三维形状测量方法技术

本发明专利技术涉及三维形状测量方法，当检查对象物不处于正常检查模式的场合，在有裸板信息的板时通过数据库检索裸板信息、在由没有裸板信息的供应厂商供应的板的场合通过裸板学习来测量板的三维形状。本发明专利技术的三维形状测量方法包括以下步骤：测量第一照明源（４１ａ）的亮度、测量将相位变换成高度的因数、确认测量作业是否为正常检查模式、测量与正常检查模式相应的板（６２）的三维形状、确认有没有关于板的裸板信息、在没有裸板信息的情况下实施裸板学习、当裸板信息存在或产生裸板学习信息时测量与学习检查模式相应的板的目标对象物的三维形状、使用三维形状信息来分析板是否正常。由此，更易于实施板的三维形状测量作业。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，更具体地说，涉及下述测量方法， 即，在检查对象物不处于正常检查模式中，在有棵板信息的板时通过DB( Date Base:数据库)检索棵板信息，在由无棵板信息的供应厂商 供应的板时通过棵板(bare board)学习，能够测量板的目标对象物 (target obj ect)的三维形状。
技术介绍
现有技术的如图9所示，为了测量三维形状， 为了获得相应于基准面的基准相位，将产生自照明源(图中未示出) 的光照射到光栅装置(图中未示出)，使光栅图案照明照射到基准面 (SIO)。在将光栅图案照明照射到基准面时，按照能够利用相移算法 (bucket algorithm )的方式4吏用PZT ;敫厉力器(Piezoelectric Actuator: 压电激励器，图中未示出)以微小间隔移送光栅同时照射到基准面， 并通过CCD摄影机(图中未示出)和图像板(图中未示出)获得光栅 图案图像(Sll)。当由图像板获得光栅图案图像时，对光栅图案图像 适用相移算法(S12)，以获得相对于基准面的基准相位(S13)。当获得与基准面相应的基准相位时，为了获得与检查对象相应的 物体相位，首先将检查本文档来自技高网...

【技术保护点】
三维形状测量方法，包括下述步骤：　由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量第一照明源的亮度；　当所述第一照明源的亮度测量结束时，由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量将相位变换为高度的因数；　当所述第一照明源 的亮度和将所述相位变换为高度的因数被测量时，由中央控制部确认测量作业是否为正常检查模式；　当在确认是否为所述正常检查模式的步骤中确认为正常检查模式时，由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量基于正常检查模式的板的目标对象物的三维 形状；　当在确认是否为所述正常检查模式的步骤中确认为不是正常检查模式时，由中央控制部检索数据库以...

【技术特征摘要】
KR 2006-1-26 10-2006-0008479;KR 2006-1-26 10-2006-1.三维形状测量方法，包括下述步骤由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量第一照明源的亮度；当所述第一照明源的亮度测量结束时，由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量将相位变换为高度的因数；当所述第一照明源的亮度和将所述相位变换为高度的因数被测量时，由中央控制部确认测量作业是否为正常检查模式；当在确认是否为所述正常检查模式的步骤中确认为正常检查模式时，由中央控制部控制模块控制部和图像获取部，以测量基于正常检查模式的...

【专利技术属性】
技术研发人员：金珉永，金熙泰，俞炳敏，韩世铉，李承埈，
申请(专利权)人：株式会社高永科技，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]