有多个光栅;投影部移送装置,用来将所...
【专利技术属性】
技术研发人员:高光一,成银莹,全文荣,金珉永,李承埈,
申请(专利权)人:株式会社高永科技,
类型:发明
国别省市:KR
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